4.1 电阻、电感和电容的测量 4.2 半导体二极管、三极管与场效应管的测量 4.3 集成电路的测试

3.1 直流电流的测量 3.2 交流电流的测量 3.3 直流电压的测量 3.4 交流电压的测量 3.5 功率测量 3.6 数字万用表的特点与技术原理

2.1 测量标准 2.2 测量方法 2.3 测量误差 2.4 测量误差的合成与分配 2.5 测量数据处理

1.1 电子测量的基本概念 1.2 电子测量的内容、分类与特点 1.3 电子测量技术的发展历程和重要作用 1.4 本课程的任务和学习方法

11.1 科学制定测量方案 11.2 正确使用和维护电子测量仪器 11.3 电子测量设备的优化配置与优化设计

10.1 智能仪器与自动测量技术的发展历史 10.2 智能仪器与个人仪器 10.3 自动测试系统 10.4 虚拟仪器 10.5 网络化仪器与远程测控技术

第1章电子测量概论 第2章基本测量理论与测量数据处理 第3章电流、电压与功率测量 第4章电子元器件与集成电路测量 第5章测量用信号发生器 第6章频率与时间测量

一、半导体与数字集成电路： 1、1947年晶体管发明引起了电子学的一次革命，晶体管是约翰·巴丁、沃尔特·布雷登和威廉·肖克莱共同发明，该发明促成了计算机、通信等方面的飞速发展。鉴于它的重要价值，这些人共同获得了1956年的诺贝尔物理学奖

离散傅里叶变换在实际应用中是非常重要的，利用它可以计算信 号的频谱、功率谱和线性卷积等。但是，如果使用定义式(3.20)来 直接计算DFT，当N很大时，即使使用高速计算机，所花的时间也 太多。因此，如何提高计算DFT的速度，便成了重要的研究课题

频率取样是指对序列的傅里叶变换或系统的频率特性进行取样 。本节讨论在什么条件下能够用得到的频谱取样值无失真地恢复原信号或系统