多晶体的衍射强度计算方法 CHA ·Cu,a=3.615A,=1.54056A sine/A I相对理论值 线号 hkl sin 8(8) P2 1+cos220 P (10nm-') sin20cos0 计算值 标准化后 111 0.369 21.7 0.24 22.1 7814 12.03 8 7.52×105 100 2 200 0.427 25.2 0.27 20.9 6989 8.50 6 3.56 47 3 220 0.603 37.1 0.39 16.8 4516 3.70 12 2.10 27 311 0.707 45.0 0.46 14.8 3506 2.83 24 2.38 32 5 222 0.739 47.6 0.48 14.2 3226 2.74 8 0.71 9 6 400 0.853 58.5 0.55 12.5 2500 3.18 6 0.48 6 331 0.930 68.4 0.60 11.5 2116 4.81 24 2.45 33 8 420 0.954 72.6 0.62 11.1 1971 6.15 24 2.91 39 PT Fa La doe I- 2M 材料科学与工程学院 6 School of Materials Science and Engineering
材料科学与工程学院 School of Materials Science and Engineering 多晶体的衍射强度计算方法 6 • Cu, a=3.615 Å, λ=1.54056 Å M hkl hkl p c P F L A e V V I 2 2 2
⑧ 多晶体/粉末X射线衍射 仪器设备 一测角仪、探测器、单色器 o 实验参数 一管流、管压、扫描速度、狭缝 物相分析 一数据采集处理 一定性、定量分析 一检索分析软件 材料科学与工程学院 School of Materials Science and Engineering
材料科学与工程学院 School of Materials Science and Engineering 多晶体/粉末X射线衍射 • 仪器设备 – 测角仪、探测器、单色器 • 实验参数 – 管流、管压、扫描速度、狭缝 • 物相分析 – 数据采集/处理 – 定性、定量分析 – 检索/分析软件
© Powder X-ray diffraction Ewald's sphere Incident beam 20 02不 133 111 002 004 222113 022 Fig.8.2 The schematic of the powder diffraction cones produced by a polycrystalline copper sam- ple using Cu Ka radiation.The differences in the relative intensities of various Bragg peaks (diffraction cones)are not discriminated,and they may be found in Table 8.1.Each cone is marked with the corresponding triplet of Miller indices. 材料科学与工程学院 School of Materials Science and Engineering
材料科学与工程学院 School of Materials Science and Engineering Powder X-ray diffraction
© 照相法 (1) Sample Debye- Scherrer camera Film Trap Collimator Bragg angle,0(from 0 to 90) 1
材料科学与工程学院 School of Materials Science and Engineering 照相法 (1) DebyeScherrer camera
图 照相法 (2)聚焦法 46=[(SABN+NF)/R](180T) 试徉 人射线 光图 行射线 2-48 M 照相机壁 底片 School of Materials Science and Engineering
材料科学与工程学院 School of Materials Science and Engineering 4θ=[(SABN+NF)/R](180o /π) (2) 聚焦法 照相法