方形散焦斑算子的拟合结果 原降质算子图 合质算子图 001 001 拟合差值图 误差图
方形散焦/斑算子的拟合结果 误差图
已做的工作 2.降质过程辨识 此外,还研究了平台的以下运动过程对成像 质量的影响 √勺如速直线运动 √角振动 √简谐振动 √复杂运动(恒幡变频运动、复杂简谐) 得到了它们对应的点护散函数。 )圖科改背大学 National University of Defense Technology
此外，还研究了平台的以下运动过程对成像 质量的影响： ✓匀加速直线运动 ✓角振动 ✓简谐振动 ✓复杂运动（恒幅变频运动、复杂简谐） 得到了它们对应的点扩散函数。 2. 降质过程辨识 二、已做的工作
光学系统的调制传递函数MF 光学系统的调制传递函数MTF=MTF·MTF2MTFo3MTFo (1)光波衍射限下的MTF取决于波长及孔径的形式,对于 圆形孔径为 arccos f≤∫ MTFOI3T 其它 式中,f=1(FN)为非相干光学系统的空间截止频率 四mm),4为非相千光波长,FN=F为相对孔径的倒数,F 为焦距,D为入瞳直径 (2)非衍射象差系统的MTFO2MTF2=exp(-2xa2 式中,σ=0.51r,r为象差引起的弥散圆半径。 National University of Defense Technology
(1) 光波衍射限下的MTFo1取决于波长及孔径的形式，对于 圆形孔径为 式中， 为非相干光学系统的空间截止频率 (lp/mm)，为非相干光波长， FN=F/D为相对孔径的倒数，F 为焦距，D为入瞳直径。 1 2 2 1 2 1 0 arccos c O c c c f f f f f MTF f f f − − = 其它 f F c N = 1/( ) (2) 非衍射象差系统的MTFO2 式中，=0.51r，r为象差引起的弥散圆半径。 2 2 2 MTF f O2 = − exp( ) 2 MTF MTF MTF MTF MTF O O O O O = 1 2 3 4 光学系统的调制传递函数 MTF0 光学系统的调制传递函数
(3)MTFo3表征光学材料不均匀性、应力不均匀性、零件加 工误差、装配校正误差及测量误差等因素的影响,实践经 验指出,MTF03=0.9。 J(2TANAf (4)焦点偏移的MTFo为MTFo4=nNMf 式中,△为轴向离焦量,NA=D/2F为数值孔径。对于同样的离 焦量,像元尺寸小的比像元尺寸大的MTF下降严重。 () 圖防科学技大学 National University of Defense Technology
(3) 表征光学材料不均匀性、应力不均匀性、零件加 工误差、装配校正误差及测量误差等因素的影响，实践经 验指出， 。 MTFO3 MTF03 = 0 9. (4) 焦点偏移的 MTFO4为 式中，为轴向离焦量，NA=D/2F为数值孔径。对于同样的离 焦量，像元尺寸小的比像元尺寸大的MTF下降严重。 1 4 ( ) 2 A O A J N f MTF N f =
CCD探测器的调制传递函数MTF=MTF2MTF·MF )几何尺寸的MTF,当CCD器件在扫描方向和在垂直扫描 方向的取样尺寸相当时,常用下式表示两个方向的MTF MTF.= sin(raf (2)电荷转移损失的MTF MTF=exp{-Ml-c0s(兀∫/fN) 式中,ε为一次转移的失效率;M为转移次数。 (3)光串扰的MTF,当CCD敏感元之间的沟存在缺陷时,像 元的电子会在像元之间扩散,引起MTF下降,其值为 MTE=coSh(d/Lo)/cosh(d/L 式中,L为扩散长度,L2=L2+(2n)2,d为像元间距。 圖防桦学技大学 National University of Defense Technology
(3) 光串扰的 ，当CCD敏感元之间的沟存在缺陷时，像 元的电子会在像元之间扩散，引起MTF下降，其值为 式中， 为扩散长度， ， 为像元间距。 (1) 几何尺寸的 ，当CCD器件在扫描方向和在垂直扫描 方向的取样尺寸相当时，常用下式表示两个方向的 MTF d L d L c = cosh( / ) / cosh( / ) 0 sin( ) g af MTF af = MTFg (2) 电荷转移损失的 式中，为一次转移的失效率；M为转移次数。 MTF M f f t N = − − exp{ [ cos( / )]} 1 MTFt MTF MTF MTF MTF d g t c = MTFc 2 2 2 L L f 0 ( ) 2 − − = + L0 d CCD探测器的调制传递函数 MTFg