3故障模型 (2)桥接故障( Bridge Faults) F Y (3)延迟故障( De l ay Faults) ◆延迟故障:电路延迟超过允许值而引起的故障 ◆时延测试验证电路中任何通路的传输延迟不超 过系统时钟周期
3 故障模型 （2）桥接故障（Bridge Faults ） F x1 . . . xs xs+1 . . . xn Y p1 ps x1 xs . . . Y xn xs+1 . . . （3）延迟故障（Delay Faults ） ◆延迟故障:电路延迟超过允许值而引起的故障 ◆时延测试验证电路中任何通路的传输延迟不超 过系统时钟周期
3故障模型 (4)暂态故障( Temporary Faults) 类型:瞬态故障和问歇性故障 瞬态故障:电源干扰和α粒子辐射等原因造成 门歇性故障:元件参数变化、接插件不可靠等造成
3 故障模型 （4）暂态故障（Temporary Faults ） 类型：瞬态故障和间歇性故障 瞬态故障 ：电源干扰和α粒子辐射等原因造成 间歇性故障：元件参数变化、接插件不可靠等造成
11.1.2组合电路测试方法简介 1敏化通路法和D算法 2布尔差分法
11.1.2 组合电路测试方法简介 1 敏化通路法和D算法 2 布尔差分法
1敏化通路法和D算法 (1)敏化通路法 ◆通路(Path)和敏化通路( Sensitized path) A f b C e g 电路的敏化过程 Ba y 0→10→→10→→1 1→01→01→0 ◆故障a→f→g:故障传播或前向跟踪 ◆一致性检验或反相跟踪( Backward trace)
1 敏化通路法和D算法 ◆通路（Path）和敏化通路(Sensitized Path) （1）敏化通路法 A B x1 x2 x3 a b c d e f g y C a f y 0→1 0→1 0→1 1→0 1→0 1→0 ◆故障a→f→g:故障传播或前向跟踪 ◆一致性检验或反相跟踪(Backward Trace) 电路的敏化过程
1敏化通路法和D算法 ◆故障传播和通路敏化的条件 通路内一切与门和与非门的其余输入端均应赋于 1”值,而一切或门和或门的其余输入端应赋于“0 值。 a f-x: S-a-0 e g 有扇出电路的敏化过程
1 敏化通路法和D算法 ◆故障传播和通路敏化的条件 通路内一切与门和与非门的其余输入端均应赋于 “1”值，而一切或门和或非门的其余输入端应赋于“0” 值。 x1 x2 x3 a b c d e f g y x2 :s-a-0 x1 x2 x3 a b c d e f g y x2 :s-a-0 x1 x2 x3 a b c d e f g y x2 :s-a-0 有扇出电路的敏化过程