4.1.3CP等离子体发射光谱仪结哟原理 载有试佯B的载气具有 定的流速时,就能穿 进等离子体温度较低的 中心,使等离子体形成 中心通道E。经过通道 的试样在周围高温加热 下,温度可达6000 7000K。在等离子体F 外管 中发生原子化和激发 中管 内管 图4-3电感耦合高频等离了炬剖面图
4.1.3 ICP等离子体发射光谱仪结构原理 载有试佯B的载气具有 一定的流速时，就能穿 进等离子体温度较低的 中心，使等离子体形成 中心通道E。经过通道 的试样在周围高温加热 下，温度可达6000一 7000K。在等离子体F 中发生原子化和激发
4.1.3ICP等离子体发射光谱仪结构原理 特点: 等离子体光源的工作温度比其他光源高,可以激 发那些难激发的元素 在这样的高温且又是惰性气氛条件下,几乎任何 元素都不能再呈化合物状态存在 原于化条件极为良好,谱线强度大,背景小,可 使测定的检出限降低 c试样中基体和共存元素干扰小 分析结果再现性好、准确度高
4.1.3 ICP等离子体发射光谱仪结构原理 特点： 等离子体光源的工作温度比其他光源高，可以激 发那些难激发的元素 在这样的高温且又是惰性气氛条件下，几乎任何 元素都不能再呈化合物状态存在 原于化条件极为良好，谱线强度大，背景小，可 使测定的检出限降低 试样中基体和共存元素干扰小 分析结果再现性好、准确度高
4.1.3ICP等离子体发射光谱仪结构原理 3.分光仪 分光仪位于主机机拒的上部,由聚光镜、入 射狭缝、光栅、出射狭缝、光电倍增管、分 光室、机内恒温系统等组成 ■聚光镜置于分光室外,入射狭缝、光栅、出 射狭缝、光电倍增管置于分光室内;机内恒 温系统是内部热风循环系统
4.1.3 ICP等离子体发射光谱仪结构原理 ３.分光仪 分光仪位于主机机拒的上部，由聚光镜、入 射狭缝、光栅、出射狭缝、光电倍增管、分 光室、机内恒温系统等组成 聚光镜置于分光室外，入射狭缝、光栅、出 射狭缝、光电倍增管置于分光室内；机内恒 温系统是内部热风循环系统
3[4 温控系统;2负高压电源 3-积分放大;1一数据采集; 9.C 5—微处理机;6—显乐器 打印机;8—裔颍发生器; S一分光器;日一衍射光栅; S1-入射秧缝 S2一出射狭缝;P光电倍增管; P—等离子体火炬r I!C一高频感应图 5·C I一炬管 冷却气 辅助气 85Sa朗 g;载气;N一雾化器 图4-4ICP结构原理示意图 S.C一室;Sam一样品
4.1.3CP等离子体发射光谱仪结构原理 4.微机测光系统 测光通道数一般为50道左右,每一通道设一放大器.分段积 分测量 组成:低压电源、高压电源、微型计算机系统、接口电路和 积分电路 低压电源是由市电220v电压经变压器降压后通过双桥进行整流,经 电容滤波为稳乐器提供+-15V串型稳压电源。 高压电源是由市电经整流、滤波和稳压变成直流高压电源(1000V, 20A,稳定度0.05%)供光电倍增管电源 α微型计算机系统,包括主机、软盘驱动器、打印机、显示器、软件 操作系统等 接口电路包括总线缓冲驱动、命令译码、多路选择控制、中断及定 时、A/D及D/A转换、显示及过程控制电路
4.1.3 ICP等离子体发射光谱仪结构原理 ４.微机测光系统 测光通道数一般为50道左右，每一通道设一放大器．分段积 分测量 组成：低压电源、高压电源、微型计算机系统、接口电路和 积分电路 低压电源是由市电220v电压经变压器降压后通过双桥进行整流，经 电容滤波为稳乐器提供+-15v串型稳压电源。 高压电源是由市电经整流、滤波和稳压变成直流高压电源(一1000v， 20A，稳定度0.05％)供光电倍增管电源。 微型计算机系统，包括主机、软盘驱动器、打印机、显示器、软件 操作系统等 接口电路包括总线缓冲驱动、命令译码、多路选择控制、中断及定 时、A／D及D／A转换、显示及过程控制电路