ARM使能MMU时存储访问过程 虚拟地址 ARM Cache 与Write Cache内容获 取硬件系统 Buffer C、B位 域控制位 主存储系统 物理地址 访问权限 TLB 控制硬件 页表遍历硬 访问控制位 件系统 llxx@ustc.edu.cn 26/111
ARM使能MMU时存储访问过程 llxx@ustc.edu.cn 26/111
ARM MMU Use 2 level page table with TLB Memory granularity:3 options supported -分区模式：1 MB sections 一分页模式 ·Large pages(64 KBytes)-一次访问16KB ·Small pages(4 KBytes)-一次访问1KB when virtual address not mapped or permission check fails:Puts processor in Abort Mode llxx@ustc.edu.cn 27/111
ARM MMU • Use 2 level page table with TLB • Memory granularity: 3 options supported – 分区模式：1MB sections – 分页模式 llxx@ustc.edu.cn 27/111 • Large pages (64KBytes) - 一次访问16KB • Small pages (4KBytes) - 一次访问1KB • when virtual address not mapped or permission check fails：Puts processor in Abort Mode
访问控制 AP SR 特权级时访问权限 用户级时访问权限 0b00 00 没有访问特权 没有访问特权 0b00 10 只读 没有访问特权 0b00 01 只读 只读 0b00 11 不可预知 不可预知 0b01 XX 读/写 没有访问特权 0b10 XX 读/写 只读 0b11 XX 读/写 读/写 llxx@ustc.edu.cn 28/111
访问控制 llxx@ustc.edu.cn 28/111
ARM对系统测试与调试的支持 ·嵌入式ICE-RT:在线CPU仿真器，支持应用软件调试 -支持软件断点和硬件断点设置 一设置复杂的断点触发条件 实时跟踪目标程序运行 -提供shadow RAM,实时查看内存和变量 ·含 JTAG (Joint Test Action Group) -嵌入式跟踪宏单元(ETM,Embedded Trace Macrocell) ·在JTAG的基础上，增加了硬件断点 ·设计成驻留在ARM处理器上，用以监控内部总线， 并能以核速度无妨碍地跟踪指令和数据的访问。 llxx@ustc.edu.cn 29/111
ARM对系统测试与调试的支持 • 嵌入式ICE-RT：在线CPU仿真器，支持应用软件调试 – 支持软件断点和硬件断点设置 – 设置复杂的断点触发条件 – 实时跟踪目标程序运行 – 提供shadow RAM，实时查看内存和变量 llxx@ustc.edu.cn 29/111 – shadow RAM • 含 – JTAG (Joint Test Action Group) – 嵌入式跟踪宏单元(ETM，Embedded Trace Macrocell) • 在JTAG的基础上，增加了硬件断点 • 设计成驻留在ARM处理器上，用以监控内部总线， 并能以核速度无妨碍地跟踪指令和数据的访问
JTAG IEEE1149.1标准，对PCB中的集成电路进行互连完整性测试 -检测开路和短路 -只需将JTAG接口同JTAG仿真器硬件连接，利用相应的调试工具通过 边界扫描便可以被测试。 ·JTAG接口定义： -TMS:测试模式选择(Test Mode Select) ·通过TMS信号控制JTAG状态机的状态 -TCK:JTAG的时钟信号 -TDl:数据输入信号 -TDO:数据输出信号 - nTRST:JTAG复位信号 ·复位JTAG的状态机和内部的宏单元(Macrocell) 。 利用ARM处理器中的调试模块的功能，通过其JTAG边界扫描 口来与仿真器连接，对芯片的内部总线，I/0口等内部工作 状态信息进行监控，从而达到调试的目的。 llxx@ustc.edu.cn 30/111
JTAG • IEEE1149.1标准，对PCB中的集成电路进行互连完整性测试 – 检测开路和短路 –只需将JTAG接口同JTAG仿真器硬件连接，利用相应的调试工具通过 边界扫描便可以被测试。 • JTAG接口定义： – TMS： 测试模式选择（Test Mode Select） • 通过TMS信号控制JTAG状态机的状态 – TCK ：JTAG的时钟信号 llxx@ustc.edu.cn 30/111 – TCK ：JTAG的时钟信号 – TDI：数据输入信号 – TDO ：数据输出信号 – nTRST：JTAG复位信号 • 复位JTAG的状态机和内部的宏单元（Macrocell） • 利用ARM处理器中的调试模块的功能，通过其JTAG边界扫描 口来与仿真器连接，对芯片的内部总线，I/O口等内部工作 状态信息进行监控，从而达到调试的目的