△E=3.1% 137 30y 数 β1944% 5.6% C 137Ba 0 200 40 600 能(keV) 从?能谱上确定入射到探测器灵敏体积内的γ光子数很难, 受到多种因素的影响:如甄别阈对小幅度脉冲的影响,周 围材料散射计数的影响,特征Ⅹ射线和轫致辐射的影响等
单能射线 137Cs 30y 661.66 0 94.4％ 5.6% 137Ba 2 1 从能谱上确定入射到探测器灵敏体积内的光子数很难， 受到多种因素的影响：如甄别阈对小幅度脉冲的影响，周 围材料散射计数的影响，特征X射线和轫致辐射的影响等
Y射线的强度测量方法 全谱法 记录脉冲计数率 源探测效率￡。= Y射线强度N 由于n的测量很不准确,受到很多因素的影响,一般很少采用。 全能峰法 全能峰内计数率 源峰探测效率￡。 p Y射线强度N 由于影响n测量准确度的因素大为减少,且全能峰容易识别, 求峰面积也比较容易。 *只要知道了探测效率n,实验测得nn,就可以求出y射线强度N
射线的强度测量方法 • 全谱法 • 全能峰法 源探测效率 由于n的测量很不准确，受到很多因素的影响，一般很少采用。 源峰探测效率 由于影响np测量准确度的因素大为减少，且全能峰容易识别， 求峰面积也比较容易。 只要知道了探测效率sp，实验测得np，就可以求出射线强度N。 N n ε γ射线强度 记录脉冲计数率 s N n ε γ射线强度 全能峰内计数率 p s p
要确定γ射线的强度,必须知道探测器的探测效率。 探测效率与下列因素有关 Y射线的能量 不同探测物质(Z、N),不同的γ射线能量E, ·探测器类型 γ射线与探测物质作用几率不同。 晶体的大小、形状不同灵敏体积,对不同能量射线的吸收是不同。 ·源到探测器的几何位置能达到探测器灵敏体积的光子数不同。 等
要确定射线的强度，必须知道探测器的探测效率。 探测效率与下列因素有关： • 射线的能量 • 探测器类型 • 晶体的大小、形状 • 源到探测器的几何位置 等 不同探测物质（Z、N），不同的射线能量E， 射线与探测物质作用几率不同。 不同灵敏体积，对不同能量射线的吸收是不同。 能达到探测器灵敏体积的光子数不同
1)几何条件:立体角24兀 对γ射线测量影响较小 2)物质减弱因子:在到达探测器前,空气、窗等影响。 3)作用概率: y、x口次级电子电脉冲 有一个概率存在 4)记录效率:电信号要被电子学系统记录 阈值 死时间 探测器测得的计数并不等于初始的真实计数,因为每个粒子 只有一定的概率(探测效率)被记录下来
4）记录效率：电信号要被电子学系统记录。 1）几何条件：立体角 /4 2）物质减弱因子：在到达探测器前，空气、窗等影响。 3）作用概率： 阈值 死时间 对射线测量影响较小 探测器测得的计数并不等于初始的真实计数，因为每个粒子 只有一定的概率（探测效率）被记录下来。 、x 次级电子 有一个概率存在 电脉冲 Ω n
几种探测效率定义: 源探测效率 记录脉冲总计数率 C Y射线强度N 全能峰内计数率 源峰探测效率 Y射线强度 本征探测效率 记录脉冲总计数率n "射入探测器灵敏体积的γ光子强度N 对于γ射线,忽略减弱因子 E.=8 In 叫3 4兀 峰总比:全能峰内计数率与总计数率的比值
几种探测效率定义： 本征探测效率 源探测效率 源峰探测效率 对于射线，忽略减弱因子 峰总比：全能峰内计数率与总计数率的比值。 N n ε γ射线强度 记录脉冲总计数率 s N n ε γ射线强度 全能峰内计数率 p s p γ ' i n N n ε 射入探测器灵敏体积的 光子强度 记录脉冲总计数率 4π s i n 4π s p i n R