第六章均匀设计法 正交试验可以进行部分试验而得到基本上反映 全面情况的试验结果,但是,当试验中因素数或水 平数比较大时,正交试验的次数很多。如5因素5水 estc 平,用正交表需要安排52=25次试验。这时,可以 选用均匀设计法,仅用次试验就可能得到能满足 需要的结果。 Schodl of microelectronics and Solid-State Electronics 6
School of Microelectronics and Solid-State Electronics 6 第六章 均匀设计法 正交试验可以进行部分试验而得到基本上反映 全面情况的试验结果，但是，当试验中因素数或水 平数比较大时，正交试验的次数很多。如5因素5水 平，用正交表需要安排5 2＝25次试验。这时，可以 选用均匀设计法，仅用5次试验就可能得到能满足 需要的结果
第六章均匀设计法 1978年,七机部由于导弹设计的要求,提出了 个五因素的试验,希望每个因素的水平数要多于10 而试验总数又不超过50,显然优选法和正交设计 都不能用,方开泰与王元经过几个月的共同研究, 提出了一个新的试验设计,即所谓“均匀设计 将这一方法用于导弹设计,取得了成效。 a均匀设计法与正交设计法的不同: 均匀设计法不再考虑数据整齐可比”性,只考 虑试验点在试验范围内充分“均衡分散 Schodl of microelectronics and Solid-State Electronics
School of Microelectronics and Solid-State Electronics 7 第六章 均匀设计法 ▪1978年，七机部由于导弹设计的要求，提出了一 个五因素的试验，希望每个因素的水平数要多于10 ，而试验总数又不超过50，显然优选法和正交设计 都不能用，方开泰与王元经过几个月的共同研究， 提出了一个新的试验设计，即所谓“均匀设计”， 将这一方法用于导弹设计，取得了成效。 ▪均匀设计法与正交设计法的不同： ▪均匀设计法不再考虑数据“整齐可比”性，只考 虑试验点在试验范围内充分“均衡分散
第六章均匀设计法 均匀设计的特点 >均匀设计是一种适用于多水平的多因素试验设计 方法,具有如下特点 cmese, uestc: 1试验点分布均匀分散 2在处理设计中各个因素每个水平只出现一次 3适用于多水平多因素模型拟合及优化试验 4试验结果采用回归分析方法 Schodl of microelectronics and Solid-State Electronics
School of Microelectronics and Solid-State Electronics 8 第六章 均匀设计法 ➢ 均匀设计是一种适用于多水平的多因素试验设计 方法，具有如下特点： – 1 试验点分布均匀分散 – 2 在处理设计中各个因素每个水平只出现一次 – 3 适用于多水平多因素模型拟合及优化试验 – 4 试验结果采用回归分析方法 均匀设计的特点
第六章均匀设计法 二、均匀设计表 ■均匀设计表符号表示的意义 cmese, uestc: 因素数 U7(7) 均匀表的代号 因素的水平数 试验次数 Schodl of microelectronics and Solid-State Electronics
School of Microelectronics and Solid-State Electronics 9 第六章 均匀设计法 ▪ 均匀设计表符号表示的意义 二、均匀设计表 U7(76 ) 均匀表的代号 试验次数 因素的水平数 因素数
第六章均匀设计法 般的均匀设计表水平数为奇数 当水平数为偶数时,用比它大1的奇数表划去最后 行即可得到水平数为偶数的均匀设计表 >利用均匀设计表安排试验时,试验点是均匀的 x211 从两因素11水平的均匀设 计布点图可以直观地看到 布点是均衡分散的。 23456 91011 Schodl of microelectronics and Solid-State Electronics 10
School of Microelectronics and Solid-State Electronics 10 第六章 均匀设计法 ➢一般的均匀设计表水平数为奇数 ➢当水平数为偶数时，用比它大1的奇数表划去最后 一行即可得到水平数为偶数的均匀设计表 ➢利用均匀设计表安排试验时，试验点是均匀的 从两因素11水平的均匀设 计布点图可以直观地看到 布点是均衡分散的