2原始A、B中的自由电子数不同,设 Na>Nb,从A逸出的电子多于B的,形成另 一电位差Va。 V ab =(KT/e )In(Na/nb) K-玻尔茨曼常数;T温度;e电子电荷。 实际接触时AB的电位差为 vab=v abtv ab Vb-Va+ (KT/e )In(Na/nb)
2 原始 A、B中的自由电子数不同，设： Na>Nb, 从A逸出的电子多于B 的，形成另 一电位差V ab’’。 V ab’’=(KT/e )ln(Na/Nb) K-玻尔茨曼常数；T-温度；e-电子电荷。 实际接触时AB的电位差为： V ab=V ab’+V ab’’ = Vb-Va+(KT/e )ln(Na/Nb)
3把金属A、B焊成闭合回路,两个接点的温 度t1t2不等,则电路内的电动势为两个接点 的电位差之和: Eab=Vab+Vba K/e(t,-t2) In(Na/Nb) Vab t2 可见在两种不同的金属 之间形成Eab(温差电动 势),范围其值与温差 (t-t2有关(其它值为 常数)
3 把金属A、B焊成闭合回路，两个接点的温 度t1 ,t2不等， 则电路内的电动势为两个接点 的电位差之和： Eab=Vab+Vba =K/e(t1 -t2 ) ln(Na/Nb) 可见在两种不同的金属 之间形成Eab(温差电动 势），范围其值与温差 (t1 -t2 )有关（其它值为 常数）
在DTA试验中,把两个接点分别插在样品与参 比物之中,它们之间的温度差的变化是由于相 转变或反应的吸热或放热效应引起的。如相 转变、熔化、结晶结构的转变、沸腾、升华、 蒸发、脱氢、裂解或分解反应、氧化或还原反 应、晶格结构的破坏和其它化学反应。一般说 来,相转变、脱氢还原和一些分解反应产生吸 热效应;而结晶、氧化和一些分解反应产生放 热效应。测量电动势(电压),可知温差, 进一步可知热效应的出现与否及强度
在DTA试验中，把两个接点分别插在样品与参 比物之中，它们之间的温度差的变化是由于相 转变或反应的吸热或放热效应引起的。如:相 转变、熔化、结晶结构的转变、沸腾、升华、 蒸发、脱氢、裂解或分解反应、氧化或还原反 应、晶格结构的破坏和其它化学反应。一般说 来，相转变、脱氢还原和一些分解反应产生吸 热效应；而结晶、氧化和一些分解反应产生放 热效应。测量电动势（电压）， 可知温差， 进一步可知热效应的出现与否及强度
差热分析的原理如下图所示 将试样和参比物分别放入坩埚,置于炉中以 定速率进行程序升温,以Ts、T表示各自的 温度,设试样和参比物的热容量不随温度而变。 若以AT=Ts-Tr对t作图,所得DTA曲线如 图所示,随着温度的增加,试样产生了热效应 例如相转变),与参比物间的温差变大,在 DTA曲线中表现为峰、谷。显然,温差越大 峰、谷也越大,试样发生变化的次数多,峰. 谷的数目也多,所以各种吸热谷和放热峰的个 数、形状和位置与相应的温度可用来定性地鉴 定所研究的物质,而其面积与热量的变化有关
差热分析的原理如下图所示。 将试样和参比物分别放入坩埚，置于炉中以一 定速率进行程序升温，以Ts、Tr 表示各自的 温度，设试样和参比物的热容量不随温度而变。 若以ΔT=Ts-Tr 对t作图，所得DTA曲线如 图所示，随着温度的增加，试样产生了热效应 (例如相转变)，与参比物间的温差变大，在 DTA曲线中表现为峰、谷。显然，温差越大， 峰、谷也越大，试样发生变化的次数多，峰、 谷的数目也多，所以各种吸热谷和放热峰的个 数、形状和位置与相应的温度可用来定性地鉴 定所研究的物质，而其面积与热量的变化有关
图示了差热分析的原理图。图中两对热电偶反向 联结,构成差示热电偶。S为试样,R为参比物在 电表T处测得的为试样温度Ts;在电表△T处测的 即为试样温度T和参比物温度T之差△T。 B △T △T
图示了差热分析的原理图。图中两对热电偶反向 联结，构成差示热电偶。S为试样，R为参比物在 电表T处测得的为试样温度TS ;在电表△T处测的 即为试样温度TS和参比物温度TR之差△T。 •