第七章晶粒度和晶格畸变测定 概述 衍射峰宽度计算 晶粒度和晶格畸变测量方法
第七章 晶粒度和晶格畸变测定 概述 衍射峰宽度计算 晶粒度和晶格畸变测量方法
7-1概述 材料在加工和处理过程中会引起晶格畸 变,以及具有特定性能的新型超细材料, 都需要了解其晶粒度及其畸变规律; 一般可采用电子显微镜直接观察,常规 的方法还是采用X射线衍射方法,可定量 给出统计的变化规律
7-1 概述 • 材料在加工和处理过程中会引起晶格畸 变，以及具有特定性能的新型超细材料， 都需要了解其晶粒度及其畸变规律； • 一般可采用电子显微镜直接观察，常规 的方法还是采用X射线衍射方法，可定量 给出统计的变化规律
行射线的宽化原因 仪器宽度一致宽因素 X射线源尺寸 平板试样聚焦不完全 一轴向发散度 样品透明度 一接收狭缝的大小 行射仪失调 。物理宽度 晶粒度致宽 点阵畸变致宽 固溶体中溶质浓度分布不均匀致宽,这是个干扰因 素,通常情况下不予考虑
衍射线的宽化原因 • 仪器宽度－致宽因素 – X射线源尺寸 – 平板试样聚焦不完全 – 轴向发散度 – 样品透明度 – 接收狭缝的大小 – 衍射仪失调 • 物理宽度 – 晶粒度致宽 – 点阵畸变致宽 – 固溶体中溶质浓度分布不均匀致宽，这是个干扰因 素，通常情况下不予考虑
Ⅹ射线衍射测定晶粒度和晶格畸变原理 X射线衍射理论指出,晶格畸变和晶块细 化均使倒易空间的选择反射区增大,从 而导致衍射线加宽,即物理加宽;实测 中它并不是单独存在的,伴随有仪器宽 度。X射线衍射测定晶粒度和晶格畸变的 核心问题是如何从实测衍射峰中分离出 物理加宽效应,进而再将晶格畸变和晶 块细化两种加宽效应分开
X射线衍射测定晶粒度和晶格畸变原理 • X射线衍射理论指出，晶格畸变和晶块细 化均使倒易空间的选择反射区增大，从 而导致衍射线加宽，即物理加宽；实测 中它并不是单独存在的，伴随有仪器宽 度。X射线衍射测定晶粒度和晶格畸变的 核心问题是如何从实测衍射峰中分离出 物理加宽效应，进而再将晶格畸变和晶 块细化两种加宽效应分开
7-2衍射峰宽度计算 物理宽度 仪器宽度 衍射峰实际宽度 1=x/I1 B1/2 [p/2 (a)半高宽B1/2 (5)积分宽度B; 图9-3半高宽与积分宽度
7-2 衍射峰宽度计算 • 物理宽度 • 仪器宽度 • 衍射峰实际宽度