X射线由两部分构成，一部分波长连续变化， 称为连续谱；另一部分波长是分立的，与靶材料 有关，成为某种材料的标识，所以称为标识谱， 又叫特征谱-它迭加在连续谱上。 龈。 20KV 30KV 40KV 50KV 同素不同压同压不同素
6 X射线由两部分构成，一部分波长连续变化， 称为连续谱；另一部分波长是分立的，与靶材料 有关，成为某种材料的标识，所以称为标识谱， 又叫特征谱-它迭加在连续谱上
2、连续X射线光谱 a c 92U 50 mA 电子→靶原子，产生连续的 电磁辐射，连续的X射线光谱（韧 40 致辐射)； 30 增加，则I(A)上移，但入不变； 20 V增加，则，减小，且I(A)曲线 0 上移： 0.010.050.10.15 nm 、靶材原子序数(z)增加，也使 图 X射线管电流、电压和靶材的改变对连续光谱的影响 I(A)上移，且入不变. (a)管压，靶材（原子序数Z)固定时，连续光谱强度Ici (b)管流、靶材（原子序数Z)固定时，连续光谱强度IcU (C)管压，管流固定时，连续光谱强度IcZ Im□KZiU2
7 2、连续X射线光谱 电子→靶原子，产生连续的 电磁辐射，连续的X射线光谱(韧 致辐射)； ♣i增加，则I(A)上移，但λ0不变； ♣V增加，则λ0减小，且I(A)曲线 上移； ♣靶材原子序数(z)增加，也使 I(A)上移，且λ0不变．
短波限波长入，的计算 由某一最短波长(，称短波限)开始，强度①对波长连 续分布，即连续x射线是覆盖很大波长范围且连续变 化的电磁辐射 极端的情况：电子与靶材相撞，其能量(V)全部转变 为辐射光子能量，相应有最短波长， ev=hu max =he/1o hc
8 短波限波长λ0的计算 由某一最短波长(λ0，称短波限)开始，强度(I)对波长连 续分布，即连续X射线是覆盖很大波长范围且连续变 化的电磁辐射 极端的情况：电子与靶材相撞，其能量(eV)全部转变 为辐射光子能量，相应有最短波长λ0
3.特征X射线谱 管压达到某一值时，将K层电 子击出，外层电子向层跃迁 产生的X射线统称为系特征辐 射，其中由L层或M层或更外层 电子跃迁产生的X系特征辐射 分别顺序称为K,K,.射线； M,W,.层电子向L层跃迁产 生的谱线分别顺序称为L,L .射线，并统称为L系特征 辐射。M係等依此类推。 特征X射线的产生 辐射的X射线光子能量： hu 1.K=E1-E 9
9 3.特征X射线谱 特征X射线的产生 l 管压达到某一值时，将K层电 子击出，外层电子向K层跃迁 产生的X射线统称为K系特征辐 射，其中由L层或M层或更外层 电子跃迁产生的X系特征辐射 分别顺序称为K，K， .射线； l M，N， .层电子向L层跃迁产 生的谱线分别顺序称为L，L ， .射线，并统称为L系特征 辐射。M系等依此类推。 辐射的X射线光子能量：
特征线波长 特征X射线是在某些特定波长位置出现的叠加在连续谱上 的高而狭仄的谱线. 1 K,L,.系谱线激发电压Vk,VL,不同，有VkV>。 ；同系各谱线按a,B,.波长顺序减少，如kp1k等； 特征谱线位置（波长）仅与靶材☑)有关而与V无关(V>V微发， 继续增加V,仅使谱线强度增加)等.特征谱线波长与物质 原子序数的关系由莫塞莱(Moseley)定律表述，即 c(-s） 式中：c与σ与线系有关的常数.该公式是电子探针和X射线 荧光光谱元素定性分析的基础。 10
10 特征线波长 l 特征X射线是在某些特定波长位置出现的叠加在连续谱上 的高而狭仄的谱线． l K，L，.系谱线激发电压VK，VL，.不同，有VK>VL>. ；同系各谱线按α，β，.波长顺序减少，如λKβ<λKα等； l 特征谱线位置(波长)仅与靶材(z)有关而与V无关(V>V激发， 继续增加V，仅使谱线强度增加)等．特征谱线波长与物质 原子序数的关系由莫塞莱(Moseley)定律表述，即 l 式中：c与σ与线系有关的常数．该公式是电子探针和X射线 荧光光谱元素定性分析的基础