12.2.1、进样系统1.直接进样（1）进样杆进样适用：EI CI FI热稳定性差、难挥发物(2)间歇式进样适用：气体、液体和中等蒸汽压固体样品2.接口式进样（1）电喷雾接口(2)热喷雾接口（3）离子喷雾接口(4）粒子束接口(5)解吸附技术17:13:40
17:13:40 12.2.1、进样系统 1.直接进样 （1）进样杆进样 适用：EI CI FI 热稳定性差、难挥发物 (2)间歇式进样 适用： 气体、液体和中等蒸汽压固体样品 2.接口式进样 （1）电喷雾接口 （2)热喷雾接口 （3）离子喷雾接口 （4）粒子束接口 （5）解吸附技术
12.2.离子源试样流离子束TO1.离子离子源-EI推斥极加速极聚焦狭缝*抽真空R1R2R3R4C(M-R2)*(M-R,)*Mass SpectrumMt17:13:40
17:13:40 12.2.离子源 1.离子离子源- EI + + + + : R1 : R2 : R3 : R4 : e + M+ (M-R2 ) + (M-R3 ) + (M-R1 ) Mass Spectrum +
EI源的特点：电离效率高，灵敏度高：应用最广，标准质谱图基本都是采用印源得到的：稳定，操作方便，电子流强度可精密控制：结构简单，控温方便：EI源：可变的离子化能量(10~240eV)电子能量√电子能量个分子离子增加碎片离子增加对于易电离的物质降低电子能量，而对于难电离的物质则加大电子能量（常用70eV）。17:13:40
17:13:40 EI 源的特点： 电离效率高,灵敏度高； 应用最广，标准质谱图基本都是采用EI源得到的； 稳定，操作方便，电子流强度可精密控制； 结构简单，控温方便； EI源：可变的离子化能量(10~240eV) 对于易电离的物质降低电子能量，而对于难电离的物质 则加大电子能量（ 常用70eV ）。 电子能量 电子能量 分子离子增加 碎片离子增加
2.化学电离源(Chemical Ionization, CD) :；10~100Pa，样品的离子室内的反应气（甲烷等：103~105倍），电子（100~240eV）轰击，产生离子，再与试样分离碰撞，产生准分子离子。最强峰为准分子离子谱图简单；不适用难挥发试样：试样分子气体分子电子准分子离子.(M+1)*:(M+17) +:(M+29) +:17:13:40
17:13:40 离子室内的反应气（甲烷等；10~100Pa，样品的 103~105倍），电子（100~240eV）轰击，产生离子，再与试 样分离碰撞，产生准分子离子。 2. 化学电离源（Chemical Ionization，CI）: 最强峰为准分子离子； 谱图简单； 不适用难挥发试样； + + 气体分子 试样分子 + 准分子离子 电子 (M+1)+ ;(M+17) + ;(M+29) + ;
3.大气压电离源（APD：大气压电喷雾：极性化合物大气压化学电离：非极性或低中极性大气压光电离源：非极性17:13:40
17:13:40 大气压电喷雾：极性化合物 大气压化学电离：非极性或低中极性 大气压光电离源：非极性 3. 大气压电离源（API）: