上游充通大 SHANGHAI JIAO TONG UNIVERSITY 1896 1920 1987 2006 材料组织结构的表征 SHANGH 赵冰冰 材料科学与工程学院 A2019年 G
1896 1920 1987 2006 材料组织结构的表征 赵冰冰 材料科学与工程学院 2019年
周 X射线与物质的作用 4m≈K4Z3 F(滤波片) μm 热 175 LI Ln Lπ 10 150 ASWL 4o 透射X射线I=loe-“mP,A=o 125 、 Aco A=A0,相干散射 散射X射线 100 x'>0 0)/ 75 反冲电子 不相干散射 电子{ 50 俄歇电子 (光电子 25 光电效应 K 俄歇效应 0.020.04a060.080.100.i2 荧光X射线dKa>o 1/nm 辐射源选择：ka>K或入ka<K 滤波片选择：入Ka入K>入KB 材料科学与工程学院 2 School of Materials Science and Engineering
材料科学与工程学院 School of Materials Science and Engineering X射线与物质的作用 2 3 3 m K4 Z 辐射源选择：K >K或K <<K 滤波片选择： K >K> K
图 思考题 如果要对镍基合金Ni-30Cr-15Fe-5Al进行X-射线衍射分析， 如何在常用靶材中选择阳极靶材？ 175 表7-1常用靶材K系特征X射线波长及相关数据 150 临界激 工作 被强烈吸收 靶子元素 原子系数 K/nm K.2/nm K./nm Ka/nm k/nm 发电压 电压 及散射的元素 125 2 (U.)/kV /kV K Ka Cr 24 0.22896 0.22935 0.2209 0848 0.20701 5.98 20-25 Ti、So、Ca 100 26 0.19360 0.19399 0.19373 0.17565 0.17438 7.10 25-30 Cr、V、Tl Mn 0 27 0.17889 0.17928 0.17902 0.16208 0.1881 7.71 30 Mn,Cr、V Fe 00) 75 Ni 28 0.16578 0.16610 0.16591 0.15001 0.14880 8.20 30-35 Fe、Mn、Cr Co Cu 29 0.15405 0.15443 0.15418 0.13922 0.13804 8.80 35-40 Co、Fe、Mn Ni 50 2① 42 0.07093 0.07135 0.07107 0.06323 0.06198 20.0 50-55 Y、Sr、Ru Nb、Zr Ag 638 47 0.05594 0.054 0.05609 0.04020 0.04835 26.5 55-60 Ru、Mo、NbPd、Rh 25 1① AKaXK 0.02 0.04 入ka<K 材料科学与工程学院 3 School of Materials Science and Engineering
材料科学与工程学院 School of Materials Science and Engineering 思考题 • 如果要对镍基合金Ni-30Cr-15Fe-5Al进行X-射线衍射分析， 如何在常用靶材中选择阳极靶材？ 3 ① K >K ② K <<K ② ①
图 X射线衍射仪 MAXima_X XRD-7000 .High precision vertical 0-0 goniometer that can accept up to 400mm(w)x 5500mm(d)x 400mm(h) maximum. .Various application of residual austenite quantitation,environmental quantitative analysis, precise lattice constant determination,degree of crystallinity calculations,crystallite size and crystal strain calculations,crystal system determination, rietveld analysis,other software based crystal structure analysis as well as basic qualitative analysis and quantitative analysis. XRD-7000系列配备了样品水平型测角仪，能够测定超大型样品。 ·不但可进行定性/定量等基本分析，还可以应用于残留奥氏体定量、环境定量、晶格常 数的精密化、结晶度的计算、晶体粒径和晶格应力的计算、晶系确定、Rietveid结构解 析软件进行的晶体结构解析。通过追加附件，还可以应用于应力测定、样品加热过程的 分析、薄膜样品测定等。 材料科学与工程学院 School of Materials Science and Engineering
材料科学与工程学院 School of Materials Science and Engineering X射线衍射仪 4 •High precision vertical θ-θ goniometer that can accept up to 400mm (w) x 5500mm (d) x 400mm (h) maximum. •Various application of residual austenite quantitation, environmental quantitative analysis, precise lattice constant determination, degree of crystallinity calculations, crystallite size and crystal strain calculations, crystal system determination, rietveld analysis, other software based crystal structure analysis as well as basic qualitative analysis and quantitative analysis. MAXima_X XRD-7000 · XRD-7000系列配备了样品水平型测角仪，能够测定超大型样品。 · 不但可进行定性/定量等基本分析，还可以应用于残留奥氏体定量、环境定量、晶格常 数的精密化、结晶度的计算、晶体粒径和晶格应力的计算、晶系确定、Rietveid结构解 析软件进行的晶体结构解析。通过追加附件，还可以应用于应力测定、样品加热过程的 分析、薄膜样品测定等
图 X射线衍射仪 : RG M 单色器 F S RM 材料科学与工程学院 5 School of Materials Science and Engineering
材料科学与工程学院 School of Materials Science and Engineering X射线衍射仪 5 单色器