电子测量原理 111数字系统测试的基本原理 11.1.2组合电路测试方法简介 1敏化通路法和D算法 2布尔差分法 第11页
电子测量原理 第11页 11.1数字系统测试的基本原理 11.1.2 组合电路测试方法简介 1 敏化通路法和D算法 2 布尔差分法
1敏化通路法和D算法 电子测量原理 (1)敏化通路法 ◆通路(Path)和敏化通路( Sensitized path) A f b C e C g 电路的敏化过程 Ba y 0→10→→10→→1 1→01-01-0 ◆故障a→↑→g故障传播或前向跟踪 ◆一致性检验或反相跟踪( Backwerdffrace)
电子测量原理 第12页 1 敏化通路法和D算法 ◆通路（Path）和敏化通路(Sensitized Path) （1）敏化通路法 A B x1 x2 x3 a b c d e f g y C a f y 0→1 0→1 0→1 1→0 1→0 1→0 ◆故障a→f→g:故障传播或前向跟踪 ◆一致性检验或反相跟踪(Backward Trace) 电路的敏化过程
1敏化通路法和D算法 电子测量原理 ◆故障传播和通路敏化的条件 通路内一切与门和与非门的其余输入端均应赋于 1”值,而一切或门和或非门的其余输入端应赋于“0” 值。 a f-x: S-a-0 e g 有扇出电路的敏化过程 第13页
电子测量原理 第13页 1 敏化通路法和D算法 ◆故障传播和通路敏化的条件 通路内一切与门和与非门的其余输入端均应赋于 “1”值，而一切或门和或非门的其余输入端应赋于“0” 值。 x1 x2 x3 a b c d e f g y x2 :s-a-0 x1 x2 x3 a b c d e f g y x2 :s-a-0 x1 x2 x3 a b c d e f g y x2 :s-a-0 有扇出电路的敏化过程
1敏化通路法和D算法 电子测量原理 X 单通路敏化成功,双通路敏化失败的例子 (111)不是x2:S-a-0的测试矢量 (110)和(011)是x2:S-a-0的测试矢量 第14页
电子测量原理 第14页 1 敏化通路法和D算法 x1 x2 x3 单通路敏化成功，双通路敏化失败的例子 （111）不是x2：s-a-0的测试矢量 （110）和（011）是x2：s-a-0的测试矢量
1敏化通路法和D算法 电子测量原理 ◆ Schneider提出的反例证明某些故障只通过一条通 路不可能敏化成功,必须同时沿两条或两条以上的通 路才能成功敏化 G G S-a-0 G 12 12 G G G 11 同时沿G6G9G12和G6G10G12敏化方可 成功 G(5a-0)的泗:,xx2xn)2o
电子测量原理 第15页 1 敏化通路法和D算法 ◆Schneider提出的反例证明某些故障只通过一条通 路不可能敏化成功，必须同时沿两条或两条以上的通 路才能成功敏化 x1 x2 x3 x4 G5 5 G6 6 G7 7 G8 8 G9 9 G10 10 G11 11 G12 12 y s-a-0 同时沿G6G9G12 和G6G10G12 敏化方可 成功 G6（s-a-0）的测试:(x1x2x3x4 )=(0000)