第六章均匀设计法 n每个均匀设计表都附有一个使用表,它指示我们如何从设计表中选用 适当的列,以及由这些列所组成的试验方案的均匀度。下表是U6(64)的 使用表。它告诉我们,若有两个因素,应选用1,3两列来安排试验;若 有三个因素,应选用1,2,3三列,,最后1列D表示刻划均匀度的偏 差( discrepancy) cmese uestc: U662)的使用表 S 号 0.1875 2 0.2656 4 2 4 0.2990 偏差值越小,表示均匀度越好 Schodl of microelectronics and Solid-State Electronics 16
School of Microelectronics and Solid-State Electronics 16 第六章 均匀设计法 ▪每个均匀设计表都附有一个使用表，它指示我们如何从设计表中选用 适当的列，以及由这些列所组成的试验方案的均匀度。下表是U6 (64 )的 使用表。它告诉我们，若有两个因素，应选用1，3两列来安排试验；若 有三个因素，应选用1，2，3三列，…，最后1列D表示刻划均匀度的偏 差(discrepancy)。 s 列 号 D 2 1 3 0.1875 3 1 2 3 0.2656 4 1 2 3 4 0.2990 U6(64 )的使用表 偏差值越小，表示均匀度越好
第六章均匀设计法 均匀设计和正交设计的比较 将目前最常用正交设计和均匀设计作一下比较 讨论两种试验设计方法的特点。 cmese, uestc: >1试验次数的比较 >正交设计用于水平数不高的试验,因为它的试验数至少为 水平数的平方。例如一项试验,有五个因素,每个因素取31 水平,若用正交设计,至少需要做961次试验,而用均匀设 计只需31次,所以均匀设计适合于多因素多水平试验。 Schodl of microelectronics and Solid-State Electronics
School of Microelectronics and Solid-State Electronics 17 第六章 均匀设计法 均匀设计和正交设计的比较 ➢1.试验次数的比较 ➢正交设计用于水平数不高的试验，因为它的试验数至少为 水平数的平方。例如一项试验，有五个因素，每个因素取31 水平，若用正交设计，至少需要做961次试验，而用均匀设 计只需31次，所以均匀设计适合于多因素多水平试验。 将目前最常用正交设计和均匀设计作一下比较， 讨论两种试验设计方法的特点
第六章均匀设计法 2试验结果的比较 >正交设计可以计算出因素的主效应,有时也能估算出它们 的交互效应,但都只停留在事先设计好的水平数中。而均匀 estc 设计不仅可以计算出回归模型中因素的主效应和交互效应, 还可预测试验最佳效果时的各因素水平数值,并比事先设计 好的水平数值更加细化。 Schodl of microelectronics and Solid-State Electronics 18
School of Microelectronics and Solid-State Electronics 18 第六章 均匀设计法 ➢2 .试验结果的比较 ➢正交设计可以计算出因素的主效应，有时也能估算出它们 的交互效应，但都只停留在事先设计好的水平数中。而均匀 设计不仅可以计算出回归模型中因素的主效应和交互效应， 还可预测试验最佳效果时的各因素水平数值，并比事先设计 好的水平数值更加细化
第六章均匀设计法 两种设计的均匀性比较 很难找到正交设计和均匀设计具有相同的试验数三 和相同的水平数。我们从如下三个角度来比较: cmese, uestc: ·1.试验数相同时的偏差的比较 当因素s=2时,若用L32)安排试验,其偏差为04375; 若用均匀设计表U(),则偏差最好时要达01445。显 然试验数相同时均匀设计的均匀性要好得多。值得注 意的是,这种比较方法对正交设计是不公平的,因为 当试验数给定时,水平数减少,则偏差会增大。所以 这种比较方法正交设计明显地吃亏。 Schodl of microelectronics and Solid-State Electronics 19
School of Microelectronics and Solid-State Electronics 19 第六章 均匀设计法 两种设计的均匀性比较 * 8 8 U (8 ) • 1.试验数相同时的偏差的比较 • 当因素s=2时，若用L8 (27 )安排试验，其偏差为0.4375； 若用均匀设计表 ，则偏差最好时要达0.1445。显 然试验数相同时均匀设计的均匀性要好得多。值得注 意的是，这种比较方法对正交设计是不公平的，因为 当试验数给定时，水平数减少，则偏差会增大。所以 这种比较方法正交设计明显地吃亏。 很难找到正交设计和均匀设计具有相同的试验数 和相同的水平数。我们从如下三个角度来比较：
第六章均匀设计法 2水平数相同时偏差的比较 ·两种设计水平数相同,但试验数不同的比较。其中当 均匀设计的试验数为6时,相应正交设计的试验数为62 ,例如的偏差0.1875,而L362)的偏差为0.1597, U6(62) 两者差别并不很大。所以用均匀设计安排的试验其效 果虽然比不上正交设计,但其效果并不太差,而试验 次数少了6倍。 Schodl of microelectronics and Solid-State Electronics
School of Microelectronics and Solid-State Electronics 20 第六章 均匀设计法 * 2 6 U (6 ) • 2.水平数相同时偏差的比较 • 两种设计水平数相同，但试验数不同的比较。其中当 均匀设计的试验数为6时，相应正交设计的试验数为6 2 ，例如 的偏差0.1875，而L36(62 )的偏差为0.1597， 两者差别并不很大。所以用均匀设计安排的试验其效 果虽然比不上正交设计，但其效果并不太差，而试验 次数少了6倍