8.2.1.1进样系统(inlet system)） GCLC直接进样 8.2.1.2离子源(ion source) 8.2.1.3质量分析器(mass analyzer) 8.2.1.4检测器(detecter) 8.2.1.5真空系统（Vacuum system)
8.2.1.1进样系统(inlet system) GC LC 直接进样 8.2.1.2 离子源(ion source) 8.2.1.3质量分析器（mass analyzer） 8.2.1.4检测器（detecter） 8.2.1.5真空系统（Vacuum system）
8.2.1.2离子源(ion source) 1电子电离源(electron ionization ED) 2化学电离源(chemical ionization C) 3快原子轰击(fast atom bombardment FAB) 4电喷雾源(electronspray ionization ESI) 5大气压化学电离源(atmospheric pressure chemical ionization APCD) 6基质辅助激光解吸电离源（matrix assisted laser desorption ionization MALDI）
8.2.1.2 离子源(ion source) 1 电子电离源(electron ionization EI) 2 化学电离源(chemical ionization CI) 3 快原子轰击(fast atom bombardment FAB) 4 电喷雾源(electronspray ionization ESI) 5 大气压化学电离源（atmospheric pressure chemical ionization APCI) 6 基质辅助激光解吸电离源（matrix assisted laser desorption ionization MALDI)
1电子轰击电离源(electron ionization E) 灯丝 N 电子束： 焦电极 样品 高子求 S 接收极 蓝铁 图16-2电子电离源原理图
1 电子轰击电离源(electron ionization EI)
电子电离源(E) 结构：电离盒 灯丝磁铁 原理：电子轰击样品分子，使之电离 特点：1电离电压：70eV 2加一小磁场增加电离几率。 3样品分子在电子轰击下，可以失去一个电子形成分子 离子，也可能化学键断裂形成碎片离子。EI源碎片离子多，结构 信息丰富，有标准化合物质谱库（积累了20多万个化合物的质谱 图)。主要用于气质联用仪。 局限性： 1.要求样品能气化（样品蒸气压〉l0-2Pa) 2.往往无分子峰（降低电子动能无助于获得分子峰） 3.负离子EI灵敏度极低
电子电离源（EI） 结构：电离盒 灯丝 磁铁 原理：电子轰击样品分子，使之电离 特点： 1 电离电压：70eV 2 加一小磁场增加电离几率。 3 样品分子在电子轰击下，可以失去一个 电子形成分子 离子，也可能化学键断裂形成碎片离子。EI源碎片离子多，结构 信息丰富，有标准化合物质谱库（积累了20 多万个化合物的质谱 图）。主要用于气-质联用仪。 局限性： 1. 要求样品能气化 (样品蒸气压 > 10 -2 Pa) 2. 往往无分子峰 (降低电子动能无助于获得分子峰) 3. 负离子 EI 灵敏度极低
EI源质谱图 00 43 40 90 (mainlib)Acetophenone 100 0 18 10 30 (mainlib)Butanoic acid,methyl ester
(mainlib) Acetophenone 20 30 40 50 60 70 80 90 100 110 120 130 0 50 100 27 39 43 45 51 63 74 77 85 91 98 102 105 120 O (mainlib) Butanoic acid, methyl ester 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 110 0 50 100 14 15 18 27 29 31 39 40 41 43 45 53 55 57 59 60 69 71 72 74 75 87 88 102 O O EI源质谱图