下半学期内容与安排 周次 日期 课程内容 备注 9 4月23日 电子显微分析概述及扫描电镜工作原理 9 4月25日 扫描电镜工作原理 10 4月30日 扫描电镜像衬原理及应用 10 5月02日 教学实验 本周日 Office hour 11 5月07日 电子光学基础及分辨率 每周四下午 11 5月09日 透射电镜构造、成像方式和变倍原理 12 5月14日 透射电镜样品制备 作业-1 16点至17点 12 5月16日 电子衍射、多晶及单晶电子衍射花样标定 材料B楼411室 13 5月21日 晶体极射投影 13 5月23日 复杂电子衍射花样 14 5月28日 衍射衬度成像原理 14 5月30日 衍射衬度成像原理 期末考试 15 6月04日 极图及电子背散射衍射(EBSD) 作业-2 15 6月06日 极图及电子背散射衍射(EBSD) 考试周 16 6月11日 高分辨电子显微术 16 6月13日 SEM及TEM中X射线显微分析 11
11 周次 日期 课程内容 备注 9 4月23日 电子显微分析概述及扫描电镜工作原理 9 4月25日 扫描电镜工作原理 10 4月30日 扫描电镜像衬原理及应用 10 5月02日 教学实验 本周日 11 5月07日 电子光学基础及分辨率 11 5月09日 透射电镜构造、成像方式和变倍原理 12 5月14日 透射电镜样品制备 作业-1 12 5月16日 电子衍射、多晶及单晶电子衍射花样标定 13 5月21日 晶体极射投影 13 5月23日 复杂电子衍射花样 14 5月28日 衍射衬度成像原理 14 5月30日 衍射衬度成像原理 15 6月04日 极图及电子背散射衍射（EBSD） 作业-2 15 6月06日 极图及电子背散射衍射（EBSD） 16 6月11日 高分辨电子显微术 16 6月13日 SEM及TEM中X射线显微分析 下半学期内容与安排 Office hour 每周四下午 16点至17点 材料B楼411室 期末考试 考试周
扫描电镜工作原理和构造 灯 (光源) 电子源 玻璃凸透镜 聚光镜 ☒ 样品 样品 00 0 偏向线圈 物镜 ☒ ☒物镜 扫描 二次电子探头 样品 投影凸透镜 投影镜 00 CRT 像 像 光学显微镜 透射电镜 扫描电镜 12
扫描电镜工作原理和构造 12
共聚焦扫描显微镜 aser Sca钠niA9 mi个r05 detector pinhole 光切片 microscope optical slicing Objective lens Focal plane- 13
共聚焦扫描显微镜 13 光切片 optical slicing
扫描电镜工作原理和构造 Acceleration voltage Cathode Wehnelt cylinder Anode 卤 Screen:Brightness Condensor lens 1 FASTX is proportional to Condensor lens 2 START SE or BSE signal 区图 SLOW Scan generator Deflection coils END (X and Y (scan) deflection) Objective lens Amplifiers ←BSE detector SE detector Secondary Back-scattered electrons(SE electrons Probe (BSE) 14
扫描电镜工作原理和构造 14
What is sEM? A type of electron microscope t that produces images of a sample by scanning it with a focused electron beam. The electrons interact with atoms in the sample, producing various signals that can be detected and that contain information about the sample's surface topography and composition. It is the most widely used type of electron microscope. 15
What is SEM? • A type of electron microscope that produces images of a sample by scanning it with a focused electron beam. • The electrons interact with atoms in the sample, producing various signals that can be detected and that contain information about the sample’s surface topography and composition. • It is the most widely used type of electron microscope. 15