一、IEEE P1500嵌入式核可测性标准 二、SoC测试生成
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理解BIST（Built-in Self-Test）的原理 掌握LFSR的原理 掌握BIST的结构
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① 动机 ② 针床测试仪 ③ 边界扫描测试基本原理 ④ 基本扫描单元 ⑤ 测试访问端口 (TAP) 控制器 ⑥ 边界扫描指令 ⑦ BSDL语言
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讨论为什么要使用扫描设计 理解扫描设计的原理 掌握扫描设计的几种基本结构 熟悉DFT Compiler的设计流程 完成一个简单的扫描设计的实例
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了解什么是专用可测性技术（ad-hoc technique） 了解TM (Testability Measure) 掌握SCOAP可测性分析方法 理解一般的ad-hoc可测性方法 了解什么是C可测性
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SoC设计的基本概念 IEEE P1500协议 SoC的DFT策略的探讨
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① 概述 ② 存储器模型 ③ 失效机制和故障模型 ④ 存储器的测试算法
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IDDQ的定义 IDDQ测试原理 IDDQ可检测的故障
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