仪器分析（含实验） 《仪器分析实验》 实验50X·射线粉末衍射法 X-ray Powder Diffraction Method:XRD 编写日期：2006年9月
编写日期：2006年9月 《仪器分析实验》 实验50 X－射线粉末衍射法 X-ray Powder Diffraction Method：XRD 仪器分析(含实验)
一、X-射线的产生与X-射线谱 产生X射线的方法： 1、用高能电子束轰击金属靶； 2、用一次高能X射线束照射靶（试样）以产生二次X荧光射线束； 3、让试样暴光于产生X射线的放射源之下。 -冷却水入口 X光管的构造： 出口 接地 高真空(10-6~107mmHg)的 X射线管内加热钨丝而产生电子，电 铍窗 金属靶 子在50~70kV的电场中被加速后冲 (阳极) ◆X射线 击阳极靶，使得靶材料的原子壳层 钨灯丝 (阴极】 聚焦杯 发生跃迁，内层电子被轰击出去， 外层电子跃迁进来填充内层电子， 真空管 同时释放出能量（光子X射线）。 放射出的X光谱可分为连续谱和特征 高压· 丝 加热 谱。 电 编写日期：2006年9月
编写日期：2006年9月 一、X-射线的产生与X-射线谱 X光管的构造： 高真空（10-6~10-7mmHg）的 X射线管内加热钨丝而产生电子，电 子在50~70kV的电场中被加速后冲 击阳极靶，使得靶材料的原子壳层 发生跃迁，内层电子被轰击出去， 外层电子跃迁进来填充内层电子， 同时释放出能量（光子-X射线）。 放射出的X光谱可分为连续谱和特征 谱。 产生X射线的方法： 1、用高能电子束轰击金属靶； 2、用一次高能X射线束照射靶（试样）以产生二次X荧光射线束； 3、让试样暴光于产生X射线的放射源之下
1.连续X-射线逆 1 6 50kV 4 40kV 2 2 3 30kV 0.4 0.6 0.81.0 0.248 波长() 编写日期：2006年9月
编写日期：2006年9月 1. 连续X-射线谱
2.特征X-射线谱 (0.71) 62 2420 6 (0.63A) d 12 8、4 35KV 0 .2 0.4 0.60.8 1.0 波长，A 编写日期：2006年9月
编写日期：2006年9月 2. 特征X-射线谱
特征X射线谱中所有高层电子往=1层跃迁所产生的X射线称 为K系X射线，所有高层电子往=2层跃迁所产生的X射线称为L系X 射线，n=3、4.为M、N.系。n=2往n=1层跃迁所产生的Ka又可 分为Ka1和Ka2。 N层 0层 M层 L层 K系 澈发 1K系 K层 了辐射 K KB Ky L系 发 原子核 L系 La L8 Ly 了辐射 M系 澈发 Ma MB M系 辐射 编写日期：2006年9月
编写日期：2006年9月 特征X射线谱中所有高层电子往n=1层跃迁所产生的X射线称 为K系X射线，所有高层电子往n=2层跃迁所产生的X射线称为L系X 射线，n=3、4.为M、N.系。n=2往n=1层跃迁所产生的Kα又可 分为Kα1和Kα2