第十五章 一、X-射线荧光的产生 X射线光谱与电 creation ofX-ray fluorescence 子能谱分析法=、X射线光光谐仪 X-ray fluorescence spectrometer X-ray spectrometry and 三、应用 electron spectroscopy 第二节 applications x射线荧光分析 X-ray fluorescence spectrometry 下一页
第十五章 X射线光谱与电 子能谱分析法 一、X-射线荧光的产生 creation of X-ray fluorescence 二、X-射线荧光光谱仪 X-ray fluorescence spectrometer 三、应用 applications 第二节 x-射线荧光分析 X-ray spectrometry and electron spectroscopy X-ray fluorescence spectrometry
、X-射线荧光的产生 creation of X-ray fluorescence 特征X射线荧光一特征X射线光谱 X射线荧光 碰撞}一内层电子跃迁1日一空穴外层电子跃迁L X射线荧光>次级X射线入 荧光X射线 (能量小) (能量大) o Auger 电子 激发过程能量稍许损失; ●光电子 依据发射的X射线荧光λ K L 确定待测元素——定性 Ⅹ射线荧光强度—定量 00:02:10
00:02:10 一、X-射线荧光的产生 creation of X-ray fluorescence 特征X射线荧光--特征X射线光谱 碰撞 内层电子跃迁↑H 空穴 外层电子跃迁↓L X射线荧光 X射线荧光 > 次级X射线 (能量小) (能量大) 激发过程能量稍许损失； 依据发射的X射线荧光 ，确定待测元素——定性 X射线荧光强度——定量
Auger效应 碰撞—“内层电子跃迁↑H空穴 外层电子跃迁↓L 原子内吸收 电子能 谱分析 自由电子 另一电子激发 Auger电子:次级光电子 各元素的 Auger电子能量固定;(电子能谱分析法的基础) 荧光X射线 竞争 o Auger 电子 Auger效应几率 荧光辐射 光电子 K Z<11的元素; 重元素内 重元素的外层 层空穴; 空穴 K,L层; 00:02:10
00:02:10 Auger 效应 Auger电子：次级光电子 各元素的Auger电子能量固定；（电子能谱分析法的基础） 碰撞 内层电子跃迁↑H 空穴 外层电子跃迁↓L 原子内吸收 另一电子激发 Auger效应 荧光辐射 竞争 几率 电子能 谱分析 自由电子 Z<11的元素； 重元素的外层 空穴； 重元素内 层 空 穴 ； K, L层；
Moseley 定律 元素的荧光X射线的波长(λ)随元素的原子序数(Z) 增加,有规律地向短波方向移动。 1/2 1)=K(Z-S) K,S常数,随谱系(L,K,M,N而定 定性分析的数学基础; 测定试样的X射线荧光光谱,确定各峰代表的元素。 00:02:10
00:02:10 Moseley 定律 元素的荧光X射线的波长( )随元素的原子序数( Z ) 增加，有规律地向短波方向移动。 ( ) 1 1/ 2 = K Z − S K，S常数，随谱系(L，K，M，N)而定。 定性分析的数学基础； 测定试样的X射线荧光光谱，确定各峰代表的元素
、X射线荧光光谱仪 X-ray fluorescence spectrometer 波长色散型:晶体分光 能量色散型:高分辨半导体探测器分光 1.波长色散型X射线荧光光谱仪 四部分:X光源;分光晶体; X光管 检测器;记录显示; 准直器 晶体 按Brag方程进行色散; 测量第一级光谱n=1 试样 德 检测器角度20; 分光晶体与检测器同步 转动进行扫描。 波长色散型X射线荧光光谱仪 00:02:10
00:02:10 二、X射线荧光光谱仪 X-ray fluorescence spectrometer 波长色散型：晶体分光 能量色散型：高分辨半导体探测器分光 1. 波长色散型X射线荧光光谱仪 四部分：X光源；分光晶体； 检测器；记录显示； 按Bragg方程进行色散； 测量第一级光谱n=1； 检测器角度 2； 分光晶体与检测器同步 转动进行扫描