第十章 扫描电子显微分析和电子探针
扫描电子显微分析和电子探针 第十章
本章内容 扫描电子显微镜(SM) 电子探针X射线显微分析(EPA)
扫描电子显微镜（SEM） 电子探针X射线显微分析(EPA) 本章内容
扫描电子显微镜(SEM) ◆ 1938年第一台SEM问世； ◆ 1965年第一台商用SEM问世； ◆SEM能弥补透射电镜样品制备要求很高的缺点； ◆景深大； ◆放大倍数连续调节范围大； ◆分辨本领比较高
◆ 1938年第一台SEM问世; ◆ 1965年第一台商用SEM问世; ◆ SEM能弥补透射电镜样品制备要求很高的缺点; ◆ 景深大; ◆ 放大倍数连续调节范围大; ◆ 分辨本领比较高。 扫描电子显微镜（SEM）
扫描电子显微镜(SEM) 「1) 成像物理信号 1.工作原理与构造 ) 构造 3) SEM主要性能 2.像衬原理★ 3.应用
扫描电子显微镜（SEM） 1.工作原理与构造 2.像衬原理 ★ 3.应用 1） 成像物理信号 2） 构造 3） SEM主要性能