2.实验试块 CTX一A(图3-1)，CTX—B.(图3-2)，自做试块如图3-3和图3-4。 巾2X4 50 250 图3-1CTX一A,试块(-25mm) 40 30 图3-2CTX-B试块 (-60mm） 200 图33灵敏度试块 00 ⊕0)B 图34比较试块(6-20mm) 15
2.实验试块 CTX—A1（图3-1），CTX—B1（图3-2），自做试块如图3-3和图3-4。 图3-1 CTX—A1试块 （δ=25mm） 图3-2 CTX—B1试块 （δ=60mm） 图3-3 灵敏度试块 图3-4 比较试块 （δ=20mm） 15
四、实验方法 1.仪器水平零点的调节 水平零点一波形的始端（探头的入射点）与荧光屏上的刻度零点重合。 使用单探头工作，选取o20、p16、p14,工作频率为2.5MC的直探头。 将探头电缆接于“发的插座上，而探头开关拨至“单”的位置，电源接通后，在CTK一A 试块的加适量的机油后，把探头放置其上，调节水平”和深度“粗调”旋钮，使其底波 位于10格处（代表100mm),对于辉度”、聚焦”、“增益”、衰减”、抑制等旋纽适当 调节，以达到波形清晰而无杂波为原则。 2.水平线性误差的测定 水平线性一扫描线上读出的各个缺陷反射波距离和各个实际声程距离的线性关系 (正比关系)。 同1所述，只将探头放在CTK一A的B处，抑制置于O”,调节深度细调旋钮，使其 荧光屏上只出现4个回波(B.、B、B、B.),并显示在时间轴上，如图4-5所示。将B、B 分别对应于时间轴上的刻度25和100，此时B、B的波幅上升点分别应在50、75处，若出现 偏差距离为：和，则其中的最大偏差为°，时间轴全刻度为b,则水平线性误差为： a L=0.75b 图3-5水平线性误差测定图 3灵敏度的测定 灵敏度一在一定的探测范围内，能探出最小缺陷能力。（相对） 同1，将探头放在图43试块A面，定出底波，将抑制置于0”，增益”置于最大，然 后在A面上移动探头，放在柱心上，探出缺陷孔，调节衰减器，使平底孔反射波高为100% 此时记下衰减器的读数。此值即为灵敏度余值。 4.盲区的测定 盲区一仪器和探头组合后，能发现由探头入射点能够探出缺陷的最小距离。 接3探测灵敏度记下衰减余量后，仪器上各个旋钮不动，将探头放在图84的试块A处， 此时若在荧光屏上清晰地显示出2平底孔的反射波（反射波的前沿与水平线清晰相交）。 16
四、实验方法 1.仪器水平零点的调节 水平零点— 波形的始端（探头的入射点）与荧光屏上的刻度零点重合。 使用单探头工作，选取φ20、φ16、φ14，工作频率为2.5MC的直探头。 将探头电缆接于“发”的插座上，而探头开关拨至“单”的位置，电源接通后，在CTK—A 试块的加适量的机油后，把探头放置其上，调节“水平”和深度“粗调”旋钮，使其底波 位于10格处（代表100mm），对于“辉度”、“聚焦”、“增益”、“衰减”、“抑制”等旋钮适当 调节，以达到波形清晰而无杂波为原则。 2.水平线性误差的测定 水平线性 — 扫描线上读出的各个缺陷反射波距离和各个实际声程距离的线性关系 （正比关系）。 同1所述，只将探头放在CTK—A1的B处，“抑制”置于“0”，调节深度“细调”旋钮，使其 荧光屏上只出现4个回波（B1、B2、B3、B4），并显示在时间轴上，如图4-5所示。将B1、B4 分别对应于时间轴上的刻度25和100，此时B1、B2的波幅上升点分别应在50、75处，若出现 偏差距离为a 2 和 a 3 ，则其中的最大偏差为a max ，时间轴全刻度为 b ，则水平线性误差为： amax L 0.75b 图 3-5 水平线性误差测定图 3.灵敏度的测定 灵敏度 — 在一定的探测范围内，能探出最小缺陷能力。（相对） 同1，将探头放在图4-3试块A面，定出底波，将“抑制”置于“0”，“增益”置于最大，然 后在A面上移动探头，放在柱心上，探出缺陷孔，调节衰减器，使平底孔反射波高为100%， 此时记下衰减器的读数。此值即为灵敏度余值。 4.盲区的测定 盲区——仪器和探头组合后，能发现由探头入射点能够探出缺陷的最小距离。 接3探测灵敏度记下衰减余量后，仪器上各个旋钮不动，将探头放在图8-4的试块A处， 此时若在荧光屏上清晰地显示出φ2平底孔的反射波（反射波的前沿与水平线清晰相交）。 16
此时测量出探头所对准的孔底到探头的接触面的距离，该值为该探头和仪器组合的盲区 如放在A处荧光屏上显示。可移动到B处-。以显示清晰为至。 5.分辨力的测定 分辨力一在荧光屏上能够辨认工作内两相邻缺陷的能力。 测定方法为：同4将探头放在CTK一A试块C处，“抑制置于0，“增益深度“粗调， 细调放在适当位置，将探头左右移动，看其A'、B、C三处的反射波形状，根据波形在 荧光屏如图46所示，读出a、b,则分辨力： F=9T85)5mm 图3-6荧光屏上的波形示意图 6,纵波探伤法一探钢件 (1)探前准备 ①对于工件表面要测部位，若能用机械加工，则应先进行加工，表面光洁度应达到 一定的要求，若不能加工，则应使表面去掉铁锈，赃物用砂布磨光，满足一定的光洁度要 ②根据工件的大小、形状，估计一般容易出现的位置，选择探头、频率，准备好试 块、机油和钢板尺等工具之类。 (2)探测程序 ①调节水平零点同1。 ②调灵敏度 根据工件的作用按照国家标准（在工件内部，合格品不允许有最大缺陷）和工件厚度 为依托，进行灵敏度调节，调节灵敏度时，灵敏度试块的厚度必须等于被测工件厚度。所 以在测量时，先将探头放在灵敏度试块上，调节仪器“水平深度“粗调”、细调”、“增益” “抑制”、“衰减等旋钮，使其荧光屏上出现清晰的始波、底波（始波对准0”，底波对准“10）。 人工缺陷波（人造缺陷是根据标准按工件合格与否所造），可达满幅的50%，而刚好无杂波， 即为灵敏度调好。 ③探伤 按上述将探头放在被测工件上，从一端开始缓慢向另一端移动，探头移动区要互相重 叠，以防漏掉缺陷，发现缺陷时，探头挺止前进，在缺陷附近（前后左右）移动。找出缺 17
此时测量出探头所对准的孔底到探头的接触面的距离，该值为该探头和仪器组合的盲区。 如放在A处荧光屏上显示。可移动到B处┄┄。以显示清晰为至。 5.分辨力的测定 分辨力——在荧光屏上能够辨认工作内两相邻缺陷的能力。 测定方法为： 同4 将探头放在CTK—A试块C处，“抑制”置于“0”，“增益”深度“粗调”， “细调”放在适当位置，将探头左右移动，看其A’、B’、C’三处的反射波形状，根据波形在 荧光屏如图4-6所示，读出a、b，则分辨力： F (91 85) a b mm 图 3-6 荧光屏上的波形示意图 6.纵波探伤法 — 探钢件 （1）探前准备 ① 对于工件表面要测部位，若能用机械加工，则应先进行加工，表面光洁度应达到 一定的要求，若不能加工，则应使表面去掉铁锈，赃物用砂布磨光，满足一定的光洁度要 求。 ② 根据工件的大小、形状，估计一般容易出现的位置，选择探头、频率，准备好试 块、机油和钢板尺等工具之类。 （2）探测程序 ① 调节水平零点同1。 ② 调灵敏度 根据工件的作用,按照国家标准(在工件内部，合格品不允许有最大缺陷)和工件厚度 为依托，进行灵敏度调节，调节灵敏度时，灵敏度试块的厚度必须等于被测工件厚度。所 以在测量时，先将探头放在灵敏度试块上，调节仪器“水平”深度“粗调”、“细调”、“增益”、 “抑制”、“衰减”等旋钮，使其荧光屏上出现清晰的始波、底波（始波对准“0”，底波对准“10”）。 人工缺陷波（人造缺陷是根据标准按工件合格与否所造），可达满幅的50%，而刚好无杂波， 即为灵敏度调好。 ③ 探伤 按上述将探头放在被测工件上，从一端开始缓慢向另一端移动，探头移动区要互相重 叠，以防漏掉缺陷，发现缺陷时，探头挺止前进，在缺陷附近（前后左右）移动。找出缺 17
陷在荧光屏上的位置，用钢板尺量出探头中心到一端面的距离，此处编号为缺陷1。再往 前移动探头，照此法将所测部位探完，记下缺陷数(1、2、3、--)。 ④缺陷的定位 同前将探头移到缺陷L,前后左右移动，进一步核对上面测得的数字。根据荧光屏的 读数和钢板尺的测量数，就可定出缺陷的位置来。缺陷的垂直位置为： 水平位置为钢板尺读数。假设工件如图3.7。 100 图37工件及缺陷定位 h=0150=80) 由XB h则： 1100 即缺陷1在距A端面100mm,距B端面75mm深处。 ⑤缺陷的定量分析 ā.试块比较法仍同前将探头放在缺陷1处，观察缺陷波在荧光屏上的显示情况，如 伤波超过50%，说明此缺陷大于对照试块中的人工缺陷，此工件可报废或是次品，其确定 次品的程度还要根据人工缺陷孔的大小对照。 b.半波法同前将探头放在缺陷1处，探头围绕伤波最高峰前后左右移动。探头往 前，波峰从最高下降一半时此点为，然后同样将探头左右移动距离，再根据荧光屏上波 幅的高低、宽窄，就可确定缺陷的大小和形状。 ®缺陷的定位分析 缺陷的定位、定量分析后，根据缺陷的大小、形状和伤波的形状，再根据工件加工工 艺，各步易于造成各种缺陷的原因综合分析。锻件易出现白点，气孔裂纹，非金属夹杂疏 松等。铸件易出现缩孔、非金屈夹杂物、疏松等。 白点：缺陷波呈纵集状，数个波同时出现，波峰清晰。尖锐有力，有重复呈现的现 缘。 缩孔：缺陷波高大，在缺陷波前后尚在些微弱的反射波，当缺陷较大时，底波严重 衰减或消失。 气孔：缺陷波形尖锐、陡峭、波根清晰。 18
陷在荧光屏上的位置，用钢板尺量出探头中心到一端面的距离，此处编号为缺陷1。再往 前移动探头，照此法将所测部位探完，记下缺陷数（1、2、3、┄┄）。 ④ 缺陷的定位 同前将探头移到缺陷L，前后左右移动，进一步核对上面测得的数字。根据荧光屏的 读数和钢板尺的测量数，就可定出缺陷的位置来。缺陷的垂直位置为： 水平位置为钢板尺读数。假设工件如图3-7。 图 3-7 工件及缺陷定位 X F XB h 1 h ， X h F 1 h 50 150 mm 75( ) 由 X B h 则： 1 100 即缺陷1在距A端面100mm，距B端面75mm深处。 ⑤ 缺陷的定量分析 a. 试块比较法 仍同前将探头放在缺陷1处，观察缺陷波在荧光屏上的显示情况，如 伤波超过50%，说明此缺陷大于对照试块中的人工缺陷，此工件可报废或是次品，其确定 次品的程度还要根据人工缺陷孔的大小对照。 b. 半波法 同前将探头放在缺陷1处，探头围绕伤波最高峰前后左右移动。探头往 前，波峰从最高下降一半时此点为b，然后同样将探头左右移动距离，再根据荧光屏上波 幅的高低、宽窄，就可确定缺陷的大小和形状。 ⑥ 缺陷的定位分析 缺陷的定位、定量分析后，根据缺陷的大小、形状和伤波的形状，再根据工件加工工 艺，各步易于造成各种缺陷的原因综合分析。锻件易出现白点，气孔裂纹，非金属夹杂疏 松等。铸件易出现缩孔、非金属夹杂物、疏松等。 白点： 缺陷波呈纵集状，数个波同时出现，波峰清晰。尖锐有力，有重复呈现的现 象。 缩孔： 缺陷波高大，在缺陷波前后尚在些微弱的反射波，当缺陷较大时，底波严重 衰减或消失。 气孔： 缺陷波形尖锐、陡峭、波根清晰。 18
疏松：使底波明显降低甚至消失。 将上述过程认真进行，并定位、定量、定性分析无误差后，填写探伤报告，即为结束。 六、实验结果 1.对某型超声波仪器性能的评定：水平线性误差。 2.仪器和探头组合性能、灵敏度、，盲区、分辨力。 3.对工件进行探伤的方法，探测结果有无缺陷。缺陷的位置大小、性质如何？ 七、实验报告 1.对 型超声波仪器性能评定：水平线性误差为 2.仪器 型与探头组合性能；探头规格 (1)灵敏度：探测深度200毫米φ2平底孔，回波高度为5格时仪器的灵敏度余量 为 dB (2)探测2000毫米φ2平底孔灵敏度条件下的盲区是 毫米。 (3)分辨力为 3.工件探伤报告单（另填） 4.讨论与建议
疏松： 使底波明显降低甚至消失。 将上述过程认真进行，并定位、定量、定性分析无误差后，填写探伤报告，即为结束。 六、实验结果 1. 对某型超声波仪器性能的评定：水平线性误差。 2. 仪器和探头组合性能、灵敏度、，盲区、分辨力。 3. 对工件进行探伤的方法，探测结果有无缺陷。缺陷的位置大小、性质如何？ 七、实验报告 1. 对 2. 仪器 型超声波仪器性能评定；水平线性误差为 型与探头组合性能；探头规格 。 。 （1） 灵敏度：探测深度200毫米φ2平底孔，回波高度为5格时仪器的灵敏度余量 为 dB。 （2） 探测2000毫米φ2平底孔灵敏度条件下的盲区是 （3） 分辨力为 。 3. 工件探伤报告单（另填） 4. 讨论与建议。 19 毫米