版权©2014，版权所有，侵犯必究 失调和CMRR: 随机因素和系统因素 复旦大学射频集成电路设计研究小组 -132- 唐长文
复旦大学 射频集成电路设计研究小组 唐长文 版权©2014，版权所有，侵犯必究 -132- 失调和CMRR： 随机因素和系统因素
版权©2014，版权所有，侵犯必究 目录 随机失调和CMRR 系统失调和CMRR§ ·CMRR与频率的关系 ·设计规则 ·MOST与双极型晶体管的比较 Ref.:W.Sansen:Analog Design Essentials,Springer 2006 Pelgrom,JSSC Oct.1989,1433-1439 Croon,JSSC Aug.02,1056-1064 Croon,Springer,2005 复旦大学射频集成电路设计研究小组 -133- 唐长文
复旦大学 射频集成电路设计研究小组 唐长文 版权©2014，版权所有，侵犯必究 -133- Ref.: W. Sansen : Analog Design Essentials, Springer 2006 Pelgrom, JSSC Oct.1989, 1433-1439 Croon, JSSC Aug.02, 1056-1064 Croon, Springer, 2005 目录 随机失调和CMRRr 系统失调和CMRRs CMRR与频率的关系 设计规则 MOST与双极型晶体管的比较
版权©2014，版权所有，侵犯必究 失调的定义 Vout≠0 Vout=0 失调电压Vos 复旦大学射频集成电路设计研究小组 -134- 唐长文
复旦大学 射频集成电路设计研究小组 唐长文 版权©2014，版权所有，侵犯必究 -134- 失调的定义 失调电压 vos
版权©2014，版权所有，侵犯必究 由失调引起的增益误差 RF=100k2 Rs=1 kQ ◆ +1 Vos Vout=-596 mV =4 mV Vin=10 mV Offset free Vin-Vos= Vos -Vout Rs R 增益由100倍变为59倍。 复旦大学射频集成电路设计研究小组 -135- 唐长文
复旦大学 射频集成电路设计研究小组 唐长文 版权©2014，版权所有，侵犯必究 -135- 由失调引起的增益误差 in out S F os os v v v v R R 增益由100倍变为59倍。 in out F S os
版权©2014，版权所有，侵犯必究 由失调引起的flash-ADC良率下降 VREF 1 N Yield % 100 Vos1 80 60 40 Vos2 -N-bit 20 10 bit 9 bit 8 bit 7 bit 0 Vos3 0 2 4 6 a(△V)mV Vos4 Standard deviation of random offset Ref.:Pelgrom,IEDM 1998,pp.789. 复旦大学射频集成电路设计研究小组 -136- 唐长文
复旦大学 射频集成电路设计研究小组 唐长文 版权©2014，版权所有，侵犯必究 -136- 由失调引起的flash-ADC良率下降 Ref.: Pelgrom, IEDM 1998, pp.789. 10 bit 9 bit 8 bit 7 bit T vIN vos1 vos2 vos3 vos4 VREF N-bit