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西安交通大学:《半导体制造技术》课程教学资源(PPT课件讲稿)第十章 高级光刻工艺(ULSI/VLSI IC图形处理过程中存在地问题)
对于中规模、大规模和某些VLSI的IC,前面介绍的基本光刻工艺完全适用,然而 ,对于ULSI/VLSI IC 这些基本工艺已经明显力不能及。在亚微米工艺时代,某些光刻工艺在0.3µm以下明显显示出它的局限性。存在地问题主要包括:光学设备的物理局限;光刻胶分辨率的限制;晶园表面的反射现象和高低不平现象等。
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第十章基本咒刻工艺--从曝到最终检验 6 平整化 随着光刻次数的增加,晶园表面变得高低不 平,如图所示。平整化技术包括:1)复层光刻 胶工艺;2)工艺层平整化;3)回流技术;4)化 学机械研磨。易于反射的射线 掩膜版 光刻胶 金属 底基
第十章 基本光刻工艺------ 从曝光到最终检验 -6- ◼ 平整化 随着光刻次数的增加,晶园表面变得高低不 平 ,如图所示。平整化技术包括:1)复层光刻 胶工艺;2)工艺层平整化;3)回流技术;4)化 学机械研磨。 掩膜版 光刻胶 金属 底基 易于反射的射线
第十章基本光刻工艺--从曝光到最终检验 7 复层光刻胶 开始 涂第一层 烘焙第一层引起轻微流动 3.涂第二层,进行显影工艺 4.第一层无掩膜曝光 5.第一层显影 6.刻蚀和剥离
第十章 基本光刻工艺------ 从曝光到最终检验 -7- ◼ 复层光刻胶 开始 1. 第一层 涂 2. 焙第一层引起轻微流动 烘 3. 第二层,进行显影工艺 涂 4. 一层无掩膜曝光 第 5. 一层显影 第 6. 蚀和剥离 刻
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