第三章多晶体分析方法 方法 第一节德拜-谢乐法 照相法 第二节其他照相法 第三节X射线衍射仪 衍射仪法 思考：衍射仪法 1-为何旋转样品 2-为何谱图横坐标是2日 3-为何用平板样品 4-辐射探测器作用 5-样品要求 X射线劳厄相机和德拜相机晶体分析仪
1 第一节 德拜-谢乐法 第二节 其他照相法 第三节 X射线衍射仪 第三章 多晶体分析方法 方法 照相法 衍射仪法 思考:衍射仪法 1-为何旋转样品 2-为何谱图横坐标是2θ 3-为何用平板样品 4-辐射探测器作用 5-样品要求 X射线劳厄相机和德拜相机晶体分析仪
衍射仪 概 述 德弃法（德拜谢乐法） 照相法 聚焦法 多晶体衍射方法 针孔法 衍射仪法 劳埃(Laue)法 单晶体衍射方法 周转晶体法 、四圆衍射仪
2 衍射仪 概 述 德拜法（德拜-谢乐法） 照相法 聚焦法 多晶体衍射方法 针孔法 衍射仪法 劳埃（Laue）法 单晶体衍射方法 周转晶体法 四圆衍射仪
XRD衍射方法 一、照相法 粉末照相法 1.照相法 ■定义：以光源发出的特征X射线照射多晶样品 1)德拜法 并用底片记录衍射花样。 2)聚焦法 ■样品形状：粉末圆柱形，非粉末块、板或丝状。 3)针孔法 2.衍射仪法 )粉末测角仪 ■分类： 2)辐射探测器 德拜(Debye)法 3工作方式 聚焦法 4)样品制备 针孔法 自学内容：什么聚焦法和针孔法 XRD衍射方法 分类： 1.照相法 根据样品与底片的相对位置 1)德拜法 ■德拜(Debye)法：用其轴线与样品轴线重 2)聚焦法 合的圆柱形底片记录（得到衍射花样为衍射 3)针孔法 2.衍射仪法 弧) )粉末测角仪 ■聚焦法：底片与样品处于同一圆周上 2)辐射探测器 3）工作方式 ·针孔法：用平板底片记录（得到的衍射花样 4)样品制备 为同心的衍射圆环)
3 n 定义：以光源发出的特征X射线照射多晶样品， 并用底片记录衍射花样。 n 样品形状：粉末圆柱形，非粉末块、板或丝状。 n 分类： 一、照相法 粉末照相法 德拜（Debye）法 聚焦法 针孔法 自学内容：什么聚焦法和针孔法 1.照相法 1)德拜法 2)聚焦法 3)针孔法 2.衍射仪法 1)粉末测角仪 2)辐射探测器 3)工作方式 4)样品制备 XRD衍射方法 分类： 根据样品与底片的相对位置 n 德拜（Debye）法：用其轴线与样品轴线重 合的圆柱形底片记录（得到衍射花样为衍射 弧） n 聚焦法：底片与样品处于同一圆周上 n 针孔法：用平板底片记录（得到的衍射花样 为同心的衍射圆环） 1.照相法 1)德拜法 2)聚焦法 3)针孔法 2.衍射仪法 1)粉末测角仪 2)辐射探测器 3)工作方式 4)样品制备 XRD衍射方法
XRD衍射方法 德拜(Debye)法 1.照相法 1)德拜法 2)聚焦法 基本概念 3用.法 2.衍射仪法 实验参数选择 1)粉末测角仪 实验数据的测定 2)辐射探测器 3)工作方式 4)样品制备 XRD衍射方法 基本概念 1.照相法 1)德拜法 样品状态：小块粉末 衍射锥， 2)聚焦法 底片：窄条状，卷成 半顶角 3)针孔法 2.衍射仪法 圆柱状 入典 1)粉末测角仪 ·安装位置：与样品同 2)辐射探测器 3)工作方式 轴 4)样品制备 衍射花样：衍射弧 2-180e 4
4 德拜（Debye）法 基本概念 实验参数选择 实验数据的测定 1.照相法 1)德拜法 2)聚焦法 3)针孔法 2.衍射仪法 1)粉末测角仪 2)辐射探测器 3)工作方式 4)样品制备 XRD衍射方法 基本概念 •样品状态：小块粉末 •底片：窄条状，卷成 圆柱状 •安装位置：与样品同 轴 •衍射花样：衍射弧 衍射锥， 半顶角 1.照相法 1)德拜法 2)聚焦法 3)针孔法 2.衍射仪法 1)粉末测角仪 2)辐射探测器 3)工作方式 4)样品制备 XRD衍射方法
承 XRD衍射方法 光 管 1.照相法 1)德拜法 2)爱焦法 3)针孔法 2.衍射仪法 1)粉末测角仪 2)辐射探测器 3)工作方式 4)样品制备 德拜相机多晶品分析仪 部分 XRD衍射方法 1.照相法 前散射：散射角<90 1)德拜法 背散射：散射角>90° 2)聚焦法 3)针孔法 2.衍射仪法 )粉末测角仪 2)辐射探测器 3）工作方式 (e) 4)样品制备 图1.电子散射示意图 (a)与原子核作用：(b)与核外电子作用
5 德拜相机多晶分析仪 部分 光 栏 承 光 管 1.照相法 1)德拜法 2)聚焦法 3)针孔法 2.衍射仪法 1)粉末测角仪 2)辐射探测器 3)工作方式 4)样品制备 XRD衍射方法 前散射：散射角<90° 背散射：散射角>90° 1.照相法 1)德拜法 2)聚焦法 3)针孔法 2.衍射仪法 1)粉末测角仪 2)辐射探测器 3)工作方式 4)样品制备 XRD衍射方法