 SoC设计的基本概念  IEEE P1500协议  SoC的DFT策略的探讨

① 概述 ② 存储器模型 ③ 失效机制和故障模型 ④ 存储器的测试算法

 IDDQ的定义  IDDQ测试原理  IDDQ可检测的故障

 掌握组合电路的测试生成  代数法 异或法 布尔差分法  算法D算法 PODEM算法 FAN算法 其他  时序电路的测试生成  可测性方法（不具体要求）

 了解验证、 模拟和仿真的含义  理解验证、 模拟和仿真的异同  学会建立test bench  掌握功能模拟的常用方法  掌握故障模拟的常用方法

2.1 设计、验证和测试 2.2 缺陷、失效和故障 2.3 故障及故障检测 2.5 故障的等效/支配/冗余

电子科技大学：《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源（课件讲稿）第1章 概述——测试的基本知识

电子科技大学：《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源（课件讲稿）第1章 概述——研究意义（王忆文）

电子科技大学：《DSP算法实现技术与架构 VLSI Digital Signal Processing Systems Design and Implementation》课程教学资源（课件讲稿）Chapter 15 数字强度缩减 Numerical Strength Reduction

14.1 Redundant and non redundant 14.2 Redundant number representations 14.3 Carry-free Radix-2 Addition and subtraction