各种粒度测试方法及优缺点有哪些？ (1)筛分法： 优点：简单、直观、设备造价低，常用于大于40pm的样品。 缺点：结果受人为因素和筛孔变形影响较大。 (2)显微镜（图像）法： 优点：简单、直观，可进行形貌分析，适合分布窄（最大和最小粒径的比值小于0：1）的样品。 缺点：代表性差，分析分布范围宽的样品比较麻烦，无法分析小于1μm的样品。 (3)沉降法（包括重力沉降和离心沉降）： 优点：操作渐变，仪器可以连续运行，价格低，准确性和重复性较好，测试范围较广。 缺点：测试时间较长，操作比较繁琐。 (4)电阻法 优点：操作简便，可测颗粒数，等效概念明确，速度快，准确性好。 缺点：不适合测量小于0.1μm的颗粒样品，对粒度分布宽的样品更换小孔管比较麻烦。 (5)激光法 优点：操作简便，测试速度快，测试范围广，重复性和准确性好，可进行在线测量和干法测量。 缺点：结果受分布模型影响较大，仪器造价较高，分辨力低。 (6)电子显微镜法： 优点：适合测试超细颗粒甚至纳米颗粒，分辨力高，可进行形貌和结构分析，缺点：样品少， 代表性差，测量易受人为因素影响，仪器价格昂贵。 (7)光阻法： 优点：测试便捷快速，可测液体或气体中颗粒数，分辨力高。 缺点：不适用粒径小于1μm样品，进样系统比较讲究，仅适合对尘埃、污染物或已稀释好的 药物进行测量，对一般粉体用的不多。 (8)透气法：优点：仪器价格低。不用对样品进行分散，可测磁性材料粉体。缺点：只能 得到平均粒度值，不能测粒度分布：不能测小于5vm细粉。 (9)X射线小角散射法：用于纳米级颗粒的粒度测量。 (10)光子相关谱法（动态光散射法）：用于纳米级颗粒的粒度测量
各种粒度测试方法及优缺点有哪些？ (1)筛分法： 优点：简单、直观、设备造价低，常用于大于 40μ m 的样品。 缺点：结果受人为因素和筛孔变形影响较大。 (2)显微镜(图像)法： 优点：简单、直观，可进行形貌分析，适合分布窄(最大和最小粒径的比值小于 10：1)的样品。 缺点：代表性差，分析分布范围宽的样品比较麻烦，无法分析小于 1μ m 的样品。 (3)沉降法(包括重力沉降和离心沉降)： 优点：操作渐变，仪器可以连续运行，价格低，准确性和重复性较好，测试范围较广。 缺点：测试时间较长，操作比较繁琐。 (4)电阻法： 优点：操作简便，可测颗粒数，等效概念明确，速度快，准确性好。 缺点：不适合测量小于 0.1μ m 的颗粒样品，对粒度分布宽的样品更换小孔管比较麻烦。 (5)激光法： 优点：操作简便，测试速度快，测试范围广，重复性和准确性好，可进行在线测量和干法测量。 缺点：结果受分布模型影响较大，仪器造价较高，分辨力低。 (6)电子显微镜法： 优点：适合测试超细颗粒甚至纳米颗粒，分辨力高，可进行形貌和结构分析，缺点：样品少， 代表性差，测量易受人为因素影响，仪器价格昂贵。 (7)光阻法： 优点：测试便捷快速，可测液体或气体中颗粒数，分辨力高。 缺点：不适用粒径小于 1μ m 样品，进样系统比较讲究，仅适合对尘埃、污染物或已稀释好的 药物进行测量，对一般粉体用的不多。 (8)透气法：优点：仪器价格低。不用对样品进行分散，可测磁性材料粉体。缺点：只能 得到平均粒度值，不能测粒度分布；不能测小于 5μ m 细粉。 (9)X 射线小角散射法：用于纳米级颗粒的粒度测量。 (10)光子相关谱法(动态光散射法)：用于纳米级颗粒的粒度测量