基体对分析元素分析线强度的影响分为两类，第一类起因于基体化学组成的影响。设样品中由A、B、C、D等元素组成，A元素是分析元素，则B、C、D等元素就是基体。当原级X射线照射祥品，元素A的原子发射出的特征X射线，这A元素的特征X射线中的一部分被基体（如B、C、D等)和A元素自身吸收了，这样A元素发射出来的特征X射线强度要比原来的强度少了，这叫做吸收效应。6
6 基体对分析元素分析线强度的影响分为两类： 第一类起因于基体化学组成的影响。 设样品中由A、B、C、D等元素组成，A元素是分 析元素，则B、C、D等元素就是基体。当原级X射线照 射祥品，元素A的原子发射出的特征X射线，这A元素 的特征X射线中的一部分被基体(如B、C、D等)和A元 素自身吸收了，这样A元素发射出来的特征X射线强度 要比原来的强度少了，这叫做吸收效应
然而分析元素A不仅受到原级X射线激发，而且还可能受到基体中元素如B、C的特征X射线激发，这样元素A的特征X射线强度将不规则地增加，这叫增强效应。通常讲的基体效应指的就是吸收一增强效应。第二类是起因于样品物理特征的影响。比如：样品的表面结构、颗粒度、密度、不均匀性等。这些影响在制样过程中可以克服
7 然而分析元素A不仅受到原级X射线激发，而且还 可能受到基体中元素如B、C的特征X射线激发，这样 元素A的特征X射线强度将不规则地增加，这叫增强效 应。通常讲的基体效应指的就是吸收—增强效应。 第二类是起因于样品物理特征的影响。比如：样 品的表面结构、颗粒度、密度、不均匀性等。这些影 响在制样过程中可以克服
无基体效应Fe-Cr合金★Fe-Ni合金Fe-Ni合金和Fe-Cr合金中Fe的强度与其浓度的关系图+X8010203040506070900100Fe(质量分数/%)0604010050201090807030Ni（质量分数/%)79080705040201001006030Cr（质量分数/%)Fe-Ni和Fe-Cr二元体系中Fe的相对强度与Fe在合金中浓度的关系曲线。若无其他元素存在，Fe的强度与其浓度的关系为直线关系，即无基体效应存在；而在Fe-Ni合金由于Ni对Fe有增强作用，因此Fe的曲线向上弯曲；相反在Fe-Cr合金中由于FeKα激发Cr，使Fe8的强度下降。这种现象称之为元素间吸收增强效应
8 Fe-Ni和Fe-Cr二元体系中Fe的相对强度与Fe在合金中浓度的关系 曲线。若无其他元素存在，Fe的强度与其浓度的关系为直线关系， 即无基体效应存在；而在Fe-Ni合金由于Ni对Fe有增强作用，因此 Fe的曲线向上弯曲；相反在Fe-Cr合金中由于FeKα激发Cr，使Fe 的强度下降。这种现象称之为元素间吸收增强效应。 Fe-Ni合金和Fe-Cr合金中Fe 的强度与其浓度的关系图
2)谱线干扰：虽然X射线荧光光谱比较简单，绝大部分是单独的谱线。但在一个复杂的样品中，有时谱线于扰仍是不可忽视的，有的甚至造成严重的干扰。这种于扰严重影响X射线强度的测定，对定量分析带来一定的困难。克服的方法有：①避免干扰线，选用无干扰的谱线作分析线：②适当选择仪器测量条件，提高仪器的分辨本领③降低X光管的管电压至干扰元素激发电压以下，防止产生干扰元素的谱线：4进行数学校正，现代仪器上都有数学校正程序
9 2)谱线干扰：虽然X射线荧光光谱比较简单，绝大部 分是单独的谱线。但在一个复杂的样品中，有时谱线干 扰仍是不可忽视的，有的甚至造成严重的干扰。这种干 扰严重影响X射线强度的测定，对定量分析带来一定的困 难。 克服的方法有： ①避免干扰线，选用无干扰的谱线作分析线； ②适当选择仪器测量条件，提高仪器的分辨本领； ③降低X光管的管电压至干扰元素激发电压以下，防 止产生干扰元素的谱线； ④进行数学校正，现代仪器上都有数学校正程序
背景6.5.3背景可以定义为当分析线不存在时，在分析线20角位置上测得的强度背景的成分很复杂，主要来源有①由样品散射和X光管发出的连续谱和特征谱Ip.SC;②由仪器电路、晶体散射的样品的辐射线Ic.SC;③晶体受X射线照射后发出的二次X射线Ic.Cm。因此(6-45)IB=Ip.Sc+Ic. Sc+Ic.Cm10
10 6.5.3 背景 背景可以定义为当分析线不存在时，在分析线2θ 角位置上测得的强度。 背景的成分很复杂，主要来源有： ①由样品散射和X光管发出的连续谱和特征谱 IP.SC； ②由仪器电路、晶体散射的样品的辐射线 IC.SC； ③晶体受X射线照射后发出的二次X射线 IC.Cm 。 因此 IB=IP.SC+IC.SC+IC.Cm (6-45)