原子发射光谱法是一种成分分析方法，可对约70种 元素（金属元素及磷、硅、砷、碳、硼等非金属元素） 进行分析。这种方法常用于定性、半定量和定量分析。 在一般情况下，用于1%以下含量的组份测定，检出 限可达ppm，精密度为±10%左右，线性范围约2个数量 级。但如采用电感耦合等离子体（ICP）作为光源，则可 使某些元素的检出限降低至10-3 ~ 10-4ppm，精密度达到 ±1%以下，线性范围可延长至7个数量级。这种方法可 有效地用于测量高、中、低含量的元素
原子发射光谱法是一种成分分析方法，可对约70种 元素（金属元素及磷、硅、砷、碳、硼等非金属元素） 进行分析。这种方法常用于定性、半定量和定量分析。 在一般情况下，用于1%以下含量的组份测定，检出 限可达ppm，精密度为±10%左右，线性范围约2个数量 级。但如采用电感耦合等离子体（ICP）作为光源，则可 使某些元素的检出限降低至10-3 ~ 10-4ppm，精密度达到 ±1%以下，线性范围可延长至7个数量级。这种方法可 有效地用于测量高、中、低含量的元素
二、原子发射光谱的产生 原子的外层电子由高能级向低能级跃迁，能量以电磁 辐射的形式发射出去，这样就得到发射光谱。原子发射 光谱是线状光谱(line spectra)。 一般情况下，原子处于基态，通过电致激发、热致 激发或光致激发等激发光源作用下，原子获得能量，外 层电子从基态跃迁到较高能态变为激发态 ，约经10-8 s， 外层电子就从高能级向较低能级或基态跃迁，多余能量 的发射可得到一条光谱线。 原子中某一外层电子由基态激发到高能级所需要的能
二、原子发射光谱的产生 原子的外层电子由高能级向低能级跃迁，能量以电磁 辐射的形式发射出去，这样就得到发射光谱。原子发射 光谱是线状光谱(line spectra)。 一般情况下，原子处于基态，通过电致激发、热致 激发或光致激发等激发光源作用下，原子获得能量，外 层电子从基态跃迁到较高能态变为激发态 ，约经10-8 s， 外层电子就从高能级向较低能级或基态跃迁，多余能量 的发射可得到一条光谱线。 原子中某一外层电子由基态激发到高能级所需要的能
量称为激发电位(Excitation potential)。原子光谱中每一条谱 线的产生各有其相应的激发电位。由激发态向基态跃迁所发 射的谱线称为共振线(resonance line)。共振线具有最小的激 发电位，因此最容易被激发，为该元素最强的谱线。 离子也可能被激发，其外层电子跃迁也发射光谱。由于 离子和原子具有不同的能级，所以离子发射的光谱与原子发 射的光谱不一样。每一条离子线都有其激发电位。这些离子 线的激发电位大小与电离电位高低无关。 在原子谱线表中，罗马数Ⅰ表示中性原子发射光谱的谱 线，Ⅱ表示一次电离离子发射的谱线，Ⅲ表示二次电离离子 发射的谱线例如Mg Ⅰ285.21nm为原子线，MgⅡ
量称为激发电位(Excitation potential)。原子光谱中每一条谱 线的产生各有其相应的激发电位。由激发态向基态跃迁所发 射的谱线称为共振线(resonance line)。共振线具有最小的激 发电位，因此最容易被激发，为该元素最强的谱线。 离子也可能被激发，其外层电子跃迁也发射光谱。由于 离子和原子具有不同的能级，所以离子发射的光谱与原子发 射的光谱不一样。每一条离子线都有其激发电位。这些离子 线的激发电位大小与电离电位高低无关。 在原子谱线表中，罗马数Ⅰ表示中性原子发射光谱的谱 线，Ⅱ表示一次电离离子发射的谱线，Ⅲ表示二次电离离子 发射的谱线例如Mg Ⅰ285.21nm为原子线，MgⅡ
280.27nm为一次电离离子线。 激发电位(Excitation potential) 谱线强度与激发电位成负指数关系。在温度一定时， 激发电位越高，处于该能量状态的原子数越少，谱 线强度越小。激发电位最低的共振线通常是强度最 大的线。 激发温度(Excitation temperature) 温度升高，谱线强度增大。但温度升高，电离 的原子数目也会增多，而相应的原子数减少，致使 原子谱线强度减弱，离子的谱线强度增大
280.27nm为一次电离离子线。 激发电位(Excitation potential) 谱线强度与激发电位成负指数关系。在温度一定时， 激发电位越高，处于该能量状态的原子数越少，谱 线强度越小。激发电位最低的共振线通常是强度最 大的线。 激发温度(Excitation temperature) 温度升高，谱线强度增大。但温度升高，电离 的原子数目也会增多，而相应的原子数减少，致使 原子谱线强度减弱，离子的谱线强度增大
基态原子数(number of ground atoms) 谱线强度与基态原子数成正比。在一定的条件下，基 态原子数与试样中该元素浓度成正比。因此，在一定的条 件下谱线强度与被测元素浓度成正比，这是光谱定量分析 的依据。 三、谱线的自吸与自蚀(self-absorption and selfreversal of spectral lines) 在实际工作中，发射光谱是通过物质的蒸发、激发、 迁移和射出弧层而得到的。首先，物质在光源中蒸发形成 气体，由于运动粒子发生相互碰撞和激发，使气体中产生
基态原子数(number of ground atoms) 谱线强度与基态原子数成正比。在一定的条件下，基 态原子数与试样中该元素浓度成正比。因此，在一定的条 件下谱线强度与被测元素浓度成正比，这是光谱定量分析 的依据。 三、谱线的自吸与自蚀(self-absorption and selfreversal of spectral lines) 在实际工作中，发射光谱是通过物质的蒸发、激发、 迁移和射出弧层而得到的。首先，物质在光源中蒸发形成 气体，由于运动粒子发生相互碰撞和激发，使气体中产生