三、颗粒大小/粒径测定测定(颗粒)粒径的方法很多，但是可以说，显微镜测定法是其他测定方法的标准。显微镜法是直接用眼睛观察，既能测定粒径，又能观测颗粒形状、分布、以及区分物相，而且能直接测定试样薄片中物相的粒径及分布
三、颗粒大小 / 粒径测定 l 测定(颗粒)粒径的方法很多，但是可以 说，显微镜测定法是其他测定方法的标 准。 l 显微镜法是直接用眼睛观察，既能测定 粒径，又能观测颗粒形状、分布、以及 区分物相，而且能直接测定试样薄片中 物相的粒径及分布。 S D U T
颗粒经测定法及大致的测定范围.表2-6粒径测定法范方因（微米）根据高板根据舒东兹根据水渡1.崎分法>40~401)干法>60-2)湿法<402.豆微稳法11)光学显微镜法0.2~1001~1000.5~5002）电子显微镜法0.01~50.002~50.001103.沉降法1~1000.5~5001)安德列吸管法1~502）例管压差法1~150.3)沉降天平法3~504离心天乎法0.05~~100.05~50.01~55)超速商心机法0.005~0.16)Nz气自然沉降法1~507)气流沉降法1~404.风筛法15~402~601~1005.水凝法5~405~1006.流体透过法0.01~500.5~1007.吸附法0.01~200.001~108.光透过法0.2 ~1000.5~1009.光浓射法0.05~100.001~1010.X一射线透射法0.2~50<0.030.001~0.0511.其他测定法1）科尔特计数器法0.25~6000.5~1000.5~5002）全息图法3~703水银压力让法0.0075--7.576
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显微镜法的优点是：1、测定操作比较简单2、需要试样少；3、容易区分混入杂质及其他物象；4.可用照相记录；5、可靠性高。缺点是：粒径分布范围很宽时，需要测定一万个以上的颗粒；粒径分布范围较窄时，需要测定1～2干个颗粒，而且必须注意取样的代表性及颗粒的分散程度
l 显微镜法的优点是： 1、测定操作比较简单; 2、需要试样少； 3、容易区分混入杂质及其他物象； 4、可用照相记录； 5、可靠性高。 l 缺点是: 粒径分布范围很宽时，需要测定一万个以上 的颗粒；粒径分布范围较窄时，需要测定1~2 千个颗粒，而且必须注意取样的代表性及颗粒 的分散程度。S D U T
几种常用显微镜测定粒径的方法（一）自镜测微尺直接测定法对于材料试样薄片中的矿物粒径、气孔孔径裂隙的宽度和长度、晶界宽度，以及陶瓷原料粉体试样中的微粉粒径等，均可在透光显微镜下用目镜测微尺直接测定。自镜测微尺是装在目镜中具有刻度的圆形玻璃片，刻度尺总长1厘米，分划为100等分，每一等分的刻度值随使用物镜的倍率而改变
l 几种常用显微镜测定粒径的方法 l （一） 目镜测微尺直接测定法 对于材料试样薄片中的矿物粒径、气孔孔径、 裂隙的宽度和长度、晶界宽度，以及陶瓷原料粉 体试样中的微粉粒径等，均可在透光显微镜下用 目镜测微尺直接测定。 目镜测微尺是装在目镜中具有刻度的圆形玻璃 片，刻度尺总长1厘米，分划为100等分，每一等 分的刻度值随使用物镜的倍率而改变。 S D U T
，自镜测微尺每一小格代表的实际数值是在一定倍率的物镜下，用载物台测微尺来测定和度量。载物台测微尺是装在一个长条状的玻璃片中取1毫米长度刻划为100等分，每一等分为0.01毫米。度量目镜测微尺刻度值的步骤是：首先把载物台测微尺放在载物台上，在一定倍率的物镜下准焦，并使载物台测微尺刻度线的一端与自镜测微尺刻度线的同一端对齐，然后观察两个微尺的另一端刻度线对齐的位置
l 目镜测微尺每一小格代表的实际数值是在一 定倍率的物镜下，用载物台测微尺来测定和 度量。载物台测微尺是装在一个长条状的玻 璃片中取1毫米长度刻划为100等分，每一 等分为0.01毫米。度量目镜测微尺刻度值的 步骤是：首先把载物台测微尺放在载物台上， 在一定倍率的物镜下准焦，并使载物台测微 尺刻度线的一端与目镜测微尺刻度线的同一 端对齐，然后观察两个微尺的另一端刻度线 对齐的位置S D U T