& 图 图2-2 低电平输入电流Iu和高电平输入电流Ii。每一门和每一输入端都测试一 次。测试电路如图2-2。 参数 1A 1D I(mA)1.11.21.11.01.01.11.11.0 2、电压传输特性。调节电位器RW,使V从0V向5V变化,逐点测试V和 Vo值,将结果记录入下表中。测试电路如图2-3 360 2CK11 图2-3 V.(V)0.30.51 1.31.351.4|1451.51.61.72.4 (V)3.63.632.72.42.11.61.31.00.70.30.3 3、CMOS双四输入与非门CC4012静态参数测试 将CC4012正确插入面包板,测电压传输特性。测试电路和方法同上 输出端为空载测量。将结果记录入下表中。 v()o0.512|232.42.452525262.73455 ()|55555555000000 四、实验结果分析(回答问题)
16 图 2-1 图 2-2 低电平输入电流 IiL 和高电平输入电流 IiH。每一门和每一输入端都测试一 次。测试电路如图 2-2。 2、电压传输特性。调节电位器 RW，使 Vi 从 0V 向 5V 变化，逐点测试 Vi 和 VO 值，将结果记录入下表中。测试电路如图 2-3。 图 2-3 3、CMOS 双四输入与非门 CC4012 静态参数测试 将 CC4012 正确插入面包板，测电压传输特性。测试电路和方法同上， 输出端为空载测量。将结果记录入下表中。 四、实验结果分析（回答问题）
1、测量TTL与非门输出低电平时要加负载,因为要求集成块有一定带负载 的能力,而TIL与非门输出低电平时会有较大负载电流。图2-3中R选用3609 是根据最大允许负载电流为:扇出系数(8)×低电平输入电流Ii(1.6mA) 得到的。若R很小会使负载电流过大,无法得到正常的输出低电平 2、与非门输入端悬空可以当作输入为“1”,因为悬空相当于R=∞,由输 入端负载特性可得此结论。 3、TIL或非门闲置输入端的处置方法:与其它输入端并联;接地。 4、实验中所得Io和IcH为整个器件值,单个门电路的Io和IcH为所测 值的一半 5、C4012的VD=15V,则其Voe=14.95V、Vo=0.05V、Vm=7.5V 重点讲解组合逻辑电路的实验分析的方法与步骤及在实验设备中如何去实 现 实验三组合逻辑电路的实验分析 实验目的 1、学会组合逻辑电路的实验分析方法。 2、验证半加器、全加器的逻辑功能。 二、实验仪器及设备 l、数字逻辑实验箱DSB-31台 2、万用表2只 3、元器件:74LS0074LS20各一块 74LS5574LS86各 电阻及导线若干 、实验线路图
17 1、测量 TTL 与非门输出低电平时要加负载，因为要求集成块有一定带负载 的能力，而 TTL 与非门输出低电平时会有较大负载电流。图 2-3 中 R 选用 360Ω 是根据最大允许负载电流为：扇出系数（8）×低电平输入电流 I iL（1.6mA） 得到的。若 R 很小会使负载电流过大，无法得到正常的输出低电平。 2、与非门输入端悬空可以当作输入为“1”，因为悬空相当于 Ri=∞，由输 入端负载特性可得此结论。 3、TTL 或非门闲置输入端的处置方法：与其它输入端并联；接地。 4、实验中所得 ICCL 和 ICCH 为整个器件值，单个门电路的 ICCL 和 ICCH 为所测 值的一半。 5、CC4012 的 VDD=15V，则其 VOH=14.95V、VOL=0.05V、VTH =7.5V。 重点讲解组合逻辑电路的实验分析的方法与步骤及在实验设备中如何去实 现。 实验三 组合逻辑电路的实验分析 一、实验目的 1、学会组合逻辑电路的实验分析方法。 2、验证半加器、全加器的逻辑功能。 二、实验仪器及设备 1、数字逻辑实验箱 DSB-3 1 台 2、万用表 2 只 3、元器件：74LS00 74LS20 各一块 74LS55 74LS86 各一 电阻及导线 若干 三、实验线路图
A B 3-1 图3-2 Br 图3-3 四、实验内容 l、测试用与非门构成的电路的逻辑功能 按图3-1接线。按下表要求输入信号,测出相应的输出逻辑电平,并填入 表中。分析电路的逻辑功能为半加器,写出逻辑表达式为: Y=A⊕BZ=AB 2、测试用异或门和与非门组成的电路的逻辑功能 按图3-2接线。按下表要求输入信号,测出相应的输出逻辑电平,并填入 表中。分析电路的逻辑功能为半加器,写出逻辑表达式为 Sn=A⊕B Cn=AB Y Z Sn C 00010 01000 1101 3、测试用异或门、非门和与或非门组成的电路的逻辑功能 按图3-3接线。按下表要求输入信号,测出相应的输出逻辑电平,并填入 表中。分析电路的逻辑功能为半加器,写出逻辑表达式为:
18 四、实验内容 1、测试用与非门构成的电路的逻辑功能 按图 3-1 接线。按下表要求输入信号，测出相应的输出逻辑电平，并填入 表中。分析电路的逻辑功能为半加器，写出逻辑表达式为： Y=A⊕B Z=AB 2、测试用异或门和与非门组成的电路的逻辑功能 按图 3-2 接线。按下表要求输入信号，测出相应的输出逻辑电平，并填入 表中。分析电路的逻辑功能为半加器，写出逻辑表达式为 3、测试用异或门、非门和与或非门组成的电路的逻辑功能 按图 3-3 接线。按下表要求输入信号，测出相应的输出逻辑电平，并填入 表中。分析电路的逻辑功能为半加器，写出逻辑表达式为：
Sn=A⊕B⊕C Cn=AB+(A⊕B)C An Cn-1 0 0 001100 1 1010101 01001 0101 五、实验结果分析(回答问题) 1、总结用实验来分析组合逻辑电路功能的方法为: 按图接线,将输入的所有取值组合对应输出测出来,得到该电路的真值表, 进而写出逻辑函数表达式,概述电路的逻辑功能 讲解74LS138的用法及数据选择器在微机控制等领域的应用。此为学生自 拟实验由学生自拟,老师着重是辅导。 实验四数据选择器 实验目的 1、进一步熟悉用实验来分析组合逻辑电路功能的方法。 2、了解中规模集成八选一数据选择器74LS151的应用 3、了解组合逻辑电路由小规模集成电路设计和由中规模集成电路设计的不 同特点 二、实验仪器及设备 l、数字逻辑实验箱DSB-31台 2、万用表1只 3、元器件:74LS0074LS04各1块 74LS2074LS151各1块 导线若干 、实验线路图
19 五、实验结果分析（回答问题） 1、总结用实验来分析组合逻辑电路功能的方法为： 按图接线，将输入的所有取值组合对应输出测出来，得到该电路的真值表， 进而写出逻辑函数表达式，概述电路的逻辑功能 讲解 74LS138 的用法及数据选择器在微机控制等领域的应用。此为学生自 拟实验由学生自拟，老师着重是辅导。 实验四 数据选择器 一、实验目的 1、进一步熟悉用实验来分析组合逻辑电路功能的方法。 2、了解中规模集成八选一数据选择器 74LS151 的应用。 3、了解组合逻辑电路由小规模集成电路设计和由中规模集成电路设计的不 同特点 二、实验仪器及设备 1、数字逻辑实验箱 DSB-3 1 台 2、万用表 1 只 3、元器件：74LS00 74LS04 各 1 块 74LS20 74LS151 各 1 块 导线 若干 三、实验线路图
LED电平显示 LED电平显示 逻辑-A 逻辑电 逻辑R-A2 电M74S515平开关 电平-A174515 开关120DAD5D 开关01DDD7 逻辑电平开关 图5-2 LED电平显示F Y 逻辑 电平B-A171513 开关D0D1D2D3D4D5D607 D 图5-3 四、实验内容(简单实验步骤、实验数据及波形) 1、利用数字逻辑实验箱测试74LS151八选一数据选择器的逻辑功能,按图 5-1接线,将实验结果记录在下表中。 选 通 地址输入 数据输入 输出 S A2 Al A0 DO D1 D2 D3 D4 D5 D6 D7 y XX X0 0 D 01 0XXXXXXX XXX2 XXXXD1D1 X D2 D2 xXXXXX XXXXXXX 3XXXX D3D3 D4XX X D4 De X D5X XX D6 X D6 XXXD7D7D7
20 四、实验内容（简单实验步骤、实验数据及波形） 1、利用数字逻辑实验箱测试 74LS151 八选一数据选择器的逻辑功能，按图 5-1 接线，将实验结果记录在下表中