平均粒径和颗粒分布 ● 实际粉体是由大量的微粒组成，微粒与微粒间的形状、大小并 不完全相同，每个微粒都有各自的粒径或等效粒径，通常需要 知道的不是某个独立粒子的大小，而是粉体整体的情况。对 于这种多分散颗粒体系的表征通常采用平均粒径和颗粒分布的 概念。 平均粒径计算方法： D >nD ∑n: n,第个颗粒的粒径，一般要求D50,一般文献中取100 纳米用 11
纳米材料基础与应用 11 ⚫ 实际粉体是由大量的微粒组成，微粒与微粒间的形状、大小并 不完全相同，每个微粒都有各自的粒径或等效粒径，通常需要 知道的不是某个独立粒子的大小，而是粉体整体的 情况。对 于这种多分散颗粒体系的表征通常采用平均粒径和颗粒分布的 概念。 平均粒径和颗粒分布 平均粒径计算方法： ni：第i个颗粒的粒径，一般要求i>50，一般文献中取100
平均粒径与颗粒分布 0.63 100.00 80.00 042 60.00 021 40.00 20.00- 0.00- 00 8 200.5 411.5 将频率分布曲线中最高峰值对应的粒径，累积分布曲线中颗粒 含量50%对应的粒径作为整体粉体材料的平均粒径。 米小用 12
纳米材料基础与应用 12 平均粒径与颗粒分布 将频率分布曲线中最高峰值对应的粒径，累积分布曲线中颗粒 含量50%对应的粒径作为整体粉体材料的平均粒径
A) Product A Product E i±4.4nm roduct F ±5.6nm 4000701 (nm) 本 13
纳米材料基础与应用 13
4.1.2显微图象分析法 显微图象分析法是通过各种高分辨的电子显微镜或扫 描探针显微镜获得纳米微粒放大后的颗粒图像，然后 由计算机软件进行边缘识别等处理，计算出每个颗粒 的投影面积，根据等效投影面积原理得出每个颗粒的 粒径，再统计出所设定的粒径区间的颗粒的数量，就 可以得到平均粒径及其粒径分布。 ● 具有测量的随机性、统计性和直观性，是测定结果与 实际颗粒分布吻合最好的测试技术。 玉 14
纳米材料基础与应用 14 ⚫ 显微图象分析法是通过各种高分辨的电子显微镜或扫 描探针显微镜获得纳米微粒放大后的颗粒图像，然后 由计算机软件进行边缘识别等处理，计算出每个颗粒 的投影面积，根据等效投影面积原理得出每个颗粒的 粒径，再统计出所设定的粒径区间的颗粒的数量，就 可以得到平均粒径及其粒径分布。 ⚫ 具有测量的随机性、统计性和直观性，是测定结果与 实际颗粒分布吻合最好的测试技术。 4.1.2显微图象分析法
4.1.2显微图象分析法 ●显微图像获得的主要设备有：电子显微镜（包括扫描电子显 微镜SEM、透射电子显微镜TEM)和扫描探针显微镜两大类。 ●获得纳米微粒放大后的颗粒图像，然后由计算机软件进行边 缘识别等处理，计算出每个微粒的投影面积，根据等效投影 面积原理得出每个颗粒的粒径，再统计出所设定的粒径区间 的颗粒的数量，就可以得到平均粒径及其粒径分布。图像分 析技术具有测量的随机性、统计性和直观性，是测定结果 与实际颗粒分布吻合最好的测试技术。 米用 15
纳米材料基础与应用 15 ⚫ 显微图像获得的主要设备有：电子显微镜（包括扫描电子显 微镜SEM、透射电子显微镜TEM）和扫描探针显微镜两大类。 ⚫ 获得纳米微粒放大后的颗粒图像，然后由计算机软件进行边 缘识别等处理，计算出每个微粒的投影面积，根据等效投影 面积原理得出每个颗粒的粒径，再统计出所设定的粒径区间 的颗粒的数量，就可以得到平均粒径及其粒径分布。图像分 析技术具有测量的随机性、统 计性和直观性，是测定结果 与实际颗粒分布吻合最好的测试技术。 4.1.2显微图象分析法