Synopsys?验证平台 Debug,Planning Coverage Virtual Static Simulation Emulation Prototyping Prototyping Formal VIP Models Databases 2020/9/4 集成电路可测性设计 7
Synopsys验证平台 2020/9/4 集成电路可测性设计 7
生产测试的形式 TEST VECTORS MANUFACTURED CIRCUIT CIRCUIT RESPONSE CORRECT COMPARATOR PASS/FAIL RESPONSES
TEST VECTORS MANUFACTURED CIRCUIT COMPARATOR CIRCUIT RESPONSE PASS/FAIL CORRECT RESPONSES 生产测试的形式
ATE 功能 1ΠΠΠΠΠΠ DC/AC参数 E CPU I/0 AS-DSP 控制器 内核 ATE 通道 测试头 解码器 测试访问机制 > UDL 存储器 控制器TAM 存储器 专用IP 内嵌 SRAM 2020/9/4 集成电路可测性设计 9
2020/9/4 集成电路可测性设计 9 ATE SOC 解 码 器 测试访问机制 控制器TAM CPU I/O 控制器 AS-DSP 内核 存储器 内嵌 SRAM 专用IP UDL 测 试 头 ATE 通道 存储器 功能 DC/AC 参数
测试是过滤过程 好芯片 Prob(通过测试)=高 大多数 好 Prob(好)=y Prob(未通 测试)=低 芯片 制造的 芯片 Prob(通过 测试)=低 有缺陷的芯片 大多数 坏 Prob(坏)=1-y Prob(未通过测试)=高 芯片 2020/914 集成电路可测性设计 10
2020/9/4 集成电路可测性设计 10 测试是过滤过程 制造的 芯片 好芯片 有缺陷的芯片 Prob(好) = y Prob(坏) = 1- y Prob(通过测试) = 高 Prob(未通过测试) =高 大多数 好 芯片 大多数 坏 芯片
测试和质量 Shipped Parts ASIC Fabrication Yield: Testing Quality: Fraction of Defective parts good parts per million(DPM) Rejects Quality of shipped part is a function of yield Y and the test (fault)coverage T
ASIC Fabrication Testing Yield: Fraction of good parts Rejects Shipped Parts Quality: Defective parts per million (DPM) * Quality of shipped part is a function of yield Y and the test (fault) coverage T. 测试和质量