教材和参考资料 冬教材 -雷绍充，邵志标，梁峰，《超大规模集成电路测试》，电子工业出 版社2008.5 -在线教材网址： >https://www.keledge.com/wrap/details/book?id=193571 ?参考资料 -VLSI Test Principles and Architectures),L.T.Wang,C.W. Wu,and X.Wen,Morgan Kaufmann,2006. Digital Systems Testing and Testable Design>, M.Abramovici,M.A.Breuer,A.D.Friedman,Computer Science Press,1995 Testing of Digital Systems),Niraj,Sandeep Gupta, Cambridge University Press,2003 。软件 VCS,DFT Compiler,TetraMax 2020/9/4 集成电路可测性设计 2
2020/9/4 集成电路可测性设计 2 教材和参考资料 教材 雷绍充，邵志标，梁峰，《超大规模集成电路测试》，电子工业出 版社 2008.5 在线教材网址： https://www.keledge.com/wrap/details/book?id=193571 参考资料 《VLSI Test Principles and Architectures》, L.T. Wang, C.W. Wu, and X. Wen, Morgan Kaufmann, 2006. 《Digital Systems Testing and Testable Design》， M.Abramovici, M.A.Breuer, A.D.Friedman，Computer Science Press，1995 《Testing of Digital Systems》，Niraj，Sandeep Gupta， Cambridge University Press，2003 软件 VCS，DFT Compiler，TetraMax
司外大华花秀教材一黄 超大规模 数字系统测甘 集成电路测试 和可测性设 窗提克那忠标单峰。编酒 TE VLSI TES DESION FOR PRINCIPLES TESTABILITY ARCHITECTU AM LAUND-TERNO WANG CHENO-WEN WUX 鸟独酷 2020/9/4 集成电路可测性设计 3
2020/9/4 集成电路可测性设计 3
EDA/DFT技术相关网站 1C设计及制造（伴号体、微电子到 芯知乎微电子杂谈】 FPGA|ASIC|IC前端设计论坛 Analog/RFIC设计(44 后端设计(39) 主题：200，帖数：1496 FPGA 40 主题：6万，帖傲：147万 主题：2万，帖傲：29万 最后发表：昨天18：39 主题：5万，帖数：92万 最后发表：10分钟前 最后发表：1分钟前 最后发表：8分钟前 IC测试与可测性(3) 1C验证(12 MEMS(微机电系统)(1) S0C设计论坛（⑤） 主题：1310，帖数：2万 主题：7767，帖数：13万 主题：335，帖数：4769 主题：1842，帖擞：3万 最后发表：1小时前 最后发表：2小时前 最后发表：2小时前 最后发表：3小时崩 Analog Layout(版图)（⑦ 脚本语言(script)学习交流(6) 集成电路生产/封装/工艺3) ESD/EoS和atchup(花片级) 主题：6167，帖数：7万 主题：1512，帖傲：2万 主题：1766，数：2万 主题：484，帖傲：8888 最后发表：1小时前 最后发表：半小时前 最后发表：3小时前 最后发表：昨天07：02 开源CPU设计(Risc- 通信C设计及开源通信算法 封装设计(1) 半导体新材料 v,0 penMips等)(7) 主题：178，帖数：2689 主题：189，帖数：2044 主题：195，帖数：1670 主题：3612，帖数：8万 最后发表：4天前 最后发表：3小时前 最后发表：前天18：38 最后发表：半小时前 4
EDA/DFT技术相关网站 www.eetop.cn/bbs www.edaboard.com www.fpga.com.cn www.edaclub.com www.edachina.com 4
章节安排 1、概述(2学时) 2、电路测试基础(2学时) ÷3、验证、模拟和仿真(4学时) 4、自动测试生成(2学时) 5、专用可测性设计(2学时) ÷6、扫描设计（2-3学时) 。7、边界扫描法(2-3学时) 8、随机测试和伪随机测试（2学时) 主要以教科书为参考 名 9、内建自测试（2-3学时) 增加新的内容 10、电流测试(2学时) 强调实用性 11、存储器测试(2-3学时) 12、SoC测试(2学时) 13、处理器的测试(2) 2020/9/4 集成电路可测性设计 6
2020/9/4 集成电路可测性设计 6 章节安排 1、概述(2学时) 2、电路测试基础（2学时） 3、验证、模拟和仿真（4学时） 4、自动测试生成（2学时） 5、专用可测性设计（2学时） 6、扫描设计（2-3学时） 7、边界扫描法（2-3学时） 8、随机测试和伪随机测试（2学时） 9、内建自测试（2-3学时） 10、电流测试（2学时） 11、存储器测试（2-3学时） 12、SoC测试（2学时） 13、处理器的测试（2） 主要以教科书为参考 增加新的内容 强调实用性
第一章概述 包子件皮女学 1966 University of Electronic Science and Technology of China
第一章 概述