1+1.59S迟后校正网络传递函数为：Gc(S)=1+10.34S开环一幅纷特性期望校正后穿越频率oc00Aeds16.67dB穿越须率：6, 31rad/0, 00 rad/sTVEEax比例100a//屏比10/格开午-相缆得性期望校正后30相位裕度YAedk31rad/5-124.78desVNEE8x比0100-rad//屏比30-度/格图1-3-17系统校正后期望穿越频率串联迟后校正系统的频域特性的测试4串联迟后校正系统频域特性测试的模拟电路图见图1-3-9。101+1.59S图1-3-18串联迟后超前校正后系统的传递函数为：G(S)=1+10.34S0.2S(1 +0.IS)R2.100K200K正弦波R(t)20KB3ClluADIN1 c2 pulR1B1 OUT1H1 200KAA1NA10AO"C(t)OOUTHI1200KNA2R3ΛA3CH2H2OUT10K20KOUT200KH1OUTHI875KR4NA12IA11 0-R5R4R5为可变电阻OUT160K+C3为A11电容H+C310uT校正网络！IGNDO图1-3-9串联迟后校正系统频域特性测试的模拟电路图?0999.9Koum国neS875KOO0COOO15图1-3-10校正网络（部分）连线示意图实验内容及步骤（1）构造模拟电路：按图1-3-9、图1-3-10安置短路套及插孔连线，表如下。（a）安置短路套（b）插孔连线16
16 迟后校正网络传递函数为： 1 10.34S 1 1.59S G ( S ) C + + = 图 1-3-17 系统校正后期望穿越频率 4．串联迟后校正系统的频域特性的测试 串联迟后校正系统频域特性测试的模拟电路图见图 1-3-9。 图 1-3-18 串联迟后超前校正后系统的传递函数为： 0.2S(1 0.1S) 10 1 10.34S 1 1.59S G( S ) + + + = 图 1-3-9 串联迟后校正系统频域特性测试的模拟电路图 图 1-3-10 校正网络（部分）连线示意图 实验内容及步骤 （1）构造模拟电路：按图 1-3-9、图 1-3-10 安置短路套及插孔连线，表如下。 （a）安置短路套 （b）插孔连线 -L（ωc’） 期望校正后 相位裕度γ 期望校正后 穿越频率ωc
信号输入BI(OUT1)→AI(HI)1模块号跨接座号2跨接元件元件库A11中可变电阻跨接到1A1S4,S83(875K)A1（OUT）和A12（H+）之间2A2S4,S114跨接元件元件库A11中可变电阻和10u电容串3A3S1, S8,S115(160K+10u)联后跨接到A12（H+）和GND之间4A12[ s16运放级联A12 (OUT)→A2 (H1)7运放级联A2 (OUT) →A3 (H1)8运放级联A3 (OUT)→A10 (H1)9负反馈A3 (OUT) →A1 (H2)10频域特性测试A10 (OUT)→B3（ADIN)11A10（OUT）→B2（CH2)示波器联接（2）运行、观察、记录：选择频域法串联迟后校正／迟后校正后频域测试，运行同《2.未校正系统的频域特性的测试》。在开环对数幅频曲线中，移动L标尺线到曲线L(の)=0处，再移动の标尺到曲线与L(の)=0相交处，从曲线图左下角读出の=6.29rad/s，从开环对数相频曲线中，移动β标尺线到の标尺线与曲线相交处，从曲线图左下角可读出该角频率的=127.8°，计算出相位裕度=180°-127.8°=52.2°。详见123节《二阶开环系统的频率特性曲线》。测得串联迟后校正后系统的频域特性：穿越频率c=6.17rad/s相位裕度=：52°测试结果表明基本符合设计要求。5.串联迟后校正系统的时域特性的测试串联迟后校正后系统时域特性测试的模拟电路图见图1-3-11，与图1-3-18比较，该图只是减少了A10（OUT）→B3（ADIN）插孔连线，其余均相同。矩形波R(t)R2_100K200KUi=2.5V20KCluC21R1B1OUT1HI 200KNA1NA10C(t)OUTHI200KR3AA2AA3CHDOUTCHZOUTH210K20K200KH1OUT HI-S1875KR4NA12LA110R5R4R5为可变电阻OUT160KXC3为A11电容HC310uIGNDO图 1-3-11串联迟后校正系统时域特性测试的模拟电路图实验内容及步骤(1)构造模拟电路：（略）（2）运行、观察、记录：选择频域法串联迟后校正/迟后校正后时域测试，运行同《1、未校正系统时域特性的测试》，移动游标测量其超调量、峰值时间及调节时间，测得时域特性：超调量Mp=20.4%峰值时间tp=0.47S测试结果表明基本符合设计要求。1.3.3时域法串联比例微分校正1.观测被控系统的时域曲线，按“校正后系统的超调量Mp"要求，设计校正参数，构建校正后系统。2.观测校正后的时域特性曲线，亚测量校正后系统的超调量Mp、峰值时间tP。3．按“校正后系统的超调量Mp不同要求,自行设计校正参数，构建校正后系统，观察校正前、后的时域特性曲线，亚测量校正后系统的超调量Mp，峰值时间tp。1，未校正系统的时域特性的测试17
17 （2）运行、观察、记录： 选择频域法串联迟后校正／迟后校正后频域测试，运行同《2．未校正系统的频域特性的测试》。 在开环对数幅频曲线中，移动 L 标尺线到曲线 L() = 0 处，再移动 标尺到曲线与 L() = 0 相交 处，从曲线图左下角读出 rad s c = 6.29 / ，从开环对数相频曲线中，移动 标尺线到 标尺线与曲线 相交处，从曲线图左下角可读出该角频率的 =127.8 ，计算出相位裕度 =180 −127.8 = 52.2 。 详见 1.2.3 节《二阶开环系统的频率特性曲线》。 测得串联迟后校正后系统的频域特性： 穿越频率 ωc= 6.17 rad/s 相位裕度 γ= 52° 测试结果表明基本符合设计要求。 5． 串联迟后校正系统的时域特性的测试 串联迟后校正后系统时域特性测试的模拟电路图见图 1-3-11，与图 1-3-18 比较，该图只是减少了 A10（OUT）→B3（ADIN）插孔连线，其余均相同。 图 1-3-11 串联迟后校正系统时域特性测试的模拟电路图 实验内容及步骤 （1） 构造模拟电路：（略） （2） 运行、观察、记录： 选择频域法串联迟后校正／迟后校正后时域测试，运行同《1、未校正系统时域特性的测试》，移动 游标测量其超调量、峰值时间及调节时间，测得时域特性： 超调量 Mp=20.4 % 峰值时间 tp=0.47S 测试结果表明基本符合设计要求。 1.3.3 时域法串联比例微分校正 1．观测被控系统的时域曲线，按“校正后系统的超调量 Mp”要求,设计校正参数，构建校正后系统。 2．观测校正后的时域特性曲线，並测量校正后系统的超调量 Mp、峰值时间 tP。 3．按“校正后系统的超调量 Mp 不同要求,自行设计校正参数，构建校正后系统，观察校正前、后的 时域特性曲线，並测量校正后系统的超调量 Mp，峰值时间 tP。 1．未校正系统的时域特性的测试 1 信号输入 B1（OUT1）→A1（H1） 2 3 跨接元件 （875K） 元件库 A11 中可变电阻跨接到 A1（OUT）和 A12（H+）之间 4 5 跨接元件 （160K+10u） 元件库 A11 中可变电阻和 10u 电容串 联后跨接到 A12（H+）和 GND 之间 6 运放级联 A12（OUT）→A2（H1） 7 运放级联 A2（OUT）→A3（H1） 8 运放级联 A3（OUT）→A10（H1） 9 负反馈 A3（OUT）→A1（H2） 10 频域特性测试 A10（OUT）→B3（ADIN） 11 示波器联接 A10（OUT）→B2（CH2） 模块号 跨接座号 1 A1 S4，S8 2 A2 S4，S11 3 A3 S1，S8，S11 4 A12 S1
未校正系统模拟电路图见图1-3-12，观察被测系统的时域特性。6图1-3-12未校正系统的开环传递函数为：G(S)=0.2S(I + 0.3S)R2 300K矩形波R(t)200K20KUi=2.5VClluB1OUT1HI200KR1NA1A10Ct)200KR3A2NA6CHDOUTCH2H250KOUT20KOUTHI200KHOUT HI图1-3-12未校正系统模拟电路图实验内容及步骤（1）构造模拟电路：按图1-3-12安置短路套及插孔连线，表如下：（a）安置短路套（b）插孔连线模块号跨接座号1信号输入BI(OUTI)→AI(HI)A1S4, S821运放级联A1(OUT)-→A2(HI)2A2S4, S113运放级联A2 (OUT)→A6(H1)3A6S3,S8,S104负反馈A6（OUT)→A1 (H2)5运放级联A6 (OUT)→A10(H1)6示波器联接A10（OUT)→B2 (CH2)（2）运行、观察、记录：选择时域法串联比例微分校正／微分校正前时域测试，确认信号参数默认值后，点击《下载》、《开始》键后，实验运行。实验停止后，移动游标测量其超调量、峰值时间及调节时间。在未校正系统的时域特性特性曲线上可测得时域特性：超调量Mp=59%峰值时间tp=计算得のn=10=0.16670.336S2.串接入比例微分校正后系统的时域特性的测试比例-微分校正网络的设计：①按Mp≤25%要求进行计算，可得到：Ed≥0.4，可得到：Td≥0.0467②取Td=0.05，再令Kd=1，C3=1u，R4=50K），可得到：R5=50K，校正后系统模拟电路见图1-3-13，观察校正后系统的时域特性。6校正后系统的开环传递函数为：G(S)=×(I+0.05S)0.2S(I +0.3S)矩形波R(t)200KR2.300K校正Ui=2.5V20KCllu网络B1OUT1HI 200KNA1R1:R3A7sPNA9200KN50KIAA650KOUTCHH220KOUT20KOUTHIOUTIHIOUTHI200ROUTHIT图1-3-13串接入比例-微分校正后系统实验内容及步骤（1）构造模拟电路：按图1-3-13安置短路套及插孔连线，表如下：（a）安置短路套（b）插孔连线模块号跨接座号1信号输入BI (OUT1)-→A1 (HI)2A1S4, S8运放级联1AI (OUT) →A2 (HI)23A2S4, S11运放级联A2（OUT)→A9（HI)3A6.4运放级联S3,S8,S10A9 (OUT)→A7 (H1)45运放级联A7A7 (OUT)→A6 (H1)3, S1, S10, SP6运放级联A6 (OUT)→A10 (HI)负反馈7A6 (OUT)→A1 (H2)8示波器联接A10(OUT)→B2 (CH2)（2）运行、观察、记录：18
18 未校正系统模拟电路图见图 1-3-12，观察被测系统的时域特性。 图 1-3-12 未校正系统的开环传递函数为： 0.2S(1 0.3S) 6 G( S ) + = 图 1-3-12 未校正系统模拟电路图 实验内容及步骤 （1）构造模拟电路：按图 1-3-12 安置短路套及插孔连线，表如下： （a）安置短路套 （b）插孔连线 模块号 跨接座号 1 A1 S4，S8 2 A2 S4，S11 3 A6 S3，S8，S10 （2）运行、观察、记录： 选择时域法串联比例微分校正／微分校正前时域测试，确认信号参数默认值后，点击《下载》、《开 始》键后，实验运行。实验停止后，移动游标测量其超调量、峰值时间及调节时间。 在未校正系统的时域特性特性曲线上可测得时域特性： 超调量 Mp= 59% 峰值时间 tp= 0.336S 计算得 ωn=10 ξ=0.1667 2．串接入比例微分校正后系统的时域特性的测试 比例-微分校正网络的设计： ① 按 Mp≤25% 要求进行计算，可得到：ξd ≥0.4，可得到：Td≥0.0467 ② 取 Td=0.05，再令 Kd=1，C3=1u，R4=50K），可得到： R5=50K， 校正后系统模拟电路见图 1-3-13，观察校正后系统的时域特性。 校正后系统的开环传递函数为： (1 0.05S) 0.2S(1 0.3S) 6 G( S ) + + = 图 1-3-13 串接入比例-微分校正后系统 实验内容及步骤 （1） 构造模拟电路：按图 1-3-13 安置短路套及插孔连线，表如下： （a）安置短路套 （b）插孔连线 （2） 运行、观察、记录： 1 信号输入 B1（OUT1）→A1（H1） 2 运放级联 A1（OUT）→A2（H1） 3 运放级联 A2（OUT）→A6（H1） 4 负反馈 A6（OUT）→A1（H2） 5 运放级联 A6（OUT）→A10（H1） 6 示波器联接 A10（OUT）→B2（CH2） 模块号 跨接座号 1 A1 S4，S8 2 A2 S4，S11 3 A6 S3，S8，S10 4 A7 S3，S1，S10，SP 1 信号输入 B1（OUT1）→A1（H1） 2 运放级联 A1（OUT）→A2（H1） 3 运放级联 A2（OUT）→A9（H1） 4 运放级联 A9（OUT）→A7（H1） 5 运放级联 A7（OUT）→ A6（H1） 6 运放级联 A6（OUT）→ A10（H1） 7 负反馈 A6（OUT）→ A1（H2） 8 示波器联接 A10（OUT）→B2（CH2）
选择串联比例微分校正／微分校正后时域测试，运行同《1、未校正系统时域特性的测试》，移动游标测量其超调量、峰值时间及调节时间，测得时域特性：超调量Mp=28%峰值时间tp=0.3S测试结果表明基本符合设计要求。1.3.4时域法局部比例反馈校正1.观测被控系统的时域曲线，按校正后系统的超调量Mp"要求，设计校正参数，构建校正后系统。2.观测校正后的时域特性曲线，亚测量校正后系统的超调量Mp、峰值时间tP。3.按“校正后系统的超调量Mp”不同要求，自行设计校正参数，构建校正后系统，观察校正前、后的时域特性曲线，测量校正后系统的超调量Mp，峰值时间tP。1.未校正系统的时域特性的测试未校正系统模拟电路图见图1-3-14，观察被测系统的时域特性。矩形波R(t)F2_300K200KUi=2.5V20FNA1R1.B1 OUT1HI 200KNA10C(t)200元N42R3TNA6CHDOUTCHZH250KOUT20KOUTHIH1200KOUTHI图1-3-14未校正系统模拟电路图6图1-3-14未校正系统的开环传递函数为：G(S)=0.2S(1+0.3S)模拟电路的各环节参数：积分环节（A2元）的积分时间常数Ti=R1*CI=0.2S，惯性环节（A6单元）的惯性时间常数T-R2*C2=0.3S，开环增益K=R2/R3=6。实验内容及步骤（1）构造模拟电路：按图1-3-14安置短路套及插孔连线，表如下。（a）安置短路套（b）插孔连线模块号跨接座号1信号输入BI(OUTI)→AI (HI)1A1IS4, S82运放级联AI (OUT)→A2 (H1)2A2S4, S113运放级联A2 (OUT)→A6(H1)3A6IS3,S8,S104负反馈A6(OUT)→A1 (H2)5运放级联A6(OUT)→A10(HI)6示波器联接「A10（OUT）→B2(CH2)（2）运行、观察、记录：选择时域法局部比例反馈校正/比例反馈校正前时域测试，确认信号参数默认值后，点击《下载》《开始》键后，实验运行。实验停止后，移动游标测量其超调量、峰值时间及调节时间。在未校正系统的时域特性特性曲线上可测得时域特性：峰值时间tp=：0.336S超调量Mp=59%计算得0n=10=0.167672.比例反馈包围惯性环节校正网络的设计对图1-3-14未校正系统模拟电路图中，用比例反馈包围惯性环节校正后的系统模拟电路见图1-3-15。图中运放A2组成比例反馈网络，由它包围惯性环节，R7/R4为比例系数：运放A7作为提高未包围部分的增益，用来补偿由于比例反馈校正后，系统的开环增益降低部分。提高的增益为：K=KK。=R6-R5①要求设计校正装置，使控制系统满足下述性能指标：超调量Mp≤25%。②按超调量Mp≤25%计算，可得到校正后系统的阻尼比≥0.4。③按图1-3-14的被校正对象积分时间常数Ti=0.2S，开环增益K=6，新惯性环节G。(S)时间常数为Ta，按标准二阶系统阻尼比的计算式：5-a可得到新惯性环节G。(S)时间常数T。=0.052。19
19 选择串联比例微分校正／微分校正后时域测试，运行同《1、未校正系统时域特性的测试》，移动游标 测量其超调量、峰值时间及调节时间，测得时域特性： 超调量 Mp=28 % 峰值时间 tp= 0.3S 测试结果表明基本符合设计要求。 1.3.4 时域法局部比例反馈校正 1．观测被控系统的时域曲线，按“校正后系统的超调量 Mp”要求,设计校正参数，构建校正后系统。 2．观测校正后的时域特性曲线，並测量校正后系统的超调量 Mp、峰值时间 tP。 3．按“校正后系统的超调量 Mp”不同要求,自行设计校正参数，构建校正后系统，观察校正前、后 的时域特性曲线，並测量校正后系统的超调量 Mp，峰值时间 tP。 1．未校正系统的时域特性的测试 未校正系统模拟电路图见图 1-3-14，观察被测系统的时域特性。 图 1-3-14 未校正系统模拟电路图 图 1-3-14 未校正系统的开环传递函数为： 0.2S(1 0.3S) 6 G( S ) + = 模拟电路的各环节参数：积分环节（A2 元）的积分时间常数 Ti=R1*C1=0.2S， 惯性环节（A6 单元）的惯性时间常数 T=R2*C2=0.3S， 开环增益 K=R2/R3=6。 实验内容及步骤 （1）构造模拟电路：按图 1-3-14 安置短路套及插孔连线，表如下。 （a）安置短路套 （b）插孔连线 模块号 跨接座号 1 A1 S4，S8 2 A2 S4，S11 3 A6 S3，S8，S10 （2）运行、观察、记录： 选择时域法局部比例反馈校正／比例反馈校正前时域测试，确认信号参数默认值后，点击《下载》、 《开始》键后，实验运行。实验停止后，移动游标测量其超调量、峰值时间及调节时间。 在未校正系统的时域特性特性曲线上可测得时域特性： 超调量 Mp= 59% 峰值时间 tp= 0.336S 计算得 ωn=10 ξ=0.16767 2．比例反馈包围惯性环节校正网络的设计 对图 1-3-14 未校正系统模拟电路图中，用比例反馈包围惯性环节校正后的系统模拟电路见图 1-3-15。 图中运放 A2 组成比例反馈网络，由它包围惯性环节，R7/R4 为比例系数；运放 A7 作为提高未包围部 分的增益，用来补偿由于比例反馈校正后，系统的开环增益降低部分。 提高的增益为： Kx = K Ka = R6 R5 ① 要求设计校正装置，使控制系统满足下述性能指标：超调量 Mp≤25% 。 ② 按超调量 Mp≤25% 计算，可得到校正后系统的阻尼比 ξ ≥0.4。 ③ 按图 1-3-14 的被校正对象积分时间常数 Ti = 0.2S，开环增益 K =6，新惯性环节 G (S) a 时间常数 为 Ta，按标准二阶系统阻尼比的计算式： KTa Ti 2 1 = 可得到新惯性环节 G (S) a 时间常数 Ta = 0.052 。 1 信号输入 B1（OUT1）→A1（H1） 2 运放级联 A1（OUT）→A2（H1） 3 运放级联 A2（OUT）→A6（H1） 4 负反馈 A6（OUT）→A1（H2） 5 运放级联 A6（OUT）→A10（H1） 6 示波器联接 A10（OUT）→B2（CH2）
④按图1-3-14的被控对象校正前的原惯性时间常数T=0.3S，开环增益K=6，新惯性环节G.(S)时间常数为Ta=0.052，代入式（3-3-17），可得到：比例反馈系数a=0.795如取R7=10K，则R4=10K-0.795=12.6K，R4用A11单元的直读式可变电阻。③按原开环增益K=6，比例反馈系数a=0.795，可得到：新惯性环节G.(S)的开环增益Ka=1.04原系统的开环增益K=6。③为补偿由于局部比例反馈校正后，被校正系统降低了开环增益，必须增加的比例环节Kx=K+K。。可确定增加的比例环节的增益应为：K，=K+K=6+1.04=5.77如取运放A7的反馈电阻R6=200K，则输入电阻应为R5=200K-5.77=34.7K。为使实验较方便进行，近似取R5=100K/50K=33.3K。3.比例反馈包围惯性环节校正后系统的时域特性的测试比例反馈包围惯性环节校正后系统模拟电路见图1-3-15，观察校正后系统的时域特性。矩形波R(t)F2.300KR6 200K200KUi=2.5Vc2BIOUTIHI200KA1RI200KA2R3C(t)LA6CHDOUTOUTCH2H150KH250KOUTHI200KHIH250KR7100KR校正网络A3A9/A820KOUTAl1ofmH1可变电阻oLrT20KHI图1-3-15比例反馈包围惯性环节校正后系统模拟电路实验内容及步骤（1）构造模拟电路：按图1-3-15安置短路套及插孔连线，表如下：（a）安置短路套（b）插孔连线1信号输入BI (OUTI) -→AI (H1)模块号跨接座号2运放级联AI（OUT）→A2（H1)1A1S4, S832A2运放级联A2(OUT)→A6 (H1)S4, S1143A3S8A6 (OUT)→A7 (H1)5元件库A11中直读式可变电阻126K4A6S3,S8,S106（R4）跨接到A6OUT）和A3(IN）间5A7S3, S4, S12, SP校正7A3（OUT）→A9（H1)8A9(OUT)→A6(H2)9A7 (OUT)-→A8 (H1)10负反馈A8 (OUT)→A1 (H2)11示波器联接A7（OUT）→B2（CH2）（2）运行、观察、记录选择时域法局部比例反馈校正／比例反馈校正后时域测试，，运行同《1、未校正系统时域特性的测试》，校正后的时域特性见图1-3-34，移动游标测量其超调量、峰值时间及调节时间，测得时域特性：超调量Mp=28%峰值时间tp=0.16S测试结果表明基本符合设计要求。1.3.5时域法微分反馈校正1.观测被控系统的时域曲线，按“校正后系统的超调量Mp"要求,设计校正参数，构建校正后系统。2.观测校正后的时域特性曲线，亚测量校正后系统的超调量Mp、峰值时间tp。3.按“校正后系统的超调量Mp"不同要求，自行设计校正参数，构建校正后系统，观察校正前、后的时域特性曲线，亚测量校正后系统的超调量Mp，峰值时间tp。1.未校正系统的时域特性的测试未校正系统模拟电路图见图1-3-16，观察被测系统的时域特性。20
20 ④ 按图 1-3-14 的被控对象校正前的原惯性时间常数 T=0.3S，开环增益 K =6，新惯性环节 G (S) a 时 间常数为 Ta=0.052，代入式（3-3-17），可得到：比例反馈系数 a=0.795 如取 R7=10K ，则 R4=10K÷0.795=12.6K，R4 用 A11 单元的直读式可变电阻。 ⑤ 按原开环增益 K=6，比例反馈系数 a=0.795，可得到：新惯性环节 G (S) a 的开环增益 Ka=1.04 原 系统的开环增益 K=6。 ⑥ 为补偿由于局部比例反馈校正后，被校正系统降低了开环增益，必须增加的比例环节 KX = K Ka 。可确定增加的比例环节的增益应为： Kx = K Ka = 6 1.04 = 5.77 如取运放 A7 的反馈电阻 R6=200K，则输入电阻应为 R5=200K÷5.77=34.7K。 为使实验较方便进行，近似取 R5=100K∥50K=33.3K。 3．比例反馈包围惯性环节校正后系统的时域特性的测试 比例反馈包围惯性环节校正后系统模拟电路见图 1-3-15，观察校正后系统的时域特性。 图 1-3-15 比例反馈包围惯性环节校正后系统模拟电路 实验内容及步骤 （1）构造模拟电路：按图 1-3-15 安置短路套及插孔连线，表如下： （a）安置短路套 （b）插孔连线 （2）运行、观察、记录： 选择时域法局部比例反馈校正／比例反馈校正后时域测试，运行同《1、未校正系统时域特性的测 试》，校正后的时域特性见图 1-3-34，移动游标测量其超调量、峰值时间及调节时间，测得时域特性： 超调量 Mp=28 % 峰值时间 tp= 0.16S 测试结果表明基本符合设计要求。 1.3.5 时域法微分反馈校正 1．观测被控系统的时域曲线，按“校正后系统的超调量 Mp”要求,设计校正参数，构建校正后系统。 2．观测校正后的时域特性曲线，並测量校正后系统的超调量 Mp、峰值时间 tP。 3．按“校正后系统的超调量 Mp”不同要求,自行设计校正参数，构建校正后系统，观察校正前、后 的时域特性曲线，並测量校正后系统的超调量 Mp，峰值时间 tP。 1．未校正系统的时域特性的测试 未校正系统模拟电路图见图 1-3-16，观察被测系统的时域特性。 模块号 跨接座号 1 A1 S4，S8 2 A2 S4，S11 3 A3 S8 4 A6 S3，S8，S10 5 A7 S3，S4，S12，SP 1 信号输入 B1（OUT1）→A1（H1） 2 运放级联 A1（OUT）→A2（H1） 3 运放级联 A2（OUT）→A6（H1） 4 校正 A6（OUT）→A7（H1） 5 6 元件库 A11 中直读式可变电阻 126K （R4）跨接到 A6(OUT）和 A3(IN）间 7 A3（OUT）→A9（H1） 8 A9（OUT）→A6（H2） 9 A7（OUT）→A8（H1） 10 负反馈 A8（OUT）→A1（H2） 11 示波器联接 A7（OUT）→B2（CH2）