反符合:利用反符合电路来消除符合事件的脉冲。 AB 反符合电路 AB V Y2 分析道脉冲 (探测器I) n‖n 反符合道 脉冲 (探测器I) 探测器Il 探测器反符合输出 全吸收反符合?谱仪
• 反符合：利用反符合电路来消除符合事件的脉冲。 2 1 2 1 e e e 探测器II 探测器I 分析道脉冲 （探测器I） 反符合道 脉冲 （探测器II） 反符合输出 V 2 1 全吸收反符合γ谱仪 A B A B 反符合电路 C
延迟符合:不同时发生的相关性事件,只要把先发 生的事件脉冲延迟一段时间,便可与后发生事件脉 冲在符合分辨时间内到达符合电路而产生符合脉冲。 这种方法称之为延迟符合。 β_-探测器1 时检1 B 符合 计数 探测器1 时检2 B 测量核激发态寿命或其他ns短时间间隔事件 是延迟符合的重要应用
• 延迟符合：不同时发生的相关性事件，只要把先发 生的事件脉冲延迟一段时间，便可与后发生事件脉 冲在符合分辨时间内到达符合电路而产生符合脉冲。 这种方法称之为延迟符合。 测量核激发态寿命或其他ns短时间间隔事件 是延迟符合的重要应用。 探测器1 探测器1 时检1 时检2 符 合 计 数 1 2 td1 td2 A B* B β γ
符合测量的基本关系式 偶然符合与符合分辨时间 两个独立的源 第一道成形脉冲|V 产生偶然符合计数率: 2T ≈2m1n 第二道成形脉冲Z 1.≈lh to+t rc 每个符合道的计数率越高,分辨时间越长,偶然符合计数率越大
符合测量的基本关系式 • 偶然符合与符合分辨时间 每个符合道的计数率越高，分辨时间越长，偶然符合计数率越大。 2 V t0 - t0+ t 第一道成形脉冲 第二道成形脉冲 两个独立的源 产生偶然符合计数率： i i n i n n n n n n ... 2 1 2 1 rc rc 1 2
真偶符合比 ≈Ag A 探测器I皿探测器Ⅱ n.≈A2Q nn≈2mn,=2Z2g12 rc β--yy 符合电路 cO 24 rc 符合输出 在符合分辨时间确定时,为保证真符合率大于偶然符合率, 源强必须小于12τ。(在A一定时,τ小真偶符合比越大。)
• 真偶符合比 符合电路 符合输出 探测器I 探测器II 在符合分辨时间确定时，为保证真符合率大于偶然符合率， 源强必须小于1/2。（在A一定时，越小真偶符合比越大。） co β γ γ n A n A n 2 1 rc co γ γ γ β β n A n A β γ γ 2 nrc 2nβ nγ 2A