MT探伤设备 令紫外灯的要求和使用:荧光磁粉探伤时,所使 用的黑光灯在工件表面的黑光辐照度应大于等 于1000ym2,波长320400m,中心波长 365nm。使用紫外灯时应注意:①刚点燃输出 达不到最大至少5min后使用。②减少开关次数。 ③使用一定时间后辐射能量下降,应定期测紫 外辐照度。④电压波动对紫外灯影响大必要时 装稳压器。⑤滤光片如损坏或脏时,及时更换。 ⑥避免磁悬液溅到紫外灯泡上发生炸裂。⑦不 要对着人眼直照
21 MT探伤设备 ❖ 紫外灯的要求和使用：荧光磁粉探伤时，所使 用的黑光灯在工件表面的黑光辐照度应大于等 于1000μw/cm2 ,波长320—400nm，中心波长 365nm。使用紫外灯时应注意：①刚点燃输出 达不到最大至少5min后使用。②减少开关次数。 ③使用一定时间后辐射能量下降，应定期测紫 外辐照度。④电压波动对紫外灯影响大必要时 装稳压器。⑤滤光片如损坏或脏时，及时更换。 ⑥避免磁悬液溅到紫外灯泡上发生炸裂。⑦不 要对着人眼直照
MT探伤设备 22磁场测量仪器 22.1特斯拉计(高斯计):利用霍尔效应制造的霍尔元 件做成的测量磁场强度的仪器。1T=1000Gs。测量时 要转动探头,使指示值最大,读数才正确。常用仪器 有GD-3(高斯计)和CT3毫特斯计。 22.2袖珍式场强计(磁场强度计):利用力矩原理做成 的简易测磁计。主要用于测退磁后的剩磁大小。常用 仪器有XCJ-A(精度01mT)、XCJ-B(精度01mT 即Gs)和XCJ-C(精度0.05mT)。注意,在非均匀 磁场中,场强计的动片只反映了受力的大小,与特斯 拉计的指示值无对应关系
22 MT探伤设备 2.2磁场测量仪器 2.2 .1特斯拉计（高斯计）：利用霍尔效应制造的霍尔元 件做成的测量磁场强度的仪器。1T=10000Gs。测量时 要转动探头，使指示值最大，读数才正确。常用仪器 有GD-3（高斯计）和CT-3毫特斯计。 2.2 .2袖珍式场强计（磁场强度计）：利用力矩原理做成 的简易测磁计。主要用于测退磁后的剩磁大小。常用 仪器有XCJ-A（精度0.1mT）、XCJ-B （精度0.1mT 即Gs）和XCJ-C （精度0.05mT） 。注意，在非均匀 磁场中，场强计的动片只反映了受力的大小，与特斯 拉计的指示值无对应关系
MT探伤设备 22.3磁化电流表:磁粉设备上,表征磁场强度的 电流值,至少半年校验一次。当设备进行重要 电气修理、周期大修或损坏时,应进行校验
23 MT探伤设备 2.2 .3磁化电流表：磁粉设备上，表征磁场强度的 电流值，至少半年校验一次。当设备进行重要 电气修理、周期大修或损坏时，应进行校验
MT探伤设备 23照度计 23.1白光照度计:测量被检工件表面的白光照度。 常用仪器有:ST-85型,量程是0 1999×1021x,分辨:0.11x。 ST-80(C)型,量程是0 1.999×1051x,分辨:0.11x。 232黑光辐照计:测量波长320400m,中心 波长365m的黑光辐照度。常用仪器为UVA, 量程是0199.9mw/cm2,分辨:0.1mw/m2
24 MT探伤设备 2.3照度计 2.3 .1白光照度计：测量被检工件表面的白光照度。 常用仪器有：ST-85型，量程是0— 1999×102 lx，分辨：0.1lx。 ST-80（C）型，量程是0— 1.999×105 lx，分辨：0.1lx。 2.3 .2黑光辐照计：测量波长320—400nm，中心 波长365nm的黑光辐照度。常用仪器为UV-A， 量程是0—199.9 mw/cm2 ，分辨：0.1mw/cm2
MT探伤设备 24标准试片 2.4.1作用:①检验设备、磁粉、磁悬液的综合性能 (系统灵敏度)。②检测磁场方向、有效磁化范围、 大致的磁场强度。③考察所用的探伤工艺和操作方法 是否妥当。④确定磁化规范。 2.4.2分类 常用试片一A1、C、D、M型四种。 所有试片的型号名称中的分数分子代表人工缺陷 槽的深度,分母表示试片的厚度,单位为μm。 试片由DT4电磁软铁(低碳纯铁)板制成
25 MT探伤设备 2.4标准试片 2.4.1作用： ①检验设备、磁粉、磁悬液的综合性能 （系统灵敏度）。②检测磁场方向、有效磁化范围、 大致的磁场强度。③考察所用的探伤工艺和操作方法 是否妥当。④确定磁化规范。 2.4.2分类： 常用试片—A1、C、D、M1型四种。 所有试片的型号名称中的分数分子代表人工缺陷 槽的深度，分母表示试片的厚度，单位为μm。 试片由DT4电磁软铁（低碳纯铁）板制成