http://www.periodictable.com/Properties/A/LatticeConstants.sp.wt.html 六、晶格参数的精确测定 80 60 40 20 0 20 40 60 80 100 Atomic Number
六、晶格参数的精确测定 http://www.periodictable.com/Properties/A/LatticeConstants.sp.wt.html
六、晶格参数的精确测定 ·问题的提出 ·误差来源 一测角仪、装样、单色器 实验参数设定 一管流、管压、扫描速度、狭缝 一 数据处理 ·方法
六、晶格参数的精确测定 • 问题的提出 • 误差来源 – 测角仪、装样、单色器 • 实验参数设定 – 管流、管压、扫描速度、狭缝 – 数据处理 • 方法
问题的提出 点阵常数是晶体物质的重要参量，它随物质的化学 成分和外界条件（温度和压力）而发生变化。 与点阵常数变化密切相关的物理问题： ·晶体物质的结合能 密度 热膨胀 固溶体类型 固溶度 固态相变 ·宏观应力
问题的提出 与点阵常数变化密切相关的物理问题： • 晶体物质的结合能 • 密度 • 热膨胀 • 固溶体类型 • 固溶度 • 固态相变 • 宏观应力 • …… 点阵常数是晶体物质的重要参量，它随物质的化学 成分和外界条件(温度和压力)而发生变化
In-situ high-T XRD-TisSig (2242) (3251) Intensity(arbitary unit) 0 200 E 400 59 60 600 61 800 aunejedwe *L.T.Zhang and J.S.Wu,Scripta Materialia,38(1998)307 29 64 0.755 65 1000 66 Ti Sia Ti Sig 0.750 0.525 0.745 0.520 0.740 0.515 ● ●a-axis ● c-axis 0.735 1 0.510 0 200 400 600 800 1000 0 200 400 600 800 1000 Temperature(C) Temperature(C)
*L.T. Zhang and J.S. Wu, Scripta Materialia, 38(1998)307 In-situ high-T XRD-Ti5Si3
An accuracy of at least 0.06%is required. Experiment data sum of peak 1 and peak 2 peak 1-y' peak 2-y 分峰条件： 峰形Voigt Accelerating Voltage Camera Length Magnification 200kV 10000× 500nm 置信度99% Misfit::0.15~0.35% 采集条件： 0.01/step aw=3.5238A 4s/step 72 7374 75 76 77 78 20
’ 采集条件： 0.01o /step 4s/step 分峰条件： 峰形 Voigt 置信度 99% An accuracy of at least 0.06% is required. Misfit: 0.15~0.35% (220) 𝑎𝑁𝑖=3.5238Å