第十五章 X射线光谱与电 一、晶体特性 property of crystal 子能谱分析法 二、多晶粉末衍射分析法 X-ray spectrometry and multiple crystal powder electron spectroscopy diffraction analysis 三、单晶衍射分析法 第三节 single crystal diffraction X射线衍射分析 analvSIS X-ray diffraction analysis 下一页 2021/225
2021/2/25 第十五章 X射线光谱与电 子能谱分析法 第三节 X射线衍射分析 一、晶体特性 property of crystal 二、多晶粉末衍射分析法 multiple crystal powder diffraction analysis 三、单晶衍射分析法 single crystal diffraction analysis X-ray spectrometry and electron spectroscopy X-ray diffraction analysis
晶体特性 property of crystal 晶体:原子、离子、分子在空间周期性排列而构成的固态物 ,三维空间点阵结构;点阵+结构基元; 晶胞:晶体中空间点阵的单位,晶体结构的最小单位; 晶胞参数:三个向量a、b、c,及夹角α、β、y; r,st;1/,1/s,1/:晶面在三个晶轴上的截数和倒易截数 l/r:1/s:1/t=h:k:l;晶面(110)与C轴平行; 正交晶胞 晶面指标 2021/2/25
2021/2/25 一、 晶体特性 property of crystal 晶体：原子、离子、分子在空间周期性排列而构成的固态物 ，三维空间点阵结构；点阵 + 结构基元； 晶胞：晶体中空间点阵的单位，晶体结构的最小单位； 晶胞参数：三个向量a、b、c，及夹角、、 ； r,s,t；1/r,1/s,1/t：晶面在三个晶轴上的截数和倒易截数 1/r∶1/s∶1/t=h∶k∶l；晶面(110)与C 轴平行；
二、多晶粉末衍射分析 multiple crystal powder diffraction analysis 在入射X光的作用下,原子中的电子构成多个X辐射源, 以球面波向空间发射形成干涉光; 强度与原子类型、晶胞内原子位置有关; 衍射图:晶体化合物的“指纹”; 多晶粉末衍射法:测定立方晶系的晶体结构 单色X射线源 准直器 样品台 X光源 准直器 检测器 检测器 散狭缝 试样 出射狭缝散射狭缝 旋转阳极X射线衍射仪 2021/2/25
2021/2/25 二、多晶粉末衍射分析 multiple crystal powder diffraction analysis 在入射X光的作用下，原子中的电子构成多个X辐射源， 以球面波向空间发射形成干涉光； 强度与原子类型、晶胞内原子位置有关； 衍射图：晶体化合物的“指纹”； 多晶粉末衍射法：测定立方晶系的晶体结构； 单色X射线源 样品台 检测器
1仪器特点 X射线衍射仪与X射线荧光仪相似;主要区别: (1)单色X射线源; (2)不需要分光晶体 试样本身为衍射晶体,试样平面旋转;光源以不同0角 对试样进行扫描; 准直器 X光源 准直器 检测器 发散狭缝 试样 出射狭缝散射狭缝 旋转阳极X射线衍射仪 2021/2/25
2021/2/25 1.仪器特点 X射线衍射仪与X射线荧光仪相似；主要区别： (1) 单色X射线源; (2) 不需要分光晶体; 试样本身为衍射晶体，试样平面旋转；光源以不同 角 对试样进行扫描；
2应用 Bugger方程:2dsin6=mλ 将晶面间距d和晶胞参数a的关系带入: sin26=/2 +k2+12 2 由测定试样晶体的衍射线出现情况,可确定晶体结构类型; 例:求A的晶胞参数,用Cu(Ka)射线(λ=1.5405埃)照射 样品,选取0=8117°的衍射线(333),则 1.5405 √h2+k2+l2= 32+32+3 2sin e 2sin81°17 =4.0490A 2021/2/25
2021/2/25 2.应用 Bugger 方程： 2d sin = n 将晶面间距d和晶胞参数a的关系带入： ( ) 2 2 2 2 2 2 sin h k l a + + = 由测定试样晶体的衍射线出现情况，可确定晶体结构类型； 例：求Al的晶胞参数，用Cu(K1 ) 射线（ =1.5405埃 ）照射 样品，选取= 81.17 °的衍射线(3 3 3)，则： o 2 2 2 2 2 2 4.0490A 3 3 3 2sin81 17 1.5405 2sin = + + a = h + k + l =