实验二面内位移的散斑测量实验实验目的、1.掌握散斑测量平面位移的基本原理2.进行面内位移的散斑测量，对散斑测量形成定性认识二、实验原理当物体发生位移时，引起前方空间散斑场分布的变化，通过测量散斑场的变化，从而得到物体位移的相关信息。测量面内位移的原理见图1。实际测量时，以单束激光S照射物体U的表面，在物体前方空间将充满散斑，取相机靶面平行物平面的位置。当物体发生位移时，空间散斑颗粒也发生位移，则空间散斑在数字相机靶面上也同样发生位移，在电脑中分别记录下物体位移前后的空间散斑图。在位移前散斑图上，取散斑某子区，将其在位移后的数字散斑图上进行相关搜索，由相关系数的最大值求出位移值。SOUiPPp1P图1散斑面内位移测量原理图三、实验器材光电实验平台、电脑四、实验光路图4
4 实验二 面内位移的散斑测量实验 一、 实验目的 1. 掌握散斑测量平面位移的基本原理 2. 进行面内位移的散斑测量, 对散斑测量形成定性认识 二、 实验原理 当物体发生位移时，引起前方空间散斑场分布的变化，通过测量散斑场的变 化，从而得 到物体位移的相关信息。测量面内位移的原理见图 1。实际测量时， 以单束激光 S 照射物体 U 的表面，在物体前方空间将充满散斑，取相机靶面平行 物平面的位置。当物体发生位移时，空间散斑颗粒也发生位移，则空间散斑在数字 相机靶面上也同样发生位移，在电脑中分别记录下物体位移前后的空间散斑图。在 位移前散斑图上，取散斑某子区，将其在位移后的数字散斑图上进行相关搜索，由 相关系数的最大值求出位移值。 图 1 散斑面内位移测量原理图 三、 实验器材 光电实验平台、电脑 四、 实验光路图
-CMOSII机a-激光器，b-衰减片，c-反射镜，d-显微物镜，e-准直透镜，f-可变光阑，g-分光棱镜，i-反射机构，o-数字相机实验步骤五、1.开机，激光器a通电，待光强稳定；2.按实验光路图布置好光路，扩束激光；3.在反射机构i，上安装反射镜；4.调节反射机构及分光棱镜，使得激光照射进数字相机o；5.运行实验软件，选择实验二，点击“采集”，使得数字相机工作，移动数字相机o，使散斑图案清晰；6.将反射机构i上的反射器件替换为铝片，观察散斑图案，并保存图片；7.向任意方向轻移反射器件，观察散斑图案，并保存图片8.点击“数据处理”，在软件数据处理界面，分别点击“读取原始图像”、“读取位移图像”，选择开始保存的位移前后两幅图。点击“原始图像”“位移图像”按键可以分别观察读入图片是否正确。9.点击“散斑计算”，记录计算出的结果。10.重复6-9，多测几组数据并记录。5
5 a-激光器，b-衰减片，c-反射镜，d-显微物镜，e-准直透镜，f-可变光阑， g-分光棱镜， i-反射机构，o-数字相机 五、 实验步骤 1. 开机，激光器 a 通电，待光强稳定； 2. 按实验光路图布置好光路，扩束激光； 3. 在反射机构 i,上安装反射镜； 4. 调节反射机构及分光棱镜，使得激光照射进数字相机 o； 5. 运行实验软件，选择实验二，点击“采集”，使得数字相机工作，移动数字 相机 o，使散斑图案清晰； 6. 将反射机构 i 上的反射器件替换为铝片，观察散斑图案，并保存图片； 7. 向任意方向轻移反射器件，观察散斑图案，并保存图片 8. 点击“数据处理”，在软件数据处理界面，分别点击“读取原始图像”、“读 取位移图像”，选择开始保存的位移前后两幅图。点击“原始图像”“位移图像” 按键可以分别观察读入图片是否正确。 9. 点击“散斑计算”，记录计算出的结果。 10. 重复 6-9，多测几组数据并记录
实验三物体形变的散斑测量实验实验目的1.了解电子散斑干涉原理2.进行形变的散斑测量实验原理二、测量形变的原理见图1。M1是被测面，反射后的激光为物光，M2是参考面反射后的激光为参考光。物光和参考光在像面PP1上形成散斑干涉图。BoBiM被测面（粗糙面）激光MPPi图1形变测量原理图物光的光强分布为：(1)U。(r)= u.(r)expΦ。(r)其中u(r)是光波的振幅，Φ。(r)是经物体漫射后的物体光波的相位。参考光的光强分布为：(2)Ur(r)= ur(r)expdr(r)物光与参考光在CCD靶面上汇合形成光强I(r)为：(3)I(r)=u。+ur+2u.urcos(。-中R)当被测物体发生变形后，表面各点的散斑场振幅u。(n)基本不变，而位相。(r)将改变为。(r)-(r)，即(4)U。= u。(r)exp[8(r)- Ag(r)]其中Φ（r）为由于物体变形产生的相位变化。变形前后的参考光波维持不变。这样，变形后的合成光强I(r)为：(5)I'(r)= u。 +ur + 2u.ur cos[。-Φr -△p(r))对变形前后的两个光强进行相减处理：6
6 实验三 物体形变的散斑测量实验 一、 实验目的 1. 了解电子散斑干涉原理 2. 进行形变的散斑测量 二、 实验原理 测量形变的原理见图 1。M1 是被测面，反射后的激光为物光， M2 是参考面， 反射后的激光为参考光。物光和参考光在像面 PP1上形成散斑干涉图。 图 1 形变测量原理图 物光的光强分布为： U (r) u (r) exp (r) o = o Φo (1) 其中 ( ) 0 u r 是光波的振幅， ( ) 0 Φ r 是经物体漫射后的物体光波的相位。 参考光的光强分布为： UR (r) = uR (r)expΦR (r) (2) 物光与参考光在 CCD 靶面上汇合形成光强 I(r)为： ( ) 2 cos( ) 2 2 o R o R o R I r = u + u + u u φ − φ (3) 当被测物体发生变形后，表面各点的散斑场振幅u (r) o 基本不变，而位相 (r) φ o 将 改变为 (r) (r) φ o − Δφ ，即 ( ) exp[ ( ) ( )] ' U u r r r O = o φ o − Δφ (4) 其中ΔФ（r）为由于物体变形产生的相位变化。 变形前后的参考光波维持不变。这样，变形后的合成光强 ( ) ' I r 为： ( ) 2 cos[ ( )] ' 2 2 I r u u u u r = o + R + o R φ o − φ R − Δφ (5) 对变形前后的两个光强进行相减处理：
1 =|1(r)- 1(r)=u。+ur +2u.urcos[p。-ΦR-Ap(r)]-[u。+ur +2u.urcos(g。-R)]=4u.ur sin (0。 R)-0( sin 0()(6)12」2由式（6)可见，相减处理后的光强是一个包含有高频载波项A(r)l的低频条纹sin()。该低频条纹取决于物体变形引起的光sin(g。-Φr)- 22波相位改变。这个光波相位变化与物体变形关系从光波传播的理论可以推导出来，即有：g=[d(+coso)+d, sino)](7)元其中入是所用激光波长，θ是照明光与物体表面法线的夹角，d是物体变形的离面位移，d是物体变形的面内方向位移。为了使光路对离面位移敏感，应该使照明角θ比较小，即cosθ~1,sinθ~0，则由（7）式可以得到：4元d(8)Ap=1有（6)式可知，在暗条纹处：(9)Ag=2k元由(8)式和（9）式可得到：kad, =(10)2即暗条纹处的离面位移是半波长的整数倍。三、实验器材光电实验平台、电脑四、实验光路图.7
7 ( ) ( ) ' I = I r − I r = 2 cos[ ] ( ) [ 2 cos( )] 2 2 2 2 o R o R o R uo uR uouR o R u + u + u u φ −φ − Δφ r − + + φ −φ = 2 ( ) sin 2 ( ) 4 sin ( ) r r u uo R o R ϕ ϕ φ φ Δ ⎥ ⎦ ⎤ ⎢ ⎣ ⎡ Δ − − (6) 由 式 (6) 可 见 ， 相 减 处 理 后 的 光强是一个包含有高频载波项 ⎥ ⎦ ⎤ ⎢ ⎣ ⎡ Δ − − 2 ( ) sin ( ) r o R ϕ φ φ 的低频条纹 2 ( ) sin Δϕ r 。该低频条纹取决于物体变形引起的光 波相位改变。 这个光波相位变化与物体变形关系从光波传播的理论可以推导出来，即有： [ ] θ θ λ π φ (1 cos ) sin 2 1 2 Δ = d + + d (7) 其中λ 是所用激光波长，θ 是照明光与物体表面法线的夹角， 1 d 是物体变形的 离面位移， 2 d 是物体变形的面内方向位移。 为了使光路对离面位移敏感，应该使照明角θ 比较小，即cosθ ≈ 1,sinθ ≈ 0 ，则 由（7）式可以得到： 1 4 d λ π Δφ = (8) 有(6)式可知，在暗条纹处， Δφ = 2kπ (9) 由(8)式和（9）式可得到： 2 1 kλ d = （10） 即暗条纹处的离面位移是半波长的整数倍。 三、 实验器材 光电实验平台、电脑 四、 实验光路图