测试系统的抗干扰技术
测试系统的抗干扰技术
、干扰源 测量过程中,除待测量信号外,各种不可见的、随机 的信号可能出现在测量系统中。这些信号与有用信号叠加 在一起,严重扭曲测量结果。 湿 射 械/热光度化电线 机 千/于/变学磁辐 扰/扰扰/化千|千射 干扰扰干 扰 扰 测量系统
测量过程中，除待测量信号外，各种不可见的、随机 的信号可能出现在测量系统中。这些信号与有用信号叠加 在一起，严重扭曲测量结果。 测量系统 射 线 辐 射 干 扰 电 磁 干 扰 机 械 干 扰 热 干 扰 光 干 扰 湿 度 变 化 干 扰 化 学 干 扰 一、干扰源
1、机械干扰 是由于机械振动或冲击,使检测装置中的元件发生振动、 变形,使连接线发生位移,使指针发生抖动。 声波的干扰类似于机械振动,从效果上看,也可以列入 这一类。 抗机械干扰主要采用减震措施,如减震弹簧、减震橡皮 垫等。 2、热干扰: 工作时,检测系统产生的热量所引起温度波动和环境温 度的变化等引起检测电路元器件参数发生变化,或产生附 加的热电动势等。 抗热干扰主要采用: )采用热屏蔽,如将关键元器件用导热良好的金属屏 蔽罩包围起来。 2)采用恒温措施,如将基准稳压管(与精度密切相关 的器件)置于恒温槽中
1、机械干扰: 是由于机械振动或冲击，使检测装置中的元件发生振动、 变形，使连接线发生位移，使指针发生抖动。 声波的干扰类似于机械振动，从效果上看，也可以列入 这一类。 抗机械干扰主要采用减震措施，如减震弹簧、减震橡皮 垫等。 2、热干扰: 工作时，检测系统产生的热量所引起温度波动和环境温 度的变化等引起检测电路元器件参数发生变化，或产生附 加的热电动势等。 抗热干扰主要采用： 1）采用热屏蔽，如将关键元器件用导热良好的金属屏 蔽罩包围起来。 2）采用恒温措施，如将基准稳压管（与精度密切相关 的器件）置于恒温槽中
3)电路采用对称平衡结构,如差动放大电路、桥式电路等。 4)采用温度补偿元件,如温补电阻 3、光干扰 检测系统广泛采用半导体元器件,半导体材料在光线的 作用下会激发出电子空穴对,使半导体元器件产生电势或 引起阻值的变化。 抗光干扰主要采用光屏蔽,如将对光敏感的半导体元器 件用不透光的屏蔽罩包围起来。 4、湿度变化干扰: 湿度增加会使元件的绝缘电阻下降,漏电流增加,高值 电阻阻值下降,电介质的介电常数增加,吸潮的线圈骨架 膨胀等等。 抗湿度干扰主要采用密封防潮措施,如将电气元件印刷 电路板浸漆、环氧树脂封灌和硅橡胶封灌等
3）电路采用对称平衡结构，如差动放大电路、桥式电路等。 4）采用温度补偿元件，如温补电阻。 3、光干扰: 检测系统广泛采用半导体元器件，半导体材料在光线的 作用下会激发出电子空穴对，使半导体元器件产生电势或 引起阻值的变化。 抗光干扰主要采用光屏蔽，如将对光敏感的半导体元器 件用不透光的屏蔽罩包围起来。 4、湿度变化干扰: 湿度增加会使元件的绝缘电阻下降，漏电流增加，高值 电阻阻值下降，电介质的介电常数增加，吸潮的线圈骨架 膨胀等等。 抗湿度干扰主要采用密封防潮措施，如将电气元件印刷 电路板浸漆、环氧树脂封灌和硅橡胶封灌等
5、化学干扰 如酸碱盐及腐蚀性气体会通过化学腐蚀作用损坏检测位 抗化学干扰主要采用良好的密封和注意清洁。 6、电磁干扰: 电和磁可以通过电路和磁路对检测系统产生干扰作用。 电场和磁场的变化也会在有关电路中感应出干扰电压。 电磁干扰对于检测系统来说是最为普遍和影响最严重的 干扰。有关抑制电磁干扰的方法下面将进一步讨论。 7、射线辐射干扰: 射线会使气体电离,半导体激发电子空穴对和金属逸出 电子等。 因此,用于原子能、核装置等领域的检测系统尤其要注 意射线辐射干扰
5、化学干扰: 如酸碱盐及腐蚀性气体会通过化学腐蚀作用损坏检测位 置。 抗化学干扰主要采用良好的密封和注意清洁。 6、电磁干扰: 电和磁可以通过电路和磁路对检测系统产生干扰作用。 电场和磁场的变化也会在有关电路中感应出干扰电压。 电磁干扰对于检测系统来说是最为普遍和影响最严重的 干扰。有关抑制电磁干扰的方法下面将进一步讨论。 7、射线辐射干扰: 射线会使气体电离，半导体激发电子空穴对和金属逸出 电子等。 因此，用于原子能、核装置等领域的检测系统尤其要注 意射线辐射干扰