置信度为95%时，分析线峰的强度测量值Ip=IB+2c，分析线峰的纯强度为BI= Ip -Ig =2 = 2/20β ~30g =3,T工作曲线I=f(C)的斜率为m，m=I/C，则C=I/m，所以检出限的定义为：3CDL =m VT.(6-49)式中I为背景强度；T为背景计数时间，谱峰计数时间Tp=TB。很明显，IB越小、m越大、Tβ越大，CDL越小。检测下限即测量限，一般规定为检出限的三倍。16
16 置信度为95%时，分析线峰的强度测量值IP =IB +2σ， 分析线峰的纯强度为: 工作曲线I=f(C) 的斜率为m，m=I/C，则C=I/m，所以检出 限的定义为： 式中IB为背景强度；TB为背景计数时间，谱峰计数时间 TP =TB。很明显，IB越小、m越大、TB越大，CDL越小。 检测下限即测量限，一般规定为检出限的三倍。 B B DL T I m 3 C (6-49) B B P B B B T I I I I 2 2 2σ σ3 3
3)分辨率：分辨率亦称分辨本领，是X射线荧光光谱仪分开相距很近的二条谱线的一种能力的量度。定义为谱线的波长入对其半高宽入2的比值，即入／入，入2就是两个相邻谱峰刚能分瓣的最小波长差。根据布拉格公式入=2dsino／n，导出A2=2dcos0:A0/n(6-50)得：～tgo2tg02tg02dsin0dstgo(6-51)B2B△240△202dcos0.A0/n式中B为谱线总发散度，即衍射峰的半高宽，并且△20=2B。式(6-51)中入／△入表示所要求的分辨率，tg0／B是能够达到的分辨率。该式表明：分瓣率随B的降低，θ的增大而提高。17
17 3)分辨率：分辨率亦称分辨本领，是X射线荧光光谱仪 分开相距很近的二条谱线的一种能力的量度。定义为谱线 的波长λ对其半高宽Δλ的比值，即λ／Δ，Δλ就是两个相邻 谱峰刚能分辨的最小波长差。 根据布拉格公式λ=2dsinθ／n，导出 Δλ=2dcosθ·Δθ/n (6-50) 得： (6-51) 式中B为谱线总发散度，即衍射峰的半高宽，并且 Δ2θ=2B。式(6-51)中λ／Δλ表示所要求的分辨率，tgθ／B 是能够达到的分辨率。该式表明：分辨率随B的降低，θ的 增大而提高。 B tgθ 2B 2tgθ Δ2θ 2tgθ Δθ tgθ 2dcosθ Δθ/n 2dsinθds Δλ λ
4)直线的相关性：在X射线荧光光谱分析中经常通过标样，测出分析线强度，作分析线强度与分析元素浓度的工作曲线。不管标样点分布如何，用最小二乘法，工作曲线总是可以作成一条直线y=a+bx。此直线是否有意义，可用相关系数rxy来判别。定义：Z(x: -x)(yi -y)(6-52)/Z(x; -x)(y; -y)如果r越接近1，相关性越好，越精确，如果r越小，相关性越差，越不精确。一般来说，多点矫正曲线要保证至少rxv>0.99。18
18 4)直线的相关性：在X射线荧光光谱分析中经常通过标 样，测出分析线强度，作分析线强度与分析元素浓度的 工作曲线。不管标样点分布如何，用最小二乘法，工作 曲线总是可以作成一条直线 y=a + bx。此直线是否有意 义，可用相关系数rxy来判别。定义： 如果rxy越接近1，相关性越好，越精确，如果rxy越小，相 关性越差，越不精确。一般来说，多点矫正曲线要保证 至少rxy >0.99。 2 i 2 i i i xy (x )x (y )y (x x)(y )y r (6-52)
实验校正法6.5.5由于基体效应的存在，使元素的浓度和分析线强度之间的关系不是线性的。因此通过一些分析方法去消除、减少或校正基体效应，提高测定结果的精密度和准确度。这些分析方法可分成两类，一类是实验校正法，另一类是数学校正法实验校正法有：1）校准曲线法：一般浓度范围从0到100%，浓度与分析线强度的关系不是线性的。如果浓度范围非常狭窄，浓度与分析线强度的曲线近似为直线。通过标样，制作校准曲线，然后通过被测样品的比较即可得到被测元素的浓度。也可作二次、三次曲线，19
19 6.5.5 实验校正法 由于基体效应的存在，使元素的浓度和分析线强 度之间的关系不是线性的。因此通过一些分析方法去 消除、减少或校正基体效应，提高测定结果的精密度 和准确度。这些分析方法可分成两类，一类是实验校 正法，另一类是数学校正法。 实验校正法有： 1)校准曲线法：一般浓度范围从0到100％，浓度 与分析线强度的关系不是线性的。如果浓度范围非常 狭窄，浓度与分析线强度的曲线近似为直线。通过标 样，制作校准曲线，然后通过被测样品的比较即可得 到被测元素的浓度。也可作二次、三次曲线
校正曲线法通常适用下述类型的样品1.轻基体中的微量和痕量元素：2.经过熔融、溶解和稀释后样品中的次要成分：3.样品中的痕量元素：4.滴在滤纸上的少量样品：5.薄膜20
20 校正曲线法通常适用下述类型的样品： 1.轻基体中的微量和痕量元素； 2.经过熔融、溶解和稀释后样品中的次要成分； 3.样品中的痕量元素； 4.滴在滤纸上的少量样品； 5.薄膜