第六章均匀设计法 >均匀设计有其独特的布(试验)点方式 每个因素的每个水平做一次且仅做一次试验 任两个因素的试验点在平面的格子点上,每行每列有且 仅有一个试验点 cmese, uestc: 以上两个性质反映了均匀设计试验安排的“均衡性”,即 对各因素,每个因素的每个水平一视同仁。 n均匀设计表任两列组成的试验方案一般并不等价 Schodl of microelectronics and Solid-State Electronics
School of Microelectronics and Solid-State Electronics 11 第六章 均匀设计法 ➢均匀设计有其独特的布（试验）点方式 ▪ 每个因素的每个水平做一次且仅做一次试验 ▪ 任两个因素的试验点在平面的格子点上，每行每列有且 仅有一个试验点 ▪以上两个性质反映了均匀设计试验安排的“均衡性”，即 对各因素，每个因素的每个水平一视同仁。 ▪均匀设计表任两列组成的试验方案一般并不等价
第六章均匀设计法 例如用U1(110)的1,7和1,2列分别画图,得到下面的图 (a和图(b)。我们看到,(a)的点散布比较均匀,而(b的点散 布并不均匀。均匀设计表的这一性质和正交表有很大的不同 因此,每个均匀设计表必须有一个附加的使用表。 cmese, uestc 9 234567 91011 2345 78910 Schodl of microelectronics and Solid-State Electronics 12
School of Microelectronics and Solid-State Electronics 12 第六章 均匀设计法 ▪例如用U11(1110)的1，7 和1，2列分别画图，得到下面的图 (a)和图 (b)。我们看到，(a)的点散布比较均匀，而(b)的点散 布并不均匀。均匀设计表的这一性质和正交表有很大的不同 ，因此，每个均匀设计表必须有一个附加的使用表。 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11
第六章均匀设计法 表94U1(111)均匀设计表 列号 3 6 10 试验号 6 448159260 10 7731 88521 8 10 8 6 7 8 2 7 137 06295184 0741963 975310 086 10 10 6 1111 11 11 11 11 Schodl of microelectronics and Solid-State Electronics 13
School of Microelectronics and Solid-State Electronics 13 第六章 均匀设计法
第六章均匀设计法 如U66)表示要做次6试验,每个因素有6个水平, 该表有4列 U6(6) cmese, uestc: 列号 试验号 123456 1123456 2246135 3362514 46543 2 Schodl of microelectronics and Solid-State Electronics 14
School of Microelectronics and Solid-State Electronics 14 第六章 均匀设计法 ▪如U6 (64 )表示要做次6试验，每个因素有6个水平， 该表有4列。 1 2 3 4 1 1 2 3 6 2 2 4 6 5 3 3 6 2 4 4 4 1 5 3 5 5 3 1 2 6 6 5 4 1 U6(64 ) 列号 试验号
第六章均匀设计法 >正交设计安排试验时采用的随机化过程包 括 因素顺序随机化 cmese, uestc: 因素水平随机化 实验顺序随机化 而均匀设计表中的各列是不平等的,因素 所应安排的列的位置是不能随意变动的 当试验中因素的个数不同时,须根据因素 的多少按照均匀表的使用表确定因素所占列 Schodl of microelectronics and Solid-State Electronics 15
School of Microelectronics and Solid-State Electronics 15 第六章 均匀设计法 ➢正交设计安排试验时采用的随机化过程包 括： – 因素顺序随机化 – 因素水平随机化 – 实验顺序随机化 ➢而均匀设计表中的各列是不平等的，因素 所应安排的列的位置是不能随意变动的 ➢当试验中因素的个数不同时，须根据因素 的多少按照均匀表的使用表确定因素所占列