物质成分的光谱分析X-射线荧光光谱分析
物质成分的光谱分析 X-射线荧光光谱分析
X射线透视学X射线学X射线衍射学X射线光谱学X射线荧光光谱分析2
X射线学 X射线透视学 X射线衍射学 X射线光谱学 X射线荧光光谱分析 2
（2节课）1.X射线荧光光谱相关知识2.X射线荧光光谱仪结构及测试过程（3节课）（1节课）3.电子探针
1. X射线荧光光谱相关知识（2节课） 2. X射线荧光光谱仪结构及测试过程 （3节课） 3. 电子探针（1节课）
·1929年施赖伯（Schreiber）首次应用X射线荧光光谱分析·1948年制造了第一台用X光管的商品型X射线荧光谱仪目前X射线荧光光谱分析已经成为高效率的现代化元素分析技术：被定为国标标准（ISO)分析方法之一
• 1929 年施赖伯(Schreiber) 首次应用X射线荧光光 谱分析 • 1948 年制造了第一台用X光管的商品型X射线荧 光谱仪 目前X射线荧光光谱分析已经成为高效率的现 代化元素分析技术；被定为国标标准(ISO)分析方 法之一 4
X射线荧光光谱分析法的特点1）优点：①由于仪器稳定，分析速度快，自动化程度高。用单道X射线荧光光谱仪测定样品中的一个元素只需要5～20秒。用多道光谱仪，能在20至100秒内测定完样品中全部的待测元素（能同时分析多达48种元素）。②X射线荧光光谱分析与元素的化学结合状态无关晶体或非晶体的块状固体、粉末及封闭在容器内的液体或气体均可直接测定
5 X射线荧光光谱分析法的特点 1) 优点： ① 由于仪器稳定，分析速度快，自动化程度高。用 单道X射线荧光光谱仪测定样品中的一个元素只需要5～ 20秒。用多道光谱仪，能在20至100秒内测定完样品中全 部的待测元素（能同时分析多达48种元素）。 ② X射线荧光光谱分析与元素的化学结合状态无关。 晶体或非晶体的块状固体、粉末及封闭在容器内的液体 或气体均可直接测定