粉末样品 。支持膜及微栅 支持膜产品是本公司的特色产品，目前已经有十多个品种。主要应用在 碳 膜 纳米科学和生命科学等研究领域，是透射电子显微镜最基本的消耗材料，用 铜 户可根据不同需要选择相应的产品。 支持膜通常是在铜网上覆盖一层有机膜，然后喷碳，样品搭载在碳膜上 以便在透射电镜上观察。支持膜主要有微栅、FB微栅、超薄碳膜、碳支持 膜、纯碳膜等，几乎用于所有粉末样品和切片样品的TEM观察。 微栅膜搭载纳米材料的高分辨像 微栅膜 碳支持膜搭载纳米材料的形貌像 0 载网 电镜载网是本公司的主要产品之一，目前已经有几十个品种。是透射电子显微镜最基本的消耗材料，用户 可根据需要选择产品。载网可按网孔规格、材料、形状等进行分类。本公司可根据用户需要制造特殊形状和用 途的载网。 样品盒及不锈钢镊子 进口铜网 单孔环 特型片 OOO∞ 11 国产铜网 双联铜网 椭圆环
粉末样品 11
粉末样品 tian-019.tit tian.021.tif 6 2 nicrons carbon 100nn Cal:98.394pix/micron HV-80kV Cal:3.107pix/nm HV-80kV 23:2906-02-05 Direct Mag:6000x 17:1606-07-05 Direct Mag:200000x TEM Mode:Imaging X:Y:T: TEM Mode:Imaging X:Y:T: AMT Camera System AMT Camera System 12
粉末样品 12
粉末样品 .10mm 聚四氟乙烯包埋槽 从包埋槽中取出的粉末样品 粉末样品 Si片 1 0 包埋后切成条 样品用Si片夹紧 13
粉末样品 13
块体样品制成TEM样品 回 DaaiinLrtversit目tata TEM SAMPLE PREPARATION GUIDE Disc saw Dimple grinder Bulk>>~0.5mm E航uers Acutom-与 Gatan 6561 Begv sua ◆回色n1 Diamond wire saw BALTEC WSHD20) Yet to be purchaced 50-100um Electrolytic jet polisher >>Break-through Tenupol周] 0.5mm>>-120um Grinding wheel 发4 Hrusonk归 Struers LaboforoeLabopol] 320n件n3培 I→1 *Smwh 何mhw自ma明 lon miller ★h109t份 [Gatan 691 PIPs] 3mm disc Disc punch Gatan 659 EtOH rinse dry Ductile/soft materials Sample cleaning (analytical gradel Ultrasonic Cutter >TEM Gatan 601 1 YMU Britsehard malerials 02r00 Ultramicrotome ~120um>>50-100μum Disk Grinder [Leica UC6] [Gatan 623] Bulk >>TEM R海erence RD Manuhl atreion 1200grit pepe marking
块体样品制成TEM样品 14
块体样品制成TEM样品 由块体样品制成薄膜试样一般需要经历以下三个步骤： 利用砂轮片、金属丝或用电火花切割方法切取厚度小于0.5 mm 的“薄块”；对于陶瓷等绝缘体则需用金刚石砂轮片切割。 ·用金相砂纸研磨或采取化学抛光方法，把薄块预减薄到0.05mm ~0.1mm左右的薄片。 •用电解抛光、离子减薄等方法进行最终减薄，在孔洞边缘获得 厚度小于200-500nm的“薄膜”。 15
由块体样品制成薄膜试样一般需要经历以下三个步骤： •利用砂轮片、金属丝或用电火花切割方法切取厚度小于0.5 mm 的“薄块”；对于陶瓷等绝缘体则需用金刚石砂轮片切割。 •用金相砂纸研磨或采取化学抛光方法，把薄块预减薄到0.05mm ～0.1 mm左右的薄片。 •用电解抛光、离子减薄等方法进行最终减薄，在孔洞边缘获得 厚度小于200-500 nm的“薄膜” 。 15 块体样品制成TEM样品