第一章正交试验基本方法 【例1-1】 例1-1为提高某化工产品的转化率选择了三 个有关的因素进行条件试验反应温度 (A),反应时间(B),用碱量(C),并确定了它们 的试验范围: 反应温度A: 80~90°C 反应时间B 90~150分钟 用碱量C 5~7‰ School of microelectronics and solid-State Electronics
School of Microelectronics and Solid-State Electronics 第一章 正交试验基本方法 【例1-1】 例1-1 为提高某化工产品的转化率, 选择了三 个有关的因素进行条件试验, 反应温度 (A) , 反应时间(B) , 用碱量(C) , 并确定了它们 的试验范围: 反应温度A: 80～90℃ 反应时间B: 90～150 分钟 用碱量C: 5～7%
第一章正交试验基本方法 >对于单因素或两因素试验,因其因素少,试验的 设计、实施与分析都比较简单。但在实际工作中 ,常常需要同时考察3个或3个以上的试验因素, 若进行全面试验,则试验的规模将很大,往往因 试验条件的限制而难于实施。正交试验设计就是安 排多因素试验、寻求最优水平组合的一种高效率 试验设计方法。 School of microelectronics and solid-State Electronics
School of Microelectronics and Solid-State Electronics 第一章 正交试验基本方法 ➢对于单因素或两因素试验，因其因素少 ，试验的 设计 、实施与分析都比较简单 。但在实际工作中 ，常常需要同时考察 3个或3个以上的试验因素 ， 若进行全面试验 ，则试验的规模将很大 ，往往因 试验条件的限制而难于实施 。正交试验设计就是安 排多因素试验 、寻求最优水平组合 的一种高效率 试验设计方法
第一章正交试验基本方法 【例1-1】中因素A、B、C在试验范围内分别选取 三个水平 A:A1=80℃、A2=85℃、A3=90℃ B:Bl=90Min、B2=120Min、B3=150 Min C:C1=5%、C2=6%、C3=7% >正交试验设计中,因素可以定量的,也可以使定 性的。而定量因素各水平间的距离可以相等也可以 不等。 School of microelectronics and solid-State Electronics
School of Microelectronics and Solid-State Electronics 第一章 正交试验基本方法 ➢【例1-1】中因素A、B、C在试验范围内分别选取 三个水平 – A：A1＝80℃、A2＝85℃、A3＝90℃ – B：B1＝90Min、B2＝120Min、B3＝150Min – C：C1＝5%、C2＝6%、C3＝7% ➢正交试验设计中，因素可以定量的，也可以使定 性的。而定量因素各水平间的距离可以相等也可以 不等
第一章正交试验基本方法 >取三因素三水平,通常有两种试验方法: >(1)全面实验法: AIBICI A2BICI A3BICI AlBIC A2B1C2 A3BIC2 AIBIC3 A2B1C3 A3B1C3 A1B2C1 A2B2C1 A3B2C1 AlB2C2 A2B2 C2 A3B2C2 AIB2C3 A2B2C3 A3B2 C3 AlB3C1 A2B3C1 A3B3C1 AlB3C2 A2B3C2 A3B3C2 2 AlB3C3 A2B3C3 A3 B3C3 共有3=27次试验,如图所示,立方体包含了27个 节点,分别表示27次试验。 School of microelectronics and solid-State Electronics
School of Microelectronics and Solid-State Electronics 第一章 正交试验基本方法 ➢取三因素三水平，通常有两种试验方法： ➢（1）全面实验法： A1B1C1 A2B1C1 A3B1C1 A1B1C2 A2B1C2 A3B1C2 A1B1C3 A2B1C3 A3B1C3 A1B2C1 A2B2C1 A3B2C1 A1B2C2 A2B2C2 A3B2C2 A1B2C3 A2B2C3 A3B2C3 A1B3C1 A2B3C1 A3B3C1 A1B3C2 A2B3C2 A3B3C2 A1B3C3 A2B3C3 A3B3C3 ➢共有3³=27次试验，如图所示，立方体包含了27个 节点，分别表示27次试验。 A1 A2 A3 B3 B2 B1 C 1 C 2 C 3
第一章正交试验基本方法 全面试验法的优缺点 >优点:对各因素于试验指标之间的关系剖析得比较清楚 >缺点: (1)试验次数太多,费时、费事,当因素水平比较多时,试验无法完成。 (2)不做重复试验无法估计误差。 (3)无法区分因素的主次。 >例如选六个因素,每个因素选五个水平时,全面试验的数 目是56=15625次。 1978年,七机部由于导弹设计的要求,提出了一个五因 素的试验,希望每个因素的水平数要多于10,此时靠全面试 验法是无法完成的。 School of microelectronics and solid-State Electronics
School of Microelectronics and Solid-State Electronics 第一章 正交试验基本方法 ➢全面试验法的优缺点： ➢优点：对各因素于试验指标之间的关系剖析得比较清楚 ➢缺点： (1)试验次数太多，费时、费事，当因素水平比较多时，试验无法完成。 (2) 不做重复试验无法估计误差。 (3)无法区分因素的主次。 ➢例如选六个因素，每个因素选五个水平时，全面试验的数 目是5 6 ＝15625次。 ➢ 1978年，七机部由于导弹设计的要求，提出了一个五因 素的试验，希望每个因素的水平数要多于10，此时靠全面试 验法是无法完成的