IEEE P1500 嵌入式核可测性标准
IEEE P1500 嵌入式核可测性标准
主要内容 一、EEEP1500嵌入式核可测性标准 二、SoC测试生成
主要内容 一、IEEE P1500嵌入式核可测性标准 二、SoC测试生成
第一部分 IEEE P1500 嵌入式核可测性标准
第一部分 IEEE P1500 嵌入式核可测性标准
SoC测试标准的核心问题 IEEP1500测弑标准核心问题是： 建立标准测试模型接口，使得嵌入式核和系统环境之间能进行 测试信息（包括嵌入式核本身的测试矢量）传递； ·制定测试界面的存取(access)與隔断(isolation)機制，使得测 試向量與程序可重用，並提供系統晶片間連線及DL的测試； 。设计一種可用來描述P1500的测試架搆與核心電路的测試描述語 言(Core Testlanguage-一CTL),期望能將符合IEEE P1500標 準的核以即插即用(plug-and-play)方式整合於SoC中。 满足这些要求就使得嵌入式核设计商和系统集成商之间能通过嵌 入式核测试语言描述的标准接口模型进行信息传递，使得测试可以 重用，既提高了测试的效率，也保护了嵌入式核提供商的知识产权 不受侵犯
SoC测试标准的核心问题 IEEE P1500 測試标准核心问题是： 建立标准测试模型接口，使得嵌入式核和系统环境之间能进行 测试信息（包括嵌入式核本身的测试矢量）传递； 制定测试界面的存取(access)與隔斷(isolation)機制，使得測 試向量與程序可重用，並提供系統晶片間連線及UDL的測試； 设计一種可用來描述P1500的測試架構與核心電路的測試描述語 言 (Core TestLanguage——CTL )，期望能將符合IEEE P1500標 準的核以即插即用（plug-and-play）方式整合於SoC中。 满足这些要求就使得嵌入式核设计商和系统集成商之间能通过嵌 入式核测试语言描述的标准接口模型进行信息传递，使得测试可以 重用，既提高了测试的效率，也保护了嵌入式核提供商的知识产权 不受侵犯
IEEE P1500测试标准的解决办法 IEEE P1500工作组提出的结构化的测试标准解决了： 如何通过SoC上的边界扫描机制访问嵌入式核上的边界扫描单 元 如何对每个单独的核进行测试； ● 如何进行核间连接的测试； ● 如何测试S0C上的其他模块，如存储器、用户定义逻辑模块 (UDL一user defined logic),以及模拟模块等； ● 如何在核的不同的模式（正常、核测试，其他模块测试、连接 测试和隔离等)之间进行切换。 主要内容包括：1)可变规模的可测性标准硬件结构： 2)测试描述语言CTL(Core Test Language)
IEEE P1500 测试标准的解决办法 IEEE P1500工作组提出的结构化的测试标准解决了： 如何通过SoC上的边界扫描机制访问嵌入式核上的边界扫描单 元; 如何对每个单独的核进行测试; 如何进行核间连接的测试; 如何测试SoC上的其他模块,如存储器、用户定义逻辑模块 (UDL——user defined logic )，以及模拟模块等； 如何在核的不同的模式（正常、核测试，其他模块测试、连接 测试和隔离等）之间进行切换。 主要内容包括：1）可变规模的可测性标准硬件结构； 2）测试描述语言CTL(Core Test Language)