高能γ(X)射线能谱测量与分析 对物质的穿透能力较强,为达到一定的探测效率,要求探测器灵敏 体积足够大,且采用较大核电荷数的元素作为探测物质 主要探测器:Nal(T)HPGe 压 前置 Na(mPM放大器线性放大器气多道分析 器 PC机 高压 探头 HPGe和低 电荷前置 温真空系统「1放大器 高性能谱仪「多道分析器PC机 放大器
主要探测器：NaI(Tl) HPGe 对物质的穿透能力较强，为达到一定的探测效率，要求探测器灵敏 体积足够大，且采用较大核电荷数的元素作为探测物质。 高能 （X）射线能谱测量与分析 HPGe和低 温真空系统 电荷前置 放大器 高压 高性能谱仪 放大器 多道分析器 PC机 探头 NaI(Tl)+PM 前置 放大器 高压 线性放大器 多道分析器 PC机
脉冲幅度谱 369 kev 全能峰 30 实验 计算 反散 射峰 已本 20 康普 2 754 kev 顿沿 全能峰 10 人双逃单逃 单逃 双逃 湮没峰 500 1000 1500 道
脉冲幅度谱
能量刻度: 脉冲幅度→能量 对于一个能谱仪系统,要求二者之间是线性的。 测量一组已知能量的γ源的峰值, 得到一组(E,h,)值,对其进行 线性拟合得到能量刻度曲线(E-h 曲线)。 E=G·h+Eo 脉冲幅度(道数) 能量刻度在一定条件下进行,要求测量过程中测量条件不变, 在测量过程中(至少在测量前后)对系统进行定期校核
脉冲幅度能量 对于一个能谱仪系统，要求二者之间是线性的。 测量一组已知能量的源的峰值， 得到一组（Ei，hi）值，对其进行 线性拟合得到能量刻度曲线（E-h 曲线）。 能量刻度在一定条件下进行，要求测量过程中测量条件不变， 在测量过程中（至少在测量前后）对系统进行定期校核。 能量刻度： E G h E0 脉冲幅度（道数） E （keV ）
能谱 0.8 Backscatter Na source peak 2in.×2in. Nal crystal 369 kev 5三2 0.6 Annihilation radiation Double escape Single escape 0.4 k 2754 kev 0.2 1000 1500 2000 2500 3000 3500 E
能谱
Y能谱仪的主要性能指标:以Na(T)、HPGe为例 1.能量分辨率:可用全能峰的半高全宽FWHM或相对半高宽n表示 24Na 150h NaItTn 1.369 4123 1369 zmnz 5.2% 2.754 24Mg 3.7% E,=1.369MeV,2.754MeⅤ FWHM=△E 2030 3000 400c ENERGY (kev) △E/E 能量分辨率与能量相关,给出 能量分辨率是应指出能量
能谱仪的主要性能指标：以NaI(Tl)、HPGe 为例 1．能量分辨率： 可用全能峰的半高全宽FWHM或相对半高宽 η 表示 FWHM=E =E/E E=1.369MeV,2.754MeV 24Na 15.0h 0 4123 1369 - 24Mg 能量分辨率与能量相关，给出 能量分辨率是应指出能量