八、X射线衍射其它应用
八、X射线衍射其它应用
谱线宽化 >几何宽化效应（仪器宽化效应） >物理宽化效应 ·细晶宽化 ·显微畸变宽化（微观应变) B.=Bpartictestrain 2
谱线宽化 几何宽化效应（仪器宽化效应） 物理宽化效应 • 细晶宽化 • 显微畸变宽化（微观应变） 2
谱线宽化 B.=BparticleBstrain Kλ +n tan O Dcose 干涉函数 E=-cot0△0 1G(9nki)2≈ (πe1)2 M,2 sin2(πN1e1) o=Ee=EBcoteθ/4 Bhkl≈0.892/(Dhkicosθ) osoo'g 7 月cs9-+7n0 KAD sin
谱线宽化 3 𝐺(𝑔ℎ𝑘𝑙) 2 ≈ 𝑠𝑖𝑛2 𝜋𝑁1𝜀1 (𝜋𝜀1) 2 (𝑁2𝑁3) 2 干涉函数 βℎ𝑘𝑙 ≈ 0.89𝜆/(𝐷ℎ𝑘𝑙𝑐𝑜𝑠θ) ε = −𝑐𝑜𝑡θΔθ σ = 𝐸·ε = 𝐸β𝑐𝑜𝑡θ/4
谱线宽化 D=元/(Bc0sθ) Mikrostruktur 10 nm Mikrostruktur>1μm 4
谱线宽化 4 𝐷 = 𝜆/(β𝑐𝑜𝑠θ)
非晶材料X射线分析 (a)27℃ 10 20 30 40 50 60 (6)60C (a (a)方石英(SiO2)晶体结构； (b)石英玻璃(SiO,)无规则网络结构 30 40 50 60 (图中只画出四面体中的三个氧离子) (eZ)I (c)100C 30 60 (d)120C 30 60 28() 非晶Si0,(玻璃)X射线衍射谱图 聚乙烯X射线衍射谱图 5
非晶材料X射线分析 非晶SiO 5 2（玻璃）X射线衍射谱图 聚乙烯X射线衍射谱图 （a）方石英（SiO2）晶体结构； （b）石英玻璃（SiO2）无规则网络结构 （图中只画出四面体中的三个氧离子）