2敏化通路法和D算法 ②传递D立方 基本门电路的传递D立方 3 2 D0 D 0 D D 123 3 D1 D I DD
2 敏化通路法和D算法 基本门电路的传递D立方 ② 传递D立方 1 2 3 1 2 3 0 0 D D D D 1 2 3 1 2 3 1 1 D D D D
2)敏化通路法和D算法 ③故障的原始D立方 元件E的输出处可产生故障信号D或D的最小输入条件 2)32)3 123 11D 00D 区别:故障原始D立方实为激活故障的条件 故障传递D立方为传播故障信号的条件
2）敏化通路法和D算法 ③故障的原始D立方 ---元件E的输出处可产生故障信号D或D的最小输入条件 1 2 3 1 2 3 1 2 3 1 1 D 1 2 3 0 0 D 区别：故障原始D立方实为激活故障的条件 故障传递D立方为传播故障信号的条件
2布尔差分法 ◆用数学方法来研究故障的传播 術点:普遍性.、完备性、严格、简洁 ◆可以用于多输出电路及多故障的测试
2 布尔差分法 ◆用数学方法来研究故障的传播 ◆优点：普遍性、完备性、严格、简洁、 明晰 ◆可以用于多输出电路及多故障的测试
111数字系统测试的基本原理 111.3时序电路测试方法简介
11.1数字系统测试的基本原理 11.1.3 时序电路测试方法简介
11.13时序电路测试方法简介 引言 ◆时序逻辑电路的测试比组合电路困难 十时序电路中存在反馈,对电路的模拟、故障的侦 查和定位带来困难 +时序电路中,t时刻的输出响应,既取决于t时刻 的输入,又取决于在些以前的输入,甚至可能与 从初始状态一直到时刻t的所有输入都有关系 +时序电路的存贮作用往往使电路中一个单故障 相当于组合电路中的多故障,测试时序电路中 一个故障不再是单个简单的测试矢量,而需要 定长度的输入矢量序列
11.1.3 时序电路测试方法简介 引言 ◆时序逻辑电路的测试比组合电路困难 时序电路中存在反馈，对电路的模拟、故障的侦 查和定位带来困难 时序电路中， t时刻的输出响应，既取决于t时刻 的输入，又取决于在此以前的输入，甚至可能与 从初始状态一直到时刻t的所有输入都有关系 时序电路的存贮作用往往使电路中一个单故障 相当于组合电路中的多故障，测试时序电路中 一个故障不再是单个简单的测试矢量，而需要 一定长度的输入矢量序列